王锋
- 作品数：3 被引量：6H指数：2
- 供职机构：西安工业学院材料与化工学院更多>>
- 发文基金：陕西省自然科学基金教育部“优秀青年教师资助计划”更多>>
- 相关领域：理学一般工业技术电气工程化学工程更多>>
- 锗在熔融玻璃中循环过热后的凝固过冷度及组织特征被引量：1
- 2005年
- 研究了锗在熔融玻璃包覆下循环过热后的过冷度及凝固组织特征.结果发现:锗在熔融玻璃包覆下循环过热后可获得312 K的过冷度,熔融玻璃的成分是影响锗过冷度的主要因素,要使锗获得深过冷,熔融玻璃中必需含有一定量的碱性氧化物.过冷度不仅影响锗凝固后晶粒的尺寸,而且也影响晶粒的形貌.过冷度等于或小于90 K,晶粒比较粗大,晶界平直、棱角分明,表现出小平面生长的特征;过冷度大于90 K时,晶界圆滑、没有明显棱角,表现出非小平面生长的特征.在过冷度为90～180 K时,组织由纵向和横向尺寸有明显差别的长枝晶和细小的等轴晶组成;过冷度大于180 K后,组织为均匀细小的等轴晶.
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- 关键词：锗过冷度
- ZnSe晶体制备的工艺研究被引量：3
- 2005年
- 采用X射线衍射仪和扫描电镜,研究分析了环境气氛对以纯Zn和Se为原料制备ZnSe晶体的结构和微观形貌的影响.研究表明,环境气氛不仅影响ZnSe晶体的晶粒尺寸,而且影响其形貌.在真空环境下,ZnSe晶体的晶界面圆滑、没有棱角,晶粒尺寸为7～8μm;在Ar气环境下,ZnSe晶体有明显的棱角,晶粒尺寸为10～11μm.环境气氛对ZnSe晶体的结构不产生影响,两种环境下制备出的ZnSe晶体均为面心立方结构.
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- 关键词：X射线衍射仪环境气氛晶粒尺寸扫描电镜微观形貌
- 退火对PMN-32PT弛豫铁电单晶电畴组态的影响被引量：2
- 2005年
- 采用光学显微镜沿[001]方向观察了PMN_32PT弛豫铁电单晶的电畴形貌,考查了在不同温度下退火处理对电畴组态的影响.结果表明:在90℃以下退火后,PMN_32PT晶体的电畴基本保持室温组态,但局部出现微弯曲.在120～160℃退火后,PMN_32PT晶体电畴明显粗化,条带宽大,且局部由条带型转变为回字型.在210℃以上退火后,PMN_32PT晶体电畴条带规则,均匀细小.
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- 关键词：退火铁电
