李春东
- 作品数：21 被引量：55H指数：5
- 供职机构：哈尔滨工业大学材料科学与工程学院空间环境材料行为及评价技术国防科技重点实验室更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金国家重点基础研究发展计划北京市科技新星计划更多>>
- 相关领域：一般工业技术航空宇航科学技术理学机械工程更多>>
- 电子与质子综合辐照下ZnO白漆的光学性能退化研究被引量：3
- 2010年
- 为研究电子与质子综合辐照中电子与质子间的协合效应,在模拟的空间环境下对S781白漆分别进行了10keV电子辐照、70keV质子辐照、和10keV电子与70keV质子综合辐照试验。研究了辐照后S781白漆光谱反射系数和太阳吸收比的变化,计算了综合辐照效应的相加性系数。结果表明,10keV电子与70keV质子在S781白漆中的平均投影射程相近,辐照损伤机理相似,综合辐照存在协合效应,协合效应减弱光学性能退化。
- 王旭东李春东何世禹杨德庄顾鹏飞
- 关键词：电子辐照质子辐照
- 90keV电子辐照对Kapton H薄膜化学结构的影响被引量：2
- 2009年
- 文章研究了能量为90keV的电子辐照对Kapton H薄膜化学结构的影响。XPS分析表明,低能电子辐照导致Kapton H薄膜分子结构中C—N和C—O键的断裂,以及C=O键的断裂和重组,并且有部分键断裂后交联。随着辐照剂量及辐照能量的增加,材料中的C—N、C=O键含量减少,形成表面碳富集。辐照使柔性结构C—O键被破坏,产生的交联及以苯环为主的三维立体网状结构使其表面硬度增加。
- 李春东施飞舟杨德庄何世禹
- 关键词：电子辐照KAPTONHXPS分析化学结构
- 质子辐照ZnO白漆光学退化的慢正电子湮没分析(英文)
- 2009年
- 采用慢正电子湮没光谱研究低能质子辐照下ZnO白漆的光学退化。研究结果表明,随质子辐照注量的增加,多普勒展宽谱的S参数逐渐减小,W参数逐渐增大。质子辐照下S-W参数拟合曲线的斜率发生改变。S参数的减小可以归结为锌空位含量的减少以及准正电子素的形成。准正电子素{单电离氧空位(捕获一个电子)+正电子}的形成,能够降低正电子湮没的速率,导致S参数减小。S参数的减小证实了质子辐照导致ZnO白漆中单电离氧空位数量的增加。S-W参数拟合曲线斜率的变化可以归结于质子辐照下双电离氧空位向单电离氧空位的转变。
- 肖海英李春东贾近叶邦角杨德庄何世禹
- 关键词：质子
- 热控涂层性能退化模型与模型参数求解被引量：2
- 2008年
- 针对航天器热控涂层性能的退化规律,提出了类指数模型、指数-指数组合模型,并应用LM(阻尼最小二乘法)算法给出了模型参数的求解方法.利用美国Teflon型涂层地面模拟试验数据进行模型参数求解,并应用得到的模型进行预测外推,将各模型对应的预测结果以及国际上常用的简单指数模型对应的预测结果和美国9年时间跨度的试验数据进行了比较.比较结果表明,提出的模型和给出的方法对于航天器热控涂层性能退化预测是有效的和可行的,并且预测结果优于已有的简单指数模型.
- 匡正苏艳梅杨德庄李春东
- 关键词：热控涂层
- 电子辐照能量对Kapton/Al热控涂层光学性能的影响被引量：12
- 2003年
- 研究了电子辐照时,电子能量与累积通量对Kapton/Al热控涂层光学性能的影响。采用原位测量的手段记录了辐照前后的光谱反射系数。试验结果表明,电子辐照后Kapton/Al热控涂层的反射性能,在太阳光谱辐射强度较大的300～1200nm波长区间产生较大程度退化。在电子辐照作用下,作为离子导电型聚合物的Kapton薄膜表面没有发现辐照充电效应。辐照后涂层材料存在"退火效应",或称"漂白效应"。Kapton/Al涂层太阳吸收比的变化量与电子辐照累积通量的变化关系成幂函数形式,其系数与指数的极大值与极小值分别出现在电子能量为50keV附近。在辐照累积通量相同时,该变化量随辐照电子能量的提高而增大。
- 李春东杨德庄何世禹M.M.Mikhailov
- 关键词：热控涂层电子辐照光学性能空间环境
- 质子辐照Kapton/Al的蒙特卡罗模拟被引量：4
- 2007年
- 采用蒙特卡罗方法（MC方法），模拟了质子辐照时质子的能量损失、射程、射程偏离及其产生的空位缺陷和电离能损分布。模拟结果表明：入射能量在10～300keV区间，Kapton／Al对入射质子的阻止本领主要取决于电子阻止本领，在80keV出现峰值，可作为地面模拟试验能量选取的参考；质子在Kapton／Al中的射程分布可近似看作高斯分布，质子射程及其偏离随能量增加而增加；位移缺陷和电离作用是两个相对的过程，低能时主要表现为位移缺陷，高能时表现为电离作用。
- 李瑞琦李春东何世禹杨德庄
- 关键词：质子辐照蒙特卡罗能量损失射程
- 低能质子辐照对ZnO白漆光学性能退化的影响被引量：2
- 2008年
- 通过光致荧光光谱解谱和X射线光电子能谱(XPS)分析,研究了ZnO白漆经受能量低于200keV低能质子辐照过程中氧空位缺陷的形成与演化过程。XPS解析表明质子辐照后晶格氧减少,光致荧光光谱解析表明锌空位减少,说明ZnO白漆中氧空位数量增加,且双电离氧空位能够捕获价带中的电子转变为单电离氧空位,使单电离氧空位逐渐成为辐照产生的主要缺陷。质子辐照使ZnO白漆中氧空位数量增加,而氧空位易捕获电子形成色心,从而导致光学性能下降。
- 肖海英李春东杨德庄李质磊何世禹
- 关键词：质子辐照氧空位色心
- S781白漆低能质子辐照损伤的模拟研究被引量：4
- 2010年
- 文章为研究低能质子与S781白漆的微观交互作用,利用SRIM-2003软件模拟了10～150 keV质子辐照S781白漆过程,计算了S781白漆及其ZnO颜料、粘结剂组分的核阻止本领、电子阻止本领、电离损失、位移损失以及质子的射程。结果表明,S781白漆的电子阻止本领远大于核阻止本领,辐照损伤以电离效应为主,电离损失主要发生在ZnO颜料上。
- 王旭东程远李春东何世禹杨德庄顾鹏飞
- 关键词：质子辐照能量损失电离
- 低能质子辐照ZnO/silicone白漆产生微观损伤的红外光谱研究被引量：3
- 2008年
- 通过空间综合辐照模拟设备对能量小于200 keV质子辐照下ZnO/silicone白漆光学性能变化及损伤机理进行研究。结果表明,ZnO/silicone白漆的光学性能退化主要发生在可见光区,太阳吸收比随质子辐照能量、注量的增加而增大。借助傅里叶变换红外光谱分析技术研究了质子辐照ZnO/silicone白漆时有机硅树脂的光学性能退化机理。质子辐照使ZnO/silicone白漆中游离氧含量增加,氧化硅原子上的有机取代基使Si—C链断裂,并生成活性羟基,而这种活性羟基能促使有机硅树脂内Si—O—Si键的裂解。同时Si—O—Si链内氧原子未成键的孤对电子与邻近硅原子的3d空轨道配位,降低了π*轨道的能量,提高了对光吸收的几率,增强了n→π*电子跃迁,使吸收带红移,从而导致ZnO/silicone白漆光学性能退化。
- 肖海英李春东杨德庄何世禹
- 关键词：质子辐照红外光谱
- 两种确定热控涂层性能退化模型参数的组合优化算法被引量：1
- 2011年
- 针对航天器热控涂层性能退化预测问题，提出了自适应模拟退火回火算法和自适应综合遗传算法。利用美国Tenflon型涂层材料短时间地面模拟实验数据对上述两种算法进行了模型参数求解。并将所得预测曲线与美国9年时间跨度的Teflon型涂层材料地面模拟实验数据进行比较，比较结果表明了模拟退火回火算法以及自适应综合遗传算法对解决航天器热控涂层性能退化预测问题是可行的和有效的。
- 匡正苏艳梅杨德庄李春东
- 关键词：热控涂层模拟退火算法遗传算法
