您的位置: 专家智库 > >

文献类型

  • 4篇期刊文章
  • 3篇会议论文

领域

  • 7篇电子电信

主题

  • 4篇晶体管
  • 3篇电子迁移率
  • 3篇迁移率
  • 3篇光刻
  • 3篇高电子迁移率
  • 3篇高电子迁移率...
  • 2篇氮化镓
  • 2篇碳化硅
  • 2篇铝镓氮
  • 2篇半导体
  • 2篇SIC
  • 2篇步进
  • 2篇场板
  • 1篇导体
  • 1篇势垒
  • 1篇碳化硅半导体
  • 1篇套准精度
  • 1篇通孔
  • 1篇频段
  • 1篇微米

机构

  • 7篇南京电子器件...

作者

  • 7篇王雯
  • 3篇李忠辉
  • 3篇柏松
  • 3篇任春江
  • 3篇王泉慧
  • 3篇陈堂胜
  • 3篇李哲洋
  • 3篇张斌
  • 3篇陈刚
  • 2篇孔月婵
  • 2篇李宇柱
  • 2篇钟世昌
  • 2篇倪炜江
  • 2篇刘海琪
  • 2篇蒋浩
  • 1篇吴鹏
  • 1篇蒋幼泉
  • 1篇冯忠
  • 1篇余旭明
  • 1篇陶洪琪

传媒

  • 4篇固体电子学研...
  • 1篇全国第十二届...
  • 1篇第十七届全国...
  • 1篇2012全国...

年份

  • 1篇2013
  • 2篇2012
  • 3篇2011
  • 1篇2008
7 条 记 录,以下是 1-7
排序方式:
2700V 4H-SiC结势垒肖特基二极管被引量:1
2011年
在76.2 mm 4H-SiC晶圆上采用厚外延技术和器件制作工艺研制的结势垒肖特基二极管(JBS)。在室温下,器件反向耐压达到2 700 V。正向开启电压为0.8 V,在V_F=2 V时正向电流密度122 A/cm^2,比导通电阻R_(on)=8.8 mΩ·cm^2。得到肖特基接触势垒qΦ_B=1.24 eV,理想因子n=1。
倪炜江李宇柱李哲洋李赟王雯贾铃铃柏松陈辰
关键词:高耐压
0.15μm GaN HEMT及其应用被引量:5
2013年
报道了毫米波应用的0.15μm场板结构GaN HEMT。器件研制采用了76.2mm(3英寸)SiC衬底上外延生长的AlGaN/GaN异质结构材料,该材料由MOCVD技术生长并引入了掺Fe GaN缓冲层技术以提升器件击穿电压。器件栅脚和集成了场板的栅帽均由电子束光刻实现,并采用栅挖槽技术来控制器件夹断电压。研制的2×75μm栅宽GaN HEMT在24V工作电压、35GHz频率下的负载牵引测试结果显示其输出功率密度达到了4W/mm,对应的功率增益和功率附加效率分别为5dB和35%。采用该0.15μm GaN HEMT技术进行了Ka波段GaN功率MMIC的研制,所研制的功率MMIC在24V工作电压下脉冲工作时(100μs脉宽、10%占空比),29GHz频点处饱和功率达到了10.64W。
任春江陶洪琪余旭明李忠辉王泉慧王雯陈堂胜张斌
关键词:铝镓氮氮化镓高电子迁移率晶体管场板
UHF频段高功率SiC SIT被引量:1
2011年
采用导通SiC衬底上的SiC多层外延材料,成功制作出了国内首个SiC SIT(静电感应晶体管)。该器件研制中,采用了自对准工艺、高能离子注入及高温退火工艺、密集栅深凹槽干法刻蚀工艺、PECVD SiO2和SixNy介质钝化工艺,有效抑制了漏电并提高了器件击穿电压,器件功率输出能力由此得到提升。最终28 cm栅宽SiC SIT器件,在UHF波段的500 MHz、90 V工作电压下,脉冲饱和输出功率达到了550 W,此时功率增益为11.3 dB。
陈刚王雯柏松李哲洋吴鹏李宇柱倪炜江
关键词:宽禁带半导体静电感应晶体管离子注入
0.5μm GaN HEMT及其可靠性
文中报道了采用Ⅰ线步进光刻实现的3英寸SiC衬底0.5μm GaN HEMT及其可靠性.器件正面工艺光刻均采用了Ⅰ线步进光刻来实现,背面采用通孔接地.研制的GaN HEMT器件fT为15GHz,fm.为24GHz,6GH...
任春江王泉慧刘海琪王雯李忠辉孔月婵蒋浩钟世昌陈堂胜张斌
关键词:高电子迁移率晶体管可靠性评估
文献传递
0.5μm AlGaN/GaN HEMT及其应用被引量:5
2011年
报道了采用I线步进光刻实现的76.2 mm SiC衬底0.5μm GaN HEMT。器件正面工艺光刻均采用了I线步进光刻来实现,背面用通孔接地。栅脚介质刻蚀采用一种优化的低损伤RIE刻蚀方法实现了60°左右的侧壁倾斜角,降低了栅脚附近峰值电场强度,提高器件性能和可靠性。研制的GaN HEMT器件fT为15 GHz,fmax为24 GHz,6 GHz下的MSG为17 dB,满足C波段及以下频段应用要求。对1.25 mm栅宽GaN HEMT在2 GHz、28 V工作电压下的负载牵引,最佳功率匹配的功率附加效率66%,对应输出功率以及功率增益分别为38.0 dBm和17.3 dB。对大栅宽GaN HEMT器件的版图进行了优化以利于散热,并将其应用于输出功率60 W的L波段功率模块末级开发。
任春江王泉慧刘海琪王雯李忠辉孔月婵蒋浩钟世昌陈堂胜张斌
关键词:高电子迁移率晶体管场板
4H-SiC功率MESFET台面光刻技术研究
本文详细描述了4H-SiC功率MESFET台面光刻技术,利用光刻胶阻挡离子束台面刻蚀,其工艺简单,重复性好,获得良好的4H-SiC刻蚀表面,有利于器件的性能提高.SiC的台面刻蚀需要较长时间,通常金属掩膜又会带来微管、缺...
冯忠王雯陈刚李哲洋柏松蒋幼泉
关键词:碳化硅
文献传递
微米级线宽双台面套准精度的研究
在碳化硅(SiC)器件制造技术中光刻工艺是一个影响其他工艺宽容度的关键工艺,由于厚层介质掩膜在SiC器件中的重要作用,在小台面完成并且厚层介质掩膜生长后,为形成大台面而造成的套准精度的控制将严重影响SiC双台面结构的图形...
王雯陈刚陈谷然李理
关键词:碳化硅半导体光刻工艺套准精度
文献传递
共1页<1>
聚类工具0