高波
- 作品数：28 被引量：19H指数：3
- 供职机构：中国工程物理研究院激光聚变研究中心更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金国家科技重大专项中国工程物理研究院科技基金更多>>
- 相关领域：机械工程理学电子电信更多>>
- 一种精确测定单层化学膜折射率变化值的装置及方法
- 本发明涉及一种精确测定单层化学膜折射率变化值的装置及方法，属于高功率激光技术领域，该装置包括脉冲激光器、第一光电管、取样镜、石英棱镜、单层化学膜和第二光电管，所述石英棱镜为等边三棱镜，所述单层化学膜涂覆在石英棱镜的一个面...
- 王方郑天然李强高波严鸿维晏良宏胡东霞周丽丹朱启华
- 一种基于离散小波变换的光学平板波前的降噪方法和装置
- 本发明公开了一种基于离散小波变换的光学平板波前的降噪方法和装置，所述方法包括对含噪波前位相W<Sub>o</Sub>进行预处理，得到扩展矩阵W；对扩展矩阵W进行二维离散小波分解，得到系数向量C<Sub>o</Sub>；基...
- 徐凯源柴立群刘昂何宇航陈宁李强高波魏小红万道明
- 文献传递
- KDP/DKDP倍频晶体主截面定位方法
- 2019年
- KDP/DKDP倍频晶体是惯性约束聚变系统中的关键元件,其主截面方向与晶体相位匹配角、晶体吸收系数紧密相关。为了实现KDP/DKDP倍频晶体主截面方向的高精度定位,本文提出一种光强测量间接定位方法。通过激光器结合稳功率仪及半波片输出稳定线偏振光,同时旋转相互正交的起偏器与检偏器可获得晶体的最佳消光位置即为主截面方向。推导了该测量系统光强的琼斯矩阵模型,给出了光强与起偏器、检偏器角度间的关系表达式。采用最小二乘方法拟合经过起偏器、倍频晶体及检偏器的光强变化曲线,从而可精确定位倍频晶体主截面的方向。通过计算机仿真模拟和实验验证了该方法的正确性和可行性。实验表明,该方法定位的重复测量精度优于0.02°,满足惯性约束聚变系统中KDP/DKDP倍频晶体主截面的定位控制精度要求。
- 高波阴万宏李强姜昌录杨斌柴立群
- 关键词：倍频晶体琼斯矩阵最小二乘拟合
- 大口径平板元件高透反射率及不均匀性测量装置及方法
- 本发明公开了一种大口径平板元件高透反射率及不均匀性测量装置及方法，属于光学测量领域中的大口径光学元器件的测量，其目的在于解决现有技术中大口径平板元件的高透反射率以及不均匀性测量误差较大的技术问题。其将用于大口径待测高透射...
- 高波刘昂李强何宇航万道明徐凯源王凤蕊魏小红陈宁
- 一种基于短相干的光学平板玻璃折射率测量系统及方法
- 本发明公开了一种基于短相干的光学平板玻璃折射率测量系统及方法，该系统包括迈克尔逊干涉仪，由短相干光源、分光棱镜、参考反射镜、和半透半反镜组成迈克耳逊干涉光路，利用迈克耳逊干涉光路等臂原理,参考反射镜可前后移动从而匹配半透...
- 高波柴立群李强刘昂何宇航魏小红徐凯源
- 文献传递
- 基于计算全息元件的大口径非球面透镜透射波前检测方法被引量：12
- 2019年
- 针对大口径非球面透镜透射波前检测,提出了采用计算全息元件(CGH)作为光路相位补偿元件进行检测的方法。大口径非球面透镜透射波前通常采用球面干涉仪进行检测,为了达到零位检测的目的,在光路中往往需要加入相位补偿元件以补偿高阶像差(HOA)。传统的折射式相位补偿元件的精度溯源比较困难,导致检测数据缺乏可信度。将CGH作为相位补偿元件可达到零位检测的目的。针对大口径非球面透镜的透射波前检测,设计并加工了相应的CGH作为相位补偿元件,并与传统的折射式补偿元件进行了对比测试。测试结果表明:两种相位补偿方法的测试数据具有良好的一致性,峰谷(PV)值的差值为0.034λ(λ为检测光的波长),均方根(RMS)值的差值为0.006λ,因此CGH作为相位补偿元件具有相当高的测试精度。
- 何宇航李强高波魏小红柴立群
- 关键词：相位补偿
- 一种用于光学元件缺陷检测的拼接式条形激光装置
- 本发明公开了一种用于光学元件缺陷检测的拼接式条形激光装置，涉及光学元件检测装置技术领域，本发明包括若干组水平布置的光束形成机构，光束形成机构均包括从右到左依次布置的基础光源、准直透镜、扩束凹镜和柱面准直镜，准直透镜为平凸...
- 刘昂赵智亮徐凯源柴立群李强高波赵子嘉何宇航
- 文献传递
- 一种精确测定单层化学膜折射率变化值的装置及方法
- 本发明涉及一种精确测定单层化学膜折射率变化值的装置及方法，属于高功率激光技术领域，该装置包括脉冲激光器、第一光电管、取样镜、石英棱镜、单层化学膜和第二光电管，所述石英棱镜为等边三棱镜，所述单层化学膜涂覆在石英棱镜的一个面...
- 王方郑天然李强高波严鸿维晏良宏胡东霞周丽丹朱启华
- 文献传递
- 一种基于离散小波变换的光学平板波前的降噪方法和装置
- 本发明公开了一种基于离散小波变换的光学平板波前的降噪方法和装置，所述方法包括对含噪波前位相W<Sub>o</Sub>进行预处理，得到扩展矩阵W；对扩展矩阵W进行二维离散小波分解，得到系数向量C<Sub>o</Sub>；基...
- 徐凯源柴立群刘昂何宇航陈宁李强高波魏小红万道明
- 文献传递
- 大口径平板元件高透反射率及不均匀性测量装置及方法
- 本发明公开了一种大口径平板元件高透反射率及不均匀性测量装置及方法，属于光学测量领域中的大口径光学元器件的测量，其目的在于解决现有技术中大口径平板元件的高透反射率以及不均匀性测量误差较大的技术问题。其将用于大口径待测高透射...
- 高波刘昂李强何宇航万道明徐凯源王凤蕊魏小红陈宁
