喻盛容
- 作品数：3 被引量：4H指数：1
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- 相关领域：理学金属学及工艺更多>>
- ICP-AES直接测定高纯富线基体中杂质的两种化学计量学方法研究
- 电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-AES)是测定高纯物中痕量金属元素的重要手段之一。如何校正来自于高纯基体,尤其是高纯富线元素基体的干扰,一直是ICP-AES在这一领域应用的关键技术问题。本文以ICP-AES直接测定铁...
- 喻盛容
- 关键词：电感耦合等离子体发射光谱法偏最小二乘法
- 文献传递
- 超纯氧化铁制备及其在电感耦合等离子体原子发射光谱法测定高纯铁化合物中杂质元素的应用研究被引量：1
- 2013年
- 用电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)准确测定高纯铁化合物中的痕量杂质元素,需要更高纯度的铁作为基体,以研究它对测定杂质元素的干扰。为此,以分析纯硫酸亚铁为原料制备了高纯氧化铁,制得的高纯氧化铁中杂质元素Al、Cd、Co、Cr、Cu、Mg、Mn、Ni和Zn等的含量低于方法检出限。用制备的高纯氧化铁作为标准系列溶液的基体,得到了基体匹配的标准系列溶液,用此标准系列溶液绘制的校准曲线测定了GBW01402d高纯铁标准物质中杂质元素的含量,其测定值与认定值一致。研究了用无基体匹配标准溶液测定高纯铁及铁化合物中Al、Cd、Co、Cr、Cu、Mg、Mn、Ni和Zn等杂质时的干扰校正方法,结果表明:Al、Co、Cr、Cu、Mg和Zn受到的光谱干扰仅需采用离峰法校正即可,而Cd、Mn和Ni受到的光谱干扰则必需采用多元光谱拟合法校正。用拟定的校正方法测定高纯铁化合物中的痕量杂质元素,准确度高的元素有Al、Cd、Cr和Cu,准确度稍差的元素有Co、Mg、Mn、Ni和Zn。
- 喻盛容王晓军覃文霞龚琦
- 关键词：高纯铁
- ICP-AES测定高浓度基体下杂质元素的偏最小二乘法研究被引量：1
- 2012年
- 建立了ICP-AES测定高浓度基体中微量杂质元素的偏最小二乘方法(PLS)。研究表明,PLS能有效校正高浓度基体干扰引起的测量误差,比多元光谱拟合法(MSF)能承受的基体浓度更高。当基体与杂质的含量比为1 000∶1～20 000∶1时,该方法的加标回收率在95%～105%之间。对于干扰效应与基体浓度呈非线性相关的体系,普通PLS的预测准确度不高,但使用基于样品浓度矩阵变换的偏最小二乘法(LIN-PPLS),则明显改善了预测的准确度。分别用MSF、普通PLS和LIN-PPLS对水系沉积物国家标准物质GBW07312中的Co,Pb和Ga进行测定,结果表明,LIN-PPLS的预测准确度优于普通PLS,而普通PLS的预测准确度优于MSF。
- 王衍鹏龚琦喻盛容刘幽燕
- 关键词：ICP-AES偏最小二乘法高浓度
