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朱景芝
作品数:
4
被引量:15
H指数:3
供职机构:
西北工业大学材料学院
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发文基金:
中国航空科学基金
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相关领域:
电子电信
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合作作者
刘正堂
西北工业大学材料学院材料学系
郑修麟
西北工业大学材料学院材料学系
耿东生
西北工业大学材料学院
宋建全
西北工业大学材料学院
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年份
1篇
2000
1篇
1998
2篇
1996
共
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反应溅射 Ge_XC_(1-X) 薄膜的沉积速率
被引量:6
1998年
系统地研究了射频磁控反应溅射中工艺参数对GeXC1-X薄膜沉积速率的影响。结果表明,当气体流量比超过某值后,沉积速率有较大的下降。沉积速率随射频功率的增大而增大。某工作气压下有沉积速率的最大值。薄膜厚度随时间的增长规律在出现靶中毒及未出现靶中毒的情况下略有差别。
刘正堂
朱景芝
宋建权
郑修麟
关键词:
磁控反应溅射
沉积速率
射频反应溅射Ge_xC_(1-x)薄膜的特性
被引量:5
1996年
射频反应溅射Ge_xC_(1-x)薄膜的特性刘正堂,朱景芝,许念坎,郑修麟(西北工业大学材料科学与工程系,西安,710072)[摘要]通过在Ar+CH4气体中的射频反应溅射法制备出GexC(1-x)薄膜。利用俄歇电子能谱、X射线衍射、光度计及硬度测定等...
刘正堂
朱景芝
许念坎
郑修麟
关键词:
保护膜
红外材料
磁控反应溅射制备Ge_xC_(1-x)薄膜的结构
被引量:1
2000年
利用射频磁控反应溅射以Ar、CH4 为原料气体 ,在较宽的工艺参数范围内制备出了GexC1-x薄膜。利用X射线衍射 (XRD)、X射线光电子谱 (XPS)对制备的薄膜进行了分析。结果表明 ,GexC1-x薄膜的结构强烈依赖于制备的工艺参数。当沉积温度较低、射频功率不大时 ,GexC1-x薄膜主要为非晶态结构。随着沉积温度升高、射频功率增大 ,薄膜中出现Ge微晶相。GexC1-x薄膜中Ge与C发生电荷的转移 ,形成化学键。
刘正堂
耿东生
宋建全
朱景芝
郑修麟
关键词:
磁控反应溅射
红外增透膜和保护膜的设计与材料
被引量:6
1996年
综述了红外增透膜和保护膜的设计方法,并介绍了几种新型红外镀膜材料。
朱景芝
刘正堂
关键词:
红外增透膜
保护膜
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