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李开成

作品数:12 被引量:27H指数:3
供职机构:中国电子科技集团第二十四研究所更多>>
发文基金:国家部委预研基金模拟集成电路国家重点实验室开放基金国防科技技术预先研究基金更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 12篇中文期刊文章

领域

  • 12篇电子电信

主题

  • 5篇异质结
  • 5篇晶体管
  • 4篇双极晶体管
  • 3篇异质结双极晶...
  • 3篇分子束
  • 3篇分子束外延
  • 3篇SIGE_H...
  • 3篇SIGE
  • 2篇电路
  • 2篇自对准
  • 2篇集成电路
  • 2篇HBT
  • 1篇低噪
  • 1篇低噪声
  • 1篇低噪声放大器
  • 1篇异质结场效应...
  • 1篇应变SI
  • 1篇锗硅
  • 1篇锗硅异质结双...
  • 1篇振荡频率

机构

  • 8篇中国电子科技...
  • 6篇中国电子科技...
  • 3篇西安电子科技...
  • 2篇中国电子科技...
  • 1篇电子科技大学
  • 1篇重庆大学
  • 1篇中国电子科技...

作者

  • 12篇李开成
  • 8篇刘道广
  • 7篇张静
  • 4篇谭开洲
  • 3篇徐世六
  • 3篇刘伦才
  • 2篇张晓菊
  • 2篇张正璠
  • 2篇李培咸
  • 2篇胡辉勇
  • 2篇徐婉静
  • 2篇郝跃
  • 2篇刘嵘侃
  • 1篇徐学良
  • 1篇江军
  • 1篇胡刚毅
  • 1篇郭林
  • 1篇于奇
  • 1篇杨沛锋
  • 1篇黄文刚

传媒

  • 6篇微电子学
  • 4篇Journa...
  • 2篇西安电子科技...

年份

  • 3篇2006
  • 2篇2005
  • 2篇2004
  • 1篇2002
  • 1篇2001
  • 3篇2000
12 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
SiGe/Si异质结双极晶体管研究被引量:8
2000年
介绍了一种 Si Ge/Si分子束外延异质结双极晶体管 ( HBT)的研制。该器件采用 3μm工艺制作 ,测量得其电流放大系数β为 50 ,截止效率 f T 为 5.1 GHz,表明器件的直流特性和交流特性良好。器件的单片成品率在 90 %以上。
李开成刘道广张静易强
关键词:分子束外延异质结双极晶体管
基于自对准和空气桥工艺的SiGe HBT研究被引量:3
2005年
采用基区及发射区自对准和空气桥技术,降低了SiGe异质结晶体管器件的基极电阻及集电极和基极之间的结电容,提高了SiGe异质结晶体管器件的最高振荡频率fmax.以分子束外延SiGe材料为基础,研制出了SiGe异质结晶体管器件,取得了fmax为124.2GHz的结果.
刘道广郝跃徐世六李开成刘玉奎刘嵘侃张静胡辉勇李培咸张晓菊徐学良
关键词:自对准最高振荡频率
基于干/湿法腐蚀的自对准SiGe HBT器件
2005年
采用干 /湿法腐蚀相结合技术 ,利用氢氧化钾 (KOH)溶液和六氟化硫 (SF6)对Si及SiGe材料进行腐蚀 ,研究自对准Si/SiGeHBT台面器件 ,获得了fT=4 0GHz ,fmax=12 7
刘道广郝跃徐世六李开成李培咸张晓菊张金凤郑雪峰张静刘嵘侃刘伦才
关键词:自对准SIGE材料
Optimization Design and Fabrication of Si/SiGe PMOSFETs被引量:1
2001年
Through the theoretical analysis and computer simulation,the optimized design principles for Si/SiGe PMOSFETs are given,including the choice of gate materials,the determination of Ge percentage and the profile in SiGe channel,the thickness optimization of dioxide and silicon cap layer,and the adjustment of threshold voltage.In light of them,a SiGe PMOSFET is designed and fabricated successfully.The measurements indicate that the transconductance is 45mS/mm (300K) and 92mS/mm (77K) for SiGe PMOSFET's (L=2μm),while it is 33mS/mm (300K) and 39mS/mm (77K) for Si PMOSFET.
杨沛锋李竞春于奇陈勇谢孟贤杨谟华何林李开成谭开洲刘道广张静易强凡则锐
关键词:SIGEMOSFETOPTIMIZATION
一种硅光电接收处理集成电路的技术研究被引量:2
2006年
介绍了一种在硅衬底上集成光电二极管探测器和双极接收放大处理电路的单芯片光电集成电路OEIC。从理论上阐述了光电器件实现的原理;为实现光电探测二极管与单片双极集成电路的兼容,设计了光电探测器的专用结构,并研制了光电探测器的专用模型。对接收处理电路进行了模拟仿真和优化设计。建立了与双极工艺兼容的制作光电二极管探测器的专用工艺;采用该工艺,对光电器件进行了版图设计、工艺制作和测试研究,给出了初步试验的方法和结果。
杨卫东张正璠李开成欧红旗黄文刚
关键词:光电二极管光电探测器双极集成电路
Poly-Silicon Micromachined Switch被引量:3
2002年
By using LPCVD SiO 2 and poly silicon as sacrificial layer and cantilever respectively,a poly silicon micromachined RF MEMS(radio frequency microelectronic mechanical system) switch is fabricated.During the fabrication process,the stress of poly silicon is released to prevent poly silicon membrane from bending,and the issue of compatibility between RF switch and IC process technology is also resolved.The low residual tensile stress poly silicon cantilever is obtained by the optimization.The switch is tested,and the preliminary test results show:the pull down voltage is 89V,and the switch speed is about 5μs.The switch provides the potential to build a new fully monolithic integrated RF MEMS for radar and communications applications.
张正元温志渝徐世六张正番李开成黄尚廉
关键词:CANTILEVER
用于HBT的SiGe合金材料层的腐蚀工艺研究被引量:2
2000年
探索利用反应离子刻蚀 ( RIE)和湿法腐蚀 Si1-x Gex 合金材料的工艺条件。对两种腐蚀方法的利弊进行了对比 ,找出腐蚀 Si1-x Gex 合金材料的实用化途径 ,并且解决了不同 Ge含量的 Si1-x Gex
欧益宏刘道广李开成
关键词:反应离子刻蚀异质结双极晶体管
一种基于MBE差分外延技术的SiGe低噪声放大器
2006年
采用MBE差分外延生长SiGe HBT基区,等平面隔离,多晶硅注入、快速退火形成发射区等工艺,实现了SiGe器件的平面集成。基于上述工艺技术研制的SiGe低噪声放大器(LNA),获得了1.7 GHz的带宽,23 dB的增益和3.5 dB的噪声系数。
张静李荣强刘伦才李开成刘道广徐婉静杨永晖蒲林谭开洲
关键词:分子束外延锗硅异质结双极晶体管低噪声放大器
SiGe HBT直流特性模型研究
2004年
在求解漂移扩散方程的基础上,建立了全面系统的SiGeHBT直流特性模型及物理意义清晰的各电流解析表达式.所建立的SiGeHBT直流特性的各电流模型均适应大注入及小注入情况.模拟分析了基区掺杂浓度及Ge组分对电流密度的影响,模拟结果表明,基区掺杂浓度的增加减小了集电极电流、增大了中性基区复合电流,从而降低了电流增益;而Ge组分越高,集电极电流密度就越大,从而提高了SiGeHBT的电流增益.模拟了基区发射结侧Ge组分及发射区掺杂浓度对基区空穴反注入电流密度的影响,结果表明,提高Ge组分能明显减小空穴反注入电流,获得更高的电流增益.
戴显英张鹤鸣胡辉勇吕懿王伟李开成
关键词:SIGEHBT
Si_(1-x)Ge_x/Si多层异质外延结构的研究被引量:6
2000年
对制作的 Si1-xGex/Si多层异质外延结构进行了研究。并对其做了反射高能电子衍射(RHEED)、X射线衍射(XRD)和扩展电阻(SR)等测量,给出了利用这种结构研制出的异质结双极晶体管(HBT)的输出特性曲线。
郭林李开成张静刘道广易强
关键词:异质结双极晶体管
共2页<12>
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