袁战恒
- 作品数：39 被引量：32H指数：3
- 供职机构：西安交通大学电子与信息工程学院更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金国家高技术研究发展计划更多>>
- 相关领域：电气工程化学工程电子电信一般工业技术更多>>
- Ｐ２Ｎ及ＰＭＮ基铁电陶瓷偏压特性的研究
- 袁战恒姚熹
- 关键词：铁电陶瓷介电常数特性分析电负性
- 介电材料温频特性测控系统被引量：1
- 1999年
- 介绍了线性升温法测量介电材料及片状元件试样阻抗（电容量、损耗角正切），温度频率特性测控系统的硬件构成，模型预测法实现线性控温的计算机测控软件原理计算式软件框图及测控结果曲线。从而得出高热导、高低温测试装置中，在－１５０°Ｃ～＋２５０°Ｃ范围用ＩＢＭ－ＰＣ计算机实现模型预算法调温，可在动态中以高线性升温方式进行多样品测试，且升温速率可在０．１°Ｃ／ｍｉｎ～１０°Ｃ／ｍｉｎ之间选择，测试结果对介电材料研究及元器件开发是非常有价值的。
- 袁战恒韩九强
- 关键词：介电材料温度特性频率特性测控系统
- 介质材料及元器件温度特性辅助测试装置
- 一种介质材料及元器件辅助测试装置，与其它介质材料或元器件测试或分析仪器联用，可测试介质材料或元器件的等效阻抗、电容量、电感量、损耗角正切，等效串联电阻等电参数的效率温度特性。该辅助测试装置具有体积小、重量轻、移动方便、耗...
- 袁战恒姚熹孟中岩
- 文献传递
- 氧化锡氧化铌共掺杂二氧化钛氧气响应特性的稳定性被引量：2
- 2007年
- 研究了氧化锡(SnO2)、氧化铌(Nb2O3)共掺杂二氧化钛(TiO2)作为厚膜用氧传感器材料的响应特性。X射线衍射分析表明:适量掺杂使厚膜晶粒保持金红石结构,晶胞参数有所增大。扫描电子显微镜显示:厚膜在1280℃左右长时间(11h)保温,晶粒仍保持适度尺寸。X射线光电子能谱分析表明:较低的Nb掺杂浓度导致晶粒表面产生高浓度金属缺位(Vm),低温端(300℃)的氢气响应时间变短;高温端(600℃)的氧气响应时间急剧增大。Nb掺杂浓度较高时,低温端(300℃)氢气响应时间变长;高温端(600℃)氧气响应时间变短,但仍保持着响应特性的稳定性。结果表明:用摩尔分数x(Sn)=2.31%,x(Nb)=0.48%的组分,既能在同一结构下适度增加晶胞参数,又能相应提高掺杂浓度,可获得工作温度范围(300～600℃)内灵敏度和响应速度长期稳定的厚膜材料。
- 袁战恒张茂林郑程
- 关键词：氧传感器二氧化钛响应特性
- 贴装用高热导率集成电路基板的水热法制备研究
- 2001年
- 针对当前SMT中集成电路基板散热难的问题,结合热设计方法,系统地研究了热液条件下在高纯度铝基片上生长氧化铝膜的技术,并对制成的基片电性能及其温度特性、表面形貌做了详细的测试与分析。结果表明:有氧化铝膜的铝基片既有高的散热性,又有好的电性能,完全符合SMT基板的要求,有广泛的应用前景。
- 任晨晓李晖袁战恒
- 关键词：贴装高热导率集成电路水热法氧化铝膜电性能膜集成电路
- 介质材料及元器件温度特性测试装置
- 一种介质材料及元器件辅助测试装置。与其它介质材料或元器件测试或分析仪器联用，可测试介质材料或元器件的等效阻抗、电容量、电感量、损耗角正切，等效串联电阻等电参数的效率温度特性。该辅助测试装置具有体积小，重量轻、移动方便、耗...
- 袁战恒姚熹孟中岩
- 文献传递
- 汽车空/燃比控制用的TiO_2系厚膜氧传感器被引量：5
- 1993年
- 本文介绍了掺五价金属氧化物(M_2O_5)对TiO_2氧敏材料电阻率的影响,测定了半导化后的TiO_2材料不同温度下的氧敏特性,并讨论了其敏感机理.
- 武明堂袁战恒姚熹吴文超陈钦海徐光裕
- 关键词：氧传感器空燃比汽车二氧化钛
- 偏压下弛豫型铁电陶瓷有效介电系数稳定方法的研究被引量：1
- 1999年
- 本研究利用调整有效介电常数的互补公式［１］ 及Ｂ 位离子振动模型的位移公式［２］ ，导出了用于ＰＭＮ／ＰＺＮ／ＰＴ，ＰＭＮ／ＰＺＮ系铁电陶瓷稳定有效介电常数的经验公式：－ Ｔ－ Ｔ０２Ｔ－ Ｔ０１Ａ２ ＝ ｄ１ｄ２Ａ１ ． 用此式对ＰＺＮ，ＰＭＮ基铁电陶瓷偏压特性的研究，发现铁电陶瓷偏压下有效介电常数主要受其构型、Ａ 及Ｂ位离子的电负性差、添加剂的加权电负性差、宽容因子及其添加量的影响． 研究表明用此式对调整弛豫型铁电陶瓷的有效介电系数更加直观．
- 袁战恒孙海君张良莹姚熹
- 关键词：弛豫型铁电体偏压介电系数陶瓷
- 高场强下铝阳极氧化膜中相关元素的分布及其介电性能被引量：2
- 1999年
- 利用俄歇电子能谱仪（ＡＥＳ）分析了高场强下不同条件形成的阳极氧化膜中相关元素的分布，分析表明膜中不同程度存在Ｂ、Ｃ、Ｐ等相关元素。测试其相应的介电性能，表明氧铝比Ｒ（Ｏ∶Ａｌ）接近于１．５时其介电性能较好。
- 袁战恒孙海君徐友龙曹婉真
- 关键词：铝阳极氧化膜介电性能电容器
- 介电材料温频特性测控系统
- 介绍了线性升温法测量介电材料及元件片状试样阻抗（电容量、损耗角正切）温度频率特性测控系统的硬件构成、模型预测法实现线性控温的软件框图、整个计算机测控软件、测控结果曲线。从实施结果得出，在高传导传热的高低温测试装置中，用Ｉ...
- 袁战恒韩九强
- 关键词：温度相关频率特性测量计算机辅助测试介电性质
