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黄燕

作品数：3 被引量：0H指数：0
供职机构：电子部更多>>

合作作者

文献类型

  • 3篇国内会议论文

主题

  • 3篇计算机
  • 3篇计算机模拟
  • 2篇双极器件
  • 2篇中子
  • 2篇脉冲
  • 2篇脉冲作用
  • 1篇电流
  • 1篇研究方法
  • 1篇双极型
  • 1篇双极型器件
  • 1篇计算机模拟研...
  • 1篇工作电流

机构

  • 3篇电子部

作者

  • 3篇肖鹏
  • 3篇夏培邦
  • 3篇黄燕

传媒

  • 3篇第六届全国抗...

年份

  • 3篇1999
共 3 条 记 录，以下是 1-3
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排序方式：
中子脉冲作用下双极器件的损坏及模拟研究
子脉冲辐射将在双极器件中导入Frankel缺陷，这严重地降低了双极IC的性能，但这些缺陷的一部分能很快自动消除，从而又使器件性能部分恢复，这主要表现为器件的β陡然降低，然后再呈指数形缓慢回升，最后达到一稳定降低点。这个过...
黄燕肖鹏夏培邦
关键词：计算机模拟
中子辐射下双极IC不同工作电流时放大性能变化的计算机模拟研究方法
周知，晶体管中子损伤常数随发射极电流密度的变化而变化。而双极IC中的每只昌体管爱中子辐射时电流的大小一般而言不能事先估计，从而使得中子损伤常数也是一未知数。如果能找出一种方法，由辐射下的瞬时电流即时地计算出相应的损伤常数...
肖鹏黄燕夏培邦
中子脉冲作用下双极器件的损坏及计算机模拟研究
子脉冲辐射将在双极器件中导入Frandel缺陷，这严重地降低了双极IC的性能，但这些缺陷的一部分能很快自动消除，从而又使器件性能部分恢复，这主要表现为器件的β陡然降低，然后再呈指数形缓慢回升，最后达到一稳定降低点。这个过...
黄燕夏培邦肖鹏
关键词：计算机模拟双极型器件
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