曹学东
- 作品数：93 被引量：213H指数：9
- 供职机构：中国科学院光电技术研究所更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金国家高技术研究发展计划国家科技重大专项更多>>
- 相关领域：机械工程金属学及工艺电子电信理学更多>>
- 一种光轴平行度检测方法
- 本发明提出了一种光轴平行度检测方法。该检测方法利用一台经纬仪和一个五棱镜即可快速、准确地检测出两个平行光管间的光轴平行度差异。具体的实施步骤为，在两个已经大致调整光轴平行的平行光管前分别放置一台经纬仪和一个五棱镜；将经纬...
- 张鹏曹学东
- 一种采用阵列分光镜标定光电探测器线性误差的装置及方法
- 本发明涉及一种采用阵列分光镜标定光电探测器线性误差的装置及方法，包括：激光光源、阵列分光镜、光电探测器、光功率计，激光光源具有光束整形器，光电探测器连接光功率计。光电探测器线性误差标定的传统功率或能量调节法存在标定难度大...
- 魏铮曹学东林昭珩李东阳
- 离轴非球面镜精磨阶段的三坐标检测技术被引量：12
- 2012年
- 提出了使用三坐标测量机(CMM)对离轴非球面镜进行测量的方法。通过CMM对离轴非球面镜镜面进行自动测量,获得实际面形的三维坐标数据,并与理论离轴非球面镜模型进行分析比较,得到实际镜面的面形误差值和均方根值;依据CMM的测量结果,完成了对离轴非球面镜精磨阶段的加工,解决了目前离轴非球面镜精磨阶段难于检测,以至于无法加工的问题。随着离轴非球面镜顺利进入抛光阶段,使用CMM实现了离轴非球面镜精磨检测与抛光检测的无缝对接。
- 林长青景洪伟匡龙吴时彬曹学东李杰
- 关键词：三坐标测量机面形误差精磨
- 排列互比法用于超精测角时产生系统误差的研究被引量：8
- 1997年
- 从理论上阐明了用排列互比法测量分度误差时，其测量结果中含有测量系统误差的原因，这主要是自准直仪十字丝倾斜与棱体（或仪器）倾斜和角晃动的综合影响所造成，并用实验加以验证。文章还介绍了消除和减少这种系统误差的方法。
- 范天泉谢长文陆德基耿丽红曹学东
- 复色光总积分散射测量技术研究
- 2016年
- 目前总积分散射测量装置都是单波长的,不能测量复色光源的总积分散射量。先建立了一个积分球模型,并对这个积分球模型的光源和材料进行仿真分析。光源的分析包括波长和光源面积,材料的分析验证了该积分球模型和设定光路的可行性,并最终根据仿真的结果对实际实验进行有效指导,搭建了一套基于积分球的单波长总散射量测量装置,选取了650 nm、520 nm和450 nm三个波长的半导体激光光源进行实验,得到了多组各个不同波长下的TIS值。通过对实验结果的分析,发现TIS值与波长的平方成反比关系,符合总积分散射理论中TIS与波长的关系。
- 赵晓琛曹学东胡明鹏
- 关键词：积分球
- 一种采用激光阵列测试光学系统光谱透过率的装置及方法
- 本发明涉及一种采用激光阵列测试光学系统光谱透过率的装置及方法，包括滑轨或靶轮、阵列激光器、平行光管、光阑、翻转反射镜、样品区和探测器。阵列激光器是由多个激光器排列在滑轨上或安装在靶轮上组合而成，激光器均放置在平行光管的焦...
- 魏铮林昭珩曹学东李东阳
- 成像式光栅自准直测角方法研究被引量：10
- 2006年
- 针对目前光电自准直仪难以做到既有高分辨力同时又有大的测量范围的不足,提出一种成像式光栅自准直测角方法。该方法将成像式光栅方法、自准直测角技术相结合,利用标尺光栅像和指示光栅形成的光栅副反映被测物体的角度变化。试验结果表明,该系统接收到的光栅信号稳定,满足光栅计数的要求,成像式光栅自准直测角方法原理可行。该方法避免了光栅副间隙带来的误差,具有大量程及较高的分辨力。
- 张继友范天泉曹学东
- 关键词：高分辨力
- 基于角锥棱镜轴系径向跳动的测量装置
- 本发明涉及一种基于角锥棱镜轴系径向跳动的测量装置，由激光器、分光镜、角锥棱镜、轴系、计算机、数据采集单元及PSD位置传感器组成；角锥棱镜安装在轴系的旋转体上，角锥棱镜的顶点与轴系的转轴重合。激光光束通过分光镜到达角锥棱镜...
- 杨文志曹学东景洪伟许玮琦
- 子孔径拼接干涉检测大口径平面波前被引量：12
- 2009年
- 介绍了子孔径拼接检测平面波前的基本原理,提出了基于均化误差和最小二乘法的多个子孔径同时拼接的数据处理方法,有效减小了误差传递和积累。用该方法对Zemax仿真的望远镜光学系统进行了子孔径拼接检测,拼接光学系统波前和直接用Zemax得到的全孔径波前对比,其峰谷值(PV)和均方根(RMS)的偏差分别为0.0151λ和0.0016λ。并用口径为100mm的小口径干涉仪对口径为200mm的平面镜进行了拼接实验,将其全孔径波前与直接检测的结果对比,其峰谷值(PV)和均方根(RMS)的偏差分别为0.0559λ和0.0004λ。实验结果表明了该算法的有效性,该方法不仅适用于检测光学元件,也适用于对光学系统平面波前检测。
- 汪利华吴时彬侯溪匡龙曹学东
- 关键词：子孔径拼接光学检测光学系统
- 光栅衍射法测量微透镜列阵焦距时产生的光斑干扰分析被引量：3
- 2011年
- 基于光栅衍射的转角法无需转动光管,与传统的转角法相比具有较高的测量效率。而微透镜阵列元件子单元数众多,利用该方法进行测量时,光栅的各级衍射斑可能发生干扰,影响测量精度甚至无法进行测量。利用Matlab软件模拟分析测量过程中子单元光栅0级和±1级衍射光斑间的干扰,通过分析测量光源波长、光栅周期、微透镜阵列的子孔径和焦距,选取合理的测量光源和光栅避免干扰,从而完成对微透镜阵列焦距的测量。测量结果表明,该方法具有较高的测量精度和测量效率,可用于单元数较多、F数较小的微透镜阵列焦距测量。
- 朱咸昌伍凡曹学东吴时彬张鹏
- 关键词：光栅衍射微透镜阵列焦距测量
