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刘伟

作品数:16 被引量:4H指数:1
供职机构:桂林电子科技大学更多>>
发文基金:广西壮族自治区自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信理学文化科学自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 6篇专利
  • 5篇期刊文章
  • 3篇学位论文
  • 2篇会议论文

领域

  • 9篇电子电信
  • 2篇自动化与计算...
  • 2篇文化科学
  • 2篇理学
  • 1篇医药卫生

主题

  • 6篇自测试
  • 6篇内建自测试
  • 5篇电路
  • 4篇荧光粉
  • 4篇可测性
  • 4篇可测性设计
  • 4篇发光
  • 3篇集成电路
  • 3篇光材料
  • 3篇发光材料
  • 3篇分辨率
  • 3篇BIST
  • 3篇超分辨
  • 3篇超分辨率
  • 3篇超分辨率重建
  • 2篇医学图像
  • 2篇医学图像处理
  • 2篇头部MRI
  • 2篇图像
  • 2篇图像处理

机构

  • 16篇桂林电子科技...

作者

  • 16篇刘伟
  • 4篇刘建军
  • 3篇康跃明
  • 2篇雷加
  • 1篇陈洪波

传媒

  • 2篇世界电子元器...
  • 2篇电子与封装
  • 1篇计算机工程与...
  • 1篇中国仪器仪表...

年份

  • 4篇2023
  • 3篇2022
  • 3篇2008
  • 6篇2007
16 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
高速PPM-UWB通信系统基带收发信机研究与设计
超宽带无线通信(Ultra—Wideband)凭借其极高的数据传输速率、较少的功率消耗和强大的抗多径干扰等优点,己成为当今短距离无线通信领域研究和开发的一个热点。其中超宽带接收技术是实现超宽带通信的难点,本论文重点研究了...
刘伟
关键词:捕获性能信号处理
基于伪随机测试的模数混合信号内建自测试法被引量:3
2008年
利用伪随机序列作为测试激励,通过计算输入输出的互相关函数得到K维特征空间,在特征空间的基础上进行分析,判别电路有无故障,实验证明该方法简单可行,且提高了测试的效率和正确性,适用于模拟及混合信号测试,适用于混合信号电路的内建自测试(BIST)。
刘伟雷加
关键词:伪随机测试互相关函数混合信号电路内建自测试
基于深度学习的三维头部MRI超分辨率重建
在医学图像分割、配准、影像组学以及计算机辅助诊断过程中,高分辨率的医学图像可以显著提高实验精度。由于磁共振成像(MagneticResonanceImaging,MRI)设备和图像采集时间的限制,通常不能采集得到质量较高...
刘伟
关键词:磁共振成像超分辨率重建卷积神经网络TRANSFORMER
一种头部三维MRI超分辨率重建方法
本发明公开了一种头部三维MRI超分辨率重建方法,该方法首先选取高分辨的MRI图像数据,对选取的MRI数据进行预处理得到小数据块,将得小数据块作为训练数据;然后建立基于卷积神经网络和Transformer编码器的三维MRI...
刘伟陈洪波赵岩
文献传递
一种红色新型应力发光材料及其制备方法
本发明属于发光材料技术领域,公开了一种红色新型应力发光材料及其制备方法,发光材料的化学表达式为:CaMg<Sub>1‑x</Sub>Ge<Sub>2</Sub>O<Sub>6</Sub>:xMn<Sup>2+</Sup>...
张泽青刘伟赵景泰王强陈雯菁史瑞
一种新型低峰值功耗的BIST设计研究
随着手持设备的兴起和芯片对晶片测试越来越高的要求,内建自测试的功耗问题引起了越来越多人的关注。本文对目前内建自测试的可测性设计技术进行了分析,并提出了折叠种子优化降低节点峰值功耗模型。通过调整种子结构和测试向量的相关性的...
刘建军刘伟康跃明
关键词:内建自测试可测性设计片上系统
文献传递
一种新型绿色机械发光荧光粉、制备方法及应用
本发明公开了一种新型绿色机械发光荧光粉、制备方法及应用,涉及发光材料技术领域,其技术方案要点是:表达通式为Sr<Sub>2‑x</Sub>Ga<Sub>2</Sub>GeO<Sub>7</Sub>:xTb<Sup>3+<...
陈雯菁赵景泰史瑞刘伟张泽青王强
一种红色应力发光荧光粉及其制备方法
本发明公开了一种红色应力发光荧光粉及其制备方法,涉及无机发光材料技术领域,其技术要点为:所述稀土离子Sm<Sup>3+</Sup>掺杂Ca<Sub>5</Sub>Ga<Sub>6</Sub>O<Sub>14</Sub>红...
王强赵景泰刘伟张泽青史瑞陈雯菁
一种镓酸盐应力发光材料的制备方法
本发明公开了一种镓酸盐弹性应力发光材料的制备方法,涉及应力发光材料技术领域,其技术方案要点是:使用SrCO<Sub>3</Sub>(99.95%)、CaCO<Sub>3</Sub>(99.99%)、Ga<Sub>2</S...
史瑞赵景泰陈雯菁刘伟王强张泽青
数字集成电路测试中测试矢量的生成
2007年
电路的日益复杂和集成度的不断提高,测试已成为集成电路设计中费用最高、难度最大的一个环节。本文主要讨论了测试中伪随机测试矢量的生成,并提出了改进其周期的办法,从而能大大提高故障的覆盖率。最后通过硬件描述语言Verilog在QuartusⅡ软件下进行仿真,验证了其正确性。
刘伟刘建军
关键词:集成电路测试测试矢量集成电路设计硬件描述语言伪随机
共2页<12>
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