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张梅

作品数:6 被引量:28H指数:3
供职机构:昆明物理研究所更多>>
发文基金:国防科技工业技术基础科研项目更多>>
相关领域:电子电信一般工业技术更多>>

文献类型

  • 4篇期刊文章
  • 2篇会议论文

领域

  • 6篇电子电信
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 2篇碲镉汞
  • 2篇红外
  • 1篇液相外延
  • 1篇探测器
  • 1篇平整度
  • 1篇汽相外延
  • 1篇转鼓
  • 1篇碲锌镉
  • 1篇碲镉汞薄膜
  • 1篇位错
  • 1篇相术
  • 1篇磨抛
  • 1篇机械化学
  • 1篇焦平面
  • 1篇光学
  • 1篇光学测量
  • 1篇红外焦平面
  • 1篇红外探测
  • 1篇红外探测器
  • 1篇厚度

机构

  • 6篇昆明物理研究...
  • 1篇北京理工大学
  • 1篇云南大学

作者

  • 6篇张梅
  • 4篇姬荣斌
  • 3篇吴刚
  • 2篇马庆华
  • 2篇黄晖
  • 2篇赵增林
  • 2篇杨玉林
  • 2篇宋炳文
  • 2篇张静蓉
  • 1篇唐利斌
  • 1篇杨宇
  • 1篇陈建才
  • 1篇李艳辉
  • 1篇何景福
  • 1篇岳全龄
  • 1篇董先庆
  • 1篇王乔方
  • 1篇李汝劼
  • 1篇王贵全
  • 1篇王柯

传媒

  • 3篇红外技术
  • 2篇第十五届全国...
  • 1篇激光与红外

年份

  • 1篇2016
  • 1篇2008
  • 1篇2005
  • 1篇2002
  • 2篇2001
6 条 记 录,以下是 1-6
排序方式:
六面折射转鼓角度误差测量的新方法被引量:3
2016年
介绍了一种利用光电自准直仪测量六面折射转鼓角度误差的新方法及测量原理及测量步骤。该方法一次测量可同时获得中心角和倾角误差数据,可用于六面折射转鼓角度误差的高精度测量。针对精度为0.5?的标准角度块进行测量,实验表明该方法测量精度优于0.5?,可应用到其他多面体类零件角度误差的高精度测量。
王乔方罗龙英李汝劼王柯王贵全彭代东张梅
关键词:光学测量
Hg1-xCdxTe薄模研究进展
本文介绍了昆明物理研究所He1-xCdxTe薄膜材料研究的最新进展,报道了外延薄膜的晶体结构质量、电学参数等.用我所研制的He1-xCdxTe薄膜材料成功地制备出性能较好的焦平面探测器.
姬荣斌张梅吴刚杨玉林张静蓉陈建才马庆华何景福宋炳文
关键词:红外焦平面EPD
文献传递
碲锌镉衬底缺陷对液相外延碲镉汞薄膜结构的影响被引量:15
2005年
采用红外显微镜、X射线双晶回摆衍射法、X射线貌相术对CdZnTe衬底中的沉淀相、亚结构、组分偏析等缺陷进行了研究,并对用此衬底液相外延的HgCdTe薄膜作了测试。结果显示:CdZnTe衬底中亚晶界处聚集的位错在外延生长中呈发散状向薄膜中延伸,造成了薄膜形成亚晶界和更大面积的由位错引起的晶格畸变应力区域,影响了薄膜结构的完整性。
吴刚唐利斌马庆华赵增林张梅黄晖姬荣斌
关键词:HGCDTE薄膜液相外延
碲锌镉晶片的机械化学磨抛分析被引量:11
2008年
对〈111〉方向的三块碲锌镉晶片进行了不同的机械磨抛、化学机械抛光、化学抛光,在相同的测量条件下用三维形貌干涉仪进行表面监测。比较了碲锌镉晶片不同的磨抛方法对碲锌镉晶片表面机械损伤的情况,开展了碲锌镉晶片不同的磨抛方法对损伤的去除程度的对比实验,进行了碲锌镉晶片表面粗糙度及平整度实现的研究。
张梅黄晖
关键词:碲锌镉磨抛粗糙度平整度
MOVPE生长Hg_(1-x)Cd_xTe薄膜的实验研究
2002年
采用金属有机化合物汽相外延法 (MOVPE)和多层膜互扩散生长工艺 (IMP)在不同的生长条件下生长了许多Hg1-xCdxTe/GaAs(2 11)薄膜样品 ,并对样品进行了傅利叶红外透射 (FTIR)和范德堡Hall测量 ;通过对许多实验数据进行系统的对比分析 ,总结了薄膜的生长规律 ,并对这些生长规律作出了理论分析 ,阐释了薄膜的微观生长机制。
张怀若杨玉林张梅李艳辉张静蓉杨宇姬荣斌
关键词:汽相外延厚度红外探测器
Cd1-yZnyTe衬底材料研究进展
本文介绍了昆明物理研究所Cd<,1-y>Zn<,y>Te衬底材料研究的最新进展,测试分析了所生长的Cd<,1-y>Zn<,y>Te单晶x-ray双晶形貌相,腐蚀坑密度(EPD)等,并且测量了微沉积相密度.结果表明,本所自...
姬荣斌赵增林吴刚岳全龄董先庆张梅宋炳文
关键词:碲镉汞薄膜位错
文献传递
共1页<1>
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