您的位置: 专家智库 > >

周钧铭

作品数:19 被引量:42H指数:3
供职机构:中国科学院物理研究所更多>>
发文基金:国家自然科学基金国家高技术研究发展计划国防科技技术预先研究基金更多>>
相关领域:电子电信理学更多>>

文献类型

  • 19篇中文期刊文章

领域

  • 15篇电子电信
  • 5篇理学

主题

  • 7篇多量子阱
  • 5篇半导体
  • 4篇应变层
  • 4篇INGAAS...
  • 3篇调制
  • 3篇光调制
  • 3篇INGAAS
  • 2篇电吸收
  • 2篇电吸收光调制...
  • 2篇调制器
  • 2篇衍射
  • 2篇锗化硅
  • 2篇射线衍射
  • 2篇双晶衍射
  • 2篇晶格
  • 2篇焦平面
  • 2篇光调制器
  • 2篇红外
  • 2篇红外焦平面
  • 2篇SIGE/S...

机构

  • 19篇中国科学院
  • 3篇清华大学
  • 1篇北京师范大学
  • 1篇南开大学
  • 1篇北京工业大学
  • 1篇中国科学院微...

作者

  • 19篇周钧铭
  • 11篇黄绮
  • 3篇李德杰
  • 3篇麦振洪
  • 3篇沈学础
  • 2篇江潮
  • 2篇谢小刚
  • 2篇俞谦
  • 2篇崔堑
  • 2篇李宁
  • 2篇陆卫
  • 2篇王健华
  • 2篇王玉田
  • 2篇王超英
  • 2篇蔡丽红
  • 2篇杨国桢
  • 2篇陈正豪
  • 2篇江德生
  • 2篇王若桢
  • 2篇吴兰生

传媒

  • 6篇Journa...
  • 2篇科学通报
  • 2篇物理学报
  • 2篇中国科学(A...
  • 2篇红外与毫米波...
  • 2篇发光学报
  • 1篇半导体技术
  • 1篇高技术通讯
  • 1篇电子器件

年份

  • 1篇2005
  • 1篇1999
  • 3篇1998
  • 2篇1997
  • 4篇1996
  • 3篇1994
  • 1篇1993
  • 2篇1992
  • 2篇1990
19 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
采用PECVD方法制作SiO2绝缘层的AlGaN/GaNMOS-HFET器件被引量:1
2005年
为了进一步减小栅漏电,提高击穿电压,将MOS结构的优点引入ALGaN/GaNHEMT器件中,研制并分析了新型的基于AlGaN/GaN的MOS-HFET结构。采用等离子增强气相化学沉积(PECVD)的方法生长了50nm的SiO2作为栅绝缘层,新型的AlGaN/GaNMOS-HFET器件栅长1μm,栅宽80μm,测得最大饱和输出电流为784mA/mm,最大跨导为44.25ms/mm,最高栅偏压+6V。
陈晓娟刘新宇和致经刘键邵刚魏珂吴德馨王晓亮周钧铭陈宏
关键词:ALGANGANSIO2
光栅耦合波导模共振实现GaAs/GaAlAs多量子阱室温反射型光学双稳
1990年
一、概述 多量子阱(MQW)及超晶格(SL)等人工材料的问世使半导体非线性光学效应从低温扩展到了室温,为高速度、低阈值及室温工作的光学逻辑元件提供了可能。 对于GaAs/GaAlAs MQW及SL材料,其室温三阶非线性系数X_csu^(3)约为6×10^(-2),比CS_2大10~9倍,比Si大10~4倍,预示着它具有很低的本征光学双稳(OB)阈值.80年代初,Gibbs等人利用这种材料制成超薄的F-P光学腔,在室温首次观测到OB,其开阈~1mW/
谢苑林陈正豪周钧铭黄绮周岳亮杨国桢顾世杰
关键词:光学双稳光栅多量子阱
锗硅量子阱中近带边光跃迁的理论和实验研究被引量:1
1996年
本文研究了SiGe/Si量子阱中近带边光跃迁的产生机制,对由杂质无规分布引起的近带边光跃迁给出了一个物理模型。用此模型计算了光跃迁偶极矩,给出了跃迁偶极矩的上限。提出了未掺杂SiGe/Si量子阱中近带边光跃迁的一种跃迁机制,认为是Ge原子周围波函数畸变的集体行为。用MBE方法生长了掺杂SiGe/Si量子阱材料,在低温下观测到近带边光跃迁。
董文甫王启明杨沁清谢小刚周钧铭黄绮
关键词:SIGE/SI光跃迁
InGaAs/InAlAs/InP异质结结构的X射线双晶衍射研究
1992年
Al_xGa_(1-x)As/GaAs材料在高电子迁移率晶体管(HEMT)的应用上已经显示出很好的高频特性。然而,这一系统小导带不连续性(当x=0.3时,△E_c=0.24eV)及较低的二维载流子浓度及饱和速度等因素限制了截止频率的进一步提高和器件应用。而与InP匹配的In_(0.52)Al_(0.48)As/In_(0.53)Ga_(0.47)As异质结体系,消除了AlGaAs层,避免了低温持续光电导。
王超英吴兰生江潮麦振洪黄绮周钧铭
关键词:半导体异质结X射线衍射
InGaAs/GaAs应变层短周期超晶格的Wannier-Stark效应
1993年
本文利用光电流谱方法研究了10—300K温度范围内In_(0.2)Ga_(0.8)As/GaAs应变层短周期超晶格的Wannier-Stark效应,在室温及低温下均观察到明显的吸收边场致“蓝移”现象,并对Stark-ladder激子跃迁的能量位置及振子强度随电场的变化给予详细讨论。实验结果表明,利用In_(0.2)Ga_(0.8)As/GaAs应变层超晶格的Wannier-Stark效应可以制作0.98μm波长范围的电光调制器和自电光双稳器件。
刘伟张耀辉江德生王若桢周钧铭梅笑冰
关键词:化合物半导体应变层超晶格
64×64元GaAs/AlGaAs多量子阱长波红外焦平面研制被引量:17
1999年
报道了64×64 元GaAs/AlGaAs 多量子阱凝视型红外焦平面的研制,器件的平均响应率为RP= 7.24×105V/W,器件的平均黑体探测率为Db = 5.40×108cm ·Hz1/2/W ,峰值波长为λP= 8.2μm ,不均匀性小于20% 。
李宁李娜陆卫沈学础陈伯良梁平治丁瑞军黄绮周钧铭金莉李宏伟
关键词:多量子阱凝视型红外焦平面长波
应变层In_xGa_(1-x)As/GaAs量子阱的光调制反射谱研究被引量:3
1992年
用光调制反射谱(PR)测量了三块应变层 In_xGa_(1-x)As/GaAs 量子阱多重结构样品,每块样品中包含宽度为140、80、50、30和20A的量子阱.在300K和77K的PR谱中观察到各个量子阱的11H和11L光跃迁.根据PR数据用包络函数法进行分析,估算了量子阱中In的成分.在解释300K和77K实验结果时考虑了流体静压形变势常数的温度依赖性.实验和理论最佳符合时求得导带边不连续性在300K为0.7,77K为0.66.
潘士宏刘毅张存洲张光寅冯巍周钧铭
关键词:应变层光调制反射谱
InGaAs/InAlAs多量子阱电吸收光调制器被引量:4
1998年
用国产MBE设备生长出与InP衬底晶格匹配的InGaAs/InAlAs多量子阱材料,并对材料的量子限制Stark效应及其与光偏振方向有关的各向异性电吸收特性进行研究.用该种材料制作的脊波导结构电吸收调制器在2.4V驱动电压下实现了20dB以上消光比。
王健华金峰俞谦孙可李德杰蔡丽红黄绮周钧铭王玉田庄岩
关键词:多量子阱电吸收光调制器半导体材料光纤通信
应变层多量子阱InGaAs—GaAs的光电流谱研究被引量:2
1990年
在10—300K温度范围,用光电流谱方法研究了未掺杂的x为0.1、0.15和0.2,InGaAs层厚度为8和15nm的In_xGa_(1-x)As—GaAs应变层多量子阱的能带结构。在1.240—1.550eV光子能量范围,除11H、11L和22H激子跃迁以及GaAs的基本带间跃迁外,还观察到束缚子带到连续带的跃迁。对样品In_(0.15)Ga_(0.85)As(8nm)-GaAs(15nm),观察到11H重空穴激子的2s及其它激发态跃迁,由此得到激子结合能的近似值,约为8meV。重空穴能带台阶Q_v=0.40±0.02。应变效应使得电子和重空穴束缚在InGaAs层,而轻空穴束缚在GaAs层。
方晓明沈学础侯宏启冯巍周钧铭
关键词:INGAAS-GAAS应变层
InGaAs/InAlAs多量子阱电吸收光调制器被引量:1
1997年
在国内首次设计并制作了脊波导结构的In(0.53)Ga(0.47)As/In(0.52)Al(0.48)AS多量子阱电吸收型光调制器,并对它的工作特性进行了测试。在3.0V的驱动电压下实现了20dB以上的消光比,光3dB带宽达到了3GHz。对限制光调制器带宽的主要原因进行了分析,结果表明器件电容限制了带宽的提高,这主要是由于SiO2刻蚀液的钻蚀导致SiO2绝缘层厚度减小造成的。改进制作工艺可望大大改善调制器的工作带宽。
金峰孙可俞谦王健华李德杰蔡丽红黄绮周钧铭
关键词:光调制器电吸收多量子阱INGAAS/INALAS
共2页<12>
聚类工具0