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许如清

作品数：3 被引量：12H指数：1
供职机构：清华大学更多>>
发文基金：国家自然科学基金更多>>
相关领域：理学一般工业技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 3篇理学
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 2篇密度泛函
  • 2篇泛函
  • 2篇分子
  • 2篇HCP
  • 1篇阳极氧化铝
  • 1篇阳极氧化铝膜
  • 1篇原子力显微镜
  • 1篇扫描电镜
  • 1篇显微镜
  • 1篇显微镜测量
  • 1篇量子化学
  • 1篇量子化学计算
  • 1篇密度泛函理论
  • 1篇密度泛函理论...
  • 1篇化学计算
  • 1篇光谱
  • 1篇泛函理论
  • 1篇分子光谱
  • 1篇分子势能
  • 1篇SEM

机构

  • 3篇清华大学
  • 1篇四川师范大学

作者

  • 3篇许如清
  • 1篇陈皓明
  • 1篇任刚
  • 1篇李家明
  • 1篇谢军楷
  • 1篇苏长荣
  • 1篇韩立

传媒

  • 1篇物理
  • 1篇中国科学（A...

年份

  • 1篇2003
  • 1篇2002
  • 1篇2001
共 3 条 记 录，以下是 1-3
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排序方式：
利用扫描电镜和原子力显微镜测量纳米微孔阳极氧化铝膜被引量：12
2003年
利用多孔型阳极氧化铝膜（PAA）制备纳米材料是近年来研究的热点之一，对PAA的形貌进行准确的表征具有重要的意义.文章首先分析了传统的扫描电镜（SEM）观测方法中镀膜工艺对样品和测量结果的影响，并提出了对镀膜过渡区进行观测的方案.然后着重研究了利用原子力显微镜（AFM）对PAA进行无损测量的方法，比较了不同测量模式下的测量结果，并利用Reiss模型对“针尖-样品卷积效应”进行了有效的修正.文章的研究结果不仅适用于多孔型阳极氧化铝膜这一研究领域，对于纳米多孔材料的测量也有普遍的参考价值.
任刚许如清韩立陈皓明
关键词：扫描电镜原子力显微镜AFMSEM
分子光谱近阈结构的理论研究和分子势能面的计算
分子光谱近阈结构包含有丰富的物理信息,是研究复杂环境中分子特性的有力工具.该文利用多重散射自洽场方法,从理论上计算了SiH<,4>分子的内壳层光吸收谱.通过与高分辨实验光谱的比较,我们判断内壳层激发后的SiH<,4><'...
许如清
关键词：密度泛函HCP
HCP分子异构化过程的电子基态势能面:对密度泛函理论计算的检验
2001年
密度泛函理论提供了一种能处理较大团簇体系且计算量合适的方法.采用密度泛函近似方法计算得到HCP分子势能面.HCP的基态势能面涉及其整个异构化过程.将密度泛函计算的势能面与“精确”的势能面（根据实验振动谱拟合的势能面和计算量巨大的高精度量化计算的势能面）进行了比较.结果表明,密度泛函计算HCP势能面的精度在0.1eV以内.
许如清苏长荣李家明谢军楷
关键词：密度泛函理论HCP量子化学计算
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共1页<1>
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