方毓文
- 作品数：18 被引量：32H指数：3
- 供职机构：中国计量科学研究院更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金更多>>
- 相关领域：电子电信机械工程一般工业技术化学工程更多>>
- 利用OTDR显示曲线的衰减突变判定光纤非反射故障点的位置被引量：3
- 1999年
- 着重介绍一种利用ＯＴＤＲ显示曲线的衰减突变判定光纤非反射故障点位置的简单而准确的方法。
- 李雪松王民明方毓文张诚平李天初
- 关键词：光纤光时域反射计故障点
- 用红外吸收法非接触测量涤纶薄膜的厚度被引量：6
- 1990年
- 本文叙述了一种利用高分子材料对特定波长红外线吸收原理来实现涤纶薄膜非接触测厚的新方法。与接触法相比具有速度快、非接触、可实现在线测量的优点,并且无β射线测厚法的放射性污染。文中还对HW-1型红外测厚仪作了简单介绍。
- 廖复中魏和荣赵文奎方毓文
- 关键词：红外吸收法涤纶厚度
- 光纤折射率分布和几何参数标准测量装置的研究
- 李天初方毓文王民明方占军谭小地
- 该装置采用“光反馈激光开关干涉-计算机光功率组分”测量微位移，并采用“干涉逼近法”和“插值法”测量折射率差的方法，分别使光纤的几何参数测量和折射率差测量溯源到He-Ne激光波长，测量光纤皮径和芯径的不确定度（2σ）分别为...
- 关键词：
- 关键词：光纤折射率测量
- 光纤折射率分布和几何参数标准测量装置的研究被引量：1
- 1992年
- 介绍了中国计量科学研究院建立的光纤折射率分布和几何参数标准测量装置。该装置采用“光反馈激光开关干涉-计算机光功率细分”测量微位移,并采用“干涉逼近法”和“插值法”测量折射率差的方法,分别使光纤的几何参数测量和折射率差测量溯源到He-Ne激光波长。测量光纤皮径和芯径的不确定度(2σ)分别为±0.25μm和±0.5μm。测量折射率的不确定度达到±2×10^(-3)。
- 李天初方毓文王民明方占军谭小地
- 关键词：光纤折射率光导纤维
- 白光干涉型Michelson光纤扫描干涉仪被引量：9
- 1996年
- 介绍了一种白光干涉型Ｍｉｃｈｅｌｓｏｎ位移传感器。Ｍｉｃｈｅｌｓｏｎ干涉仪的一臂由光纤Ｆ－Ｐ腔构成，作为传感头；另一臂由电磁位移器带动的反射镜构成，提供相位补偿。理论分析和实验结果表明，在１５０μｍ的动态范围内，该传感器的位移测量重复性（２σ）达到０５μｍ，测量不确定度为１５μｍ。
- 李雪松廖延彪李天初方占军王民明方毓文
- 关键词：白光干涉干涉仪位移传感器光纤
- 1.5um光通讯波分复用波长标准的研究
- 李天初钱进张小平方毓文石春英王民明王捍平方占军刘秀英孟飞王强
- 标准光波长的具体应用为：以优于1x10-7(k=2)的不确定度建立我国1.5 mm波长标准；向下检定进口和国产的商品绝对参考频率(AFR--ITU-T 推荐)；全面校准WDM测试仪器 (包括红外波长计,富利叶波长计,光谱...
- 关键词：
- 提高光纤时域反射计(OTDR)精度的几项测量方法
- 1997年
- 光纤时域反射计（ＯＴＤＲ）是光通讯产业的测量中的一种重要计量仪器，根据ＩＥＣ建议，必须正确使用ＯＴＤＲ。
- 王民明李雪松方毓文李天初
- 用于量值传递的锥度比较仪被引量：1
- 1989年
- 一、概述随着机械工业的发展,机械加工越来越多地采用数控机床和数控加工中心,广泛使用机械手装卸工具。这不仅对工具锥柄的需要量不断增加,同时还要求有相当好的互换性。而且工具锥柄的配合精度也相应要求有较大提高。
- 陈永红方毓文陈坤德
- 关键词：比较仪
- 新型激光干涉仪被引量：1
- 2000年
- L M- 6D激光干涉测量系统是于 1998年推出的新型激光干涉仪 ,一次安装调整能同时测出位置 (长度 ) ,X及 Y方向直线度、俯仰角、偏摆角和滚动等六个参数值。不仅保持了激光干涉测量精度高的特点 ,同时实现了多参数同步测量 ,减少测量时间 80 % ,大大提高了测量效率。
- 方毓文王民明
- 关键词：多参数测量
- 15μm波长DFB半导体激光乙炔(^(12)C_2H_2)线性吸收稳频被引量：10
- 2001年
- 建立 1 5 μm波长标准的工作既是现实应用的需求 ,也将填补波长计量标准系列在近红外波段的空白。本文报导中国计量科学研究院在这项研究中的第一阶段工作 :用国产分布反馈半导体激光 (DFB LD)和自行研制的乙炔 (1 2 C2 H2 )吸收室 ,进行了吸收光谱实验 ,实现了 1 5 μmBFB LD的C2 H2 线性吸收稳频。
- 李天初钱进张小平方毓文石春英王民明
- 关键词：激光稳频乙炔
