徐建程
- 作品数：65 被引量：147H指数：7
- 供职机构：浙江师范大学更多>>
- 发文基金：中国工程物理研究院双百人才基金博士科研启动基金国家自然科学基金更多>>
- 相关领域：机械工程理学电子电信核科学技术更多>>
- 光学元件中频误差的检测方法
- 本发明提供一种光学元件中频误差的检测方法，包括如下步骤，采用第一干涉仪测量被测光学元件全口径的低频面形分布；将被测光学元件分成N个方形子区域，采用第二干涉仪测量上述各个子区域的面形分布；计算被测光学元件各个子区域内的中频...
- 徐建程
- 文献传递
- 基于主元分析的随机相移散斑图分析算法被引量：2
- 2016年
- 剪切散斑相移干涉术需要提取物体加载后的动态相位变化,因此提出一种基于主元分析的随机相移散斑图分析算法。该算法采用相关计算法从随机相移散斑图中获得随机相移条纹图,然后利用主元分析算法(PCA)从一组随机相移条纹图中提取动态相位分布。实验结果表明,相关计算法处理散斑图所得的随机相移条纹图具有较高信噪比,PCA提取的相位具有较高的精度和效率。该算法无需迭代计算,对随机相移条纹图的空间载波频率没有严格的要求,适合动态剪切散斑干涉测量。
- 侯园园徐建程
- 关键词：条纹分析主元分析
- 相移算法振动误差分析
- 在干涉计量中,移相干涉测量技术具有精度高,自动化程度高,实用性强,无相位符号二义性等优点而得到广泛的应用。它通过控制参考光束和测试光束之间的光程差,连续采集若干帧具有固定相位差的干涉图,采用一定的相移算法对干涉图进行处理...
- 何祖斌邓燕徐建程许乔柴立群
- 文献传递
- 基于最小二乘迭代的多光束相移算法被引量：4
- 2009年
- 高阶谐波和随机相移误差是影响干涉测量精度的主要因素。为了同时解决这两问题,提出了基于最小二乘迭代的多光束干涉条纹分析方法。该方法利用傅里叶级数将多光束干涉条纹展开为基波和各阶谐波之和。它只需要5帧随机相移的多光束干涉条纹,即可通过最小二乘迭代准确地求得相移值和相位分布。模拟计算结果表明,当测试面反射系数小于0.6、随机相移误差的均方根小于1时,只需10次迭代运算即可将误差控制在0.005(PV)和0.003(RMS)rad之下,精度比传统的五步算法精度高。实验结果进一步验证了该算法的有效性,并表明该算法比双光束相移算法优越。
- 徐建程陈建平许乔柴立群
- 载波傅里叶分析法中干涉图的预处理技术研究被引量：1
- 2005年
- 提出了一种基于旋滤波法的干涉条纹预处理方法,并将其应用到载波傅里叶分析法中。该方法能较好地处理各种噪声而不会使条纹变模糊。实验证明该方法能有效地去除相干噪声、随机噪声、椒盐噪声、由于光照不均匀引起的较大面积的亮斑或暗斑等噪声,能较好地提高载波傅里叶分析法的精度和重复性。
- 徐建程许乔柴立群邓燕
- 关键词：傅里叶变换光学检测
- 螺旋相移干涉仪装置
- 本实用新型提供一种螺旋相移干涉仪装置。传统的相移干涉仪需要昂贵的精密相移装置。本实用新型的螺旋相移干涉仪装置包括激光器、扩束系统、分光棱镜、螺旋相位板、参考镜、测试镜、成像系统及探测器。螺旋相移干涉仪的结构为泰曼-格林型...
- 徐建程陈曌侯园园
- 文献传递
- 空间插值在功率谱密度计算中的应用被引量：2
- 2010年
- 为了提高光学元件波前中频PSD计算的精度和有效频谱宽度,提出了填补波前无效数据的双线性插值法和抑制欠采样噪声的六采样点插值法。模拟计算和实验结果表明:双线性插值法有效地保证了填充数据与真实数据的一致性,抑制了零填充方法引入的虚假中高频信息,使得填补后的PSD与原始PSD较好地吻合;六采样点插值法有效地分离了信号和欠采样噪声,使得有效PSD频谱上限从1/2 Nyquist频率提高到Nyquist频率。
- 徐建程许乔柴立群
- 关键词：功率谱密度双线性插值
- KDP晶体折射率非均匀性检测系统被引量：2
- 2009年
- 基于正交偏振干涉法,建立了KDP晶体折射率非均匀性的检测系统,并可实现晶体相位失谐角的间接检测.波前检测系统实现了测试光偏振态的精密控制与切换,采用波长调谐相移的方法去除了测试过程中参考面倾斜引入的误差,优化了抗振动相移算法,提高了波前测试的测量准确度及重复性.通过折射率非均匀性分析算法的设计,解决了晶体厚度变化引入的误差等.小口径晶体元件的测试结果表明系统的折射率非均匀性检测准确度(均方根值)优于10-6.
- 柴立群石琦凯徐建程许乔邓燕
- 关键词：KDP晶体
- 相位干涉测量的信息理论分析
- 惯性约束核聚变(ICF)是当今基础科学前沿领域之一,对国防事业和新能源开发有着极为重要的科学意义和应用价值。高功率固体激光装置作为ICF的驱动器,对所使用的大口径光学元件的中、低频制造误差提出了严格的要求。目前我国大口径...
- 徐建程
- 关键词：信息容量信噪比功率谱密度
- 文献传递
- 干涉测量装置
- 本实用新型提供一种干涉测量装置，包括用以产生偏振状态相互正交线偏振光的装置，该相互正交线偏振光分别称为参考光和测试光；相位调制式空间光调制器，设置于参考光或测试光的光路中，用以改变光波前的空间相位分布；该空间光调制器具有...
- 徐建程
- 文献传递
