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肖颖

作品数：1 被引量：2H指数：1
供职机构：中国电子科技集团公司第四十研究所更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇电路
  • 1篇贴装
  • 1篇集成电路
  • 1篇封装
  • 1篇表面贴装
  • 1篇插座

机构

  • 1篇中国电子科技...

作者

  • 1篇周庆平
  • 1篇余珺
  • 1篇肖颖

传媒

  • 1篇电子产品世界

年份

  • 1篇2011
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
集成电路老化测试插座的结构形式被引量：2
2011年
集成电路(IC)老化测试插座(以下简称老化测试插座)主要应用于集成电路产品的检测、老化、筛选等场合,其最大的用户是集成电路器件制造厂。本文对集成电路老化测试插座的结构形式做一简单的介绍。
肖颖周庆平余珺
关键词：集成电路插座表面贴装封装
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共1页<1>
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