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张金娟

作品数:4 被引量:2H指数:1
供职机构:河北师范大学更多>>
发文基金:河北省自然科学基金国家自然科学基金河北省教育厅科研基金更多>>
相关领域:电子电信理学金属学及工艺一般工业技术更多>>

文献类型

  • 2篇期刊文章
  • 1篇学位论文
  • 1篇会议论文

领域

  • 3篇电子电信
  • 2篇理学
  • 1篇金属学及工艺
  • 1篇电气工程
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 2篇介电
  • 2篇发光
  • 1篇低介电常数
  • 1篇低介电常数材...
  • 1篇电化学腐蚀
  • 1篇电路
  • 1篇多孔
  • 1篇多孔硅
  • 1篇氧化硅薄膜
  • 1篇溶胶
  • 1篇溶胶凝胶
  • 1篇微结构
  • 1篇量子
  • 1篇量子限制效应
  • 1篇纳米
  • 1篇纳米多孔
  • 1篇纳米多孔二氧...
  • 1篇介电常数
  • 1篇介电特性
  • 1篇化学腐蚀

机构

  • 4篇河北师范大学
  • 1篇河北省新型薄...

作者

  • 4篇张金娟
  • 2篇甄聪棉
  • 1篇马丽
  • 1篇张永进
  • 1篇刘英
  • 1篇聂向富
  • 1篇刘彩霞
  • 1篇李世强

传媒

  • 1篇河北师范大学...
  • 1篇物理学报
  • 1篇2006年全...

年份

  • 2篇2008
  • 1篇2007
  • 1篇2006
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
纳米SiC薄膜的发光与多孔SiO<,2>:F薄膜介电特性研究
碳化硅(SiC)具有禁带宽度大、击穿电场高、热导率大、电子饱和漂移速度大等优越特性,使其在蓝绿色发光二极管、紫外光电探测器、大功率和高温电子器件等方面倍受青睐。SiC是间接带隙半导体,提高SiC的发光效率和探讨它的发光机...
张金娟
关键词:介电特性
文献传递
Ti(Cr)缓冲层对用于垂直磁记录材料CoCrTa介质磁特性和微结构的影响
2007年
利用直流对靶磁控溅射技术在单晶Si衬底上制备了C/CoCrTa/X(X=Cr,Ti)介质材料.分别采用振动样品磁强计、X射线衍射仪、扫描探针显微镜对样品的磁性、微结构等进行了测试分析.研究发现,Ti缓冲层有利于样品中Co晶粒的易轴垂直于膜面生长.以Ti为缓冲层的样品,颗粒尺寸和表面粗糙度较小,而且磁畴明显,说明以Ti为缓冲层的薄膜样品更适宜做垂直磁记录.
甄聪棉马丽张金娟刘英聂向富
关键词:COCRTA垂直磁记录缓冲层微结构
电化学腐蚀多孔硅的发光特性被引量:2
2008年
采用直流电化学腐蚀的方法在不同电流密度下制备了多孔硅样品.用SEM,FTIR,PL谱研究了制备样品的结构和发光特性.结果表明,多孔硅样品的发光强度和峰位与电流密度存在密切关系,制备的多孔硅存在378,470,714 nm的光致发光,对这几个发光峰的发光机理进行了讨论.
甄聪棉张金娟刘彩霞张永进
关键词:多孔硅电化学腐蚀光致发光量子限制效应
低介电常数材料纳米多孔SiO2特性研究
本文以正硅酸乙酯为先驱体,采用溶胶凝胶工艺结合旋转涂敷的制膜方法,在硅片和玻璃上制备了具有低介电常数的纳米多孔SiO2薄膜,研究了两种不同的催化方式和退火方式对薄膜性质的影响。
张金娟李世强甄聪棉刘彩霞
关键词:超大规模集成电路溶胶凝胶低介电常数纳米多孔二氧化硅薄膜
文献传递
共1页<1>
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