唐民
- 作品数：67 被引量：84H指数：6
- 供职机构：中国空间技术研究院更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金更多>>
- 相关领域：电子电信航空宇航科学技术自动化与计算机技术理学更多>>
- 单粒子试验样品开帽保护装置
- 单粒子试验样品开帽保护装置，包括：C型固定底座、纵向可伸缩旋转连杆、横向可移动连杆、锁紧旋钮、滑动固定端、皮筋、橡胶吸盘和阻挡布。在对金属盖板陶瓷封装单粒子试验样品开帽时，将本开帽保护装置上的橡胶吸盘与器件金属盖板连接，...
- 罗磊张磊祝名于庆奎唐民李鹏伟
- 文献传递
- GaAs器件空间位移损伤等效试验用质子能量选择研究
- 针对位移损伤等效试验质子能量选择问题,对比分析了GaAs器件性能退化随入射质子能量的变化规律,结合利用Geant4计算的质子在材料中的非电离能损(NIEL)分析,得出质子能量在50 MeV以上范围,位移损伤等效试验原理对...
- 于庆奎李铮罗磊孙毅梅博李鹏伟李晓良吕贺唐民
- 关键词：GAAS质子
- 用于测量纳米器件低能质子单粒子翻转敏感性的试验方法
- 本发明涉及一种用于测量纳米器件低能质子单粒子翻转敏感性的试验方法，该方法考虑入射质子方向与器件沟道宽度的方向的相关性，给出了进行低能质子单粒子试验时的质子入射方向、角度的选取方法和确定原则；同时给出了金属膜粗调降能和空气...
- 孙毅于庆奎罗磊魏志超唐民梅博吕贺李铮
- 文献传递
- 一种单粒子试验样品开帽保护装置
- 一种单粒子试验样品开帽保护装置，包括：C型固定底座、纵向可伸缩旋转连杆、横向可移动连杆、锁紧旋钮、滑动固定端、皮筋、橡胶吸盘和阻挡布。在对金属盖板陶瓷封装单粒子试验样品开帽时，将本开帽保护装置上的橡胶吸盘与器件金属盖板连...
- 罗磊张磊祝名于庆奎唐民李鹏伟
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- MOS电容器单粒子介质击穿导致GaN功率放大器失效分析被引量：1
- 2019年
- 为验证一款GaN功率放大器抗空间辐射效应能力,对其进行了重离子单粒子效应试验研究。被试样品是由GaN HEMT、MOS电容器和电感器等组成的混合电路。试验源为加速器产生的锗离子(Ge^+13,能量205 MeV),线性能量传输(LET)值为37.4 MeV cm^2/mg。试验结果是:GaN HEMT性能未出现变化;MOS电容器发生了介质击穿失效,造成功率放大器功能失效。经验公式计算的单粒子介质击穿电压,与重离子试验结果基本吻合,得出MOS电容器单粒子介质击穿导致GaN功率放大器失效。研究表明,混合电路中无源的MOS电容器也会发生单粒子介质击穿失效,应用于空间环境时应进行单粒子效应评估。
- 于庆奎张洪伟张洪伟梅博孙毅吕贺梅博李鹏伟唐民吕贺文平
- 关键词：单粒子效应MOS电容器
- 用10MeV质子和钴60γ射线进行CCD空间辐射效应评估被引量：17
- 2008年
- 文章用10MeV质子和钴60γ射线对CCD(Charge Coupled Device)进行了辐照试验,分别计算得到了电离总剂量和位移效应的失效剂量。通过分析比较得出:在空间环境中,相对于电离总剂量效应而言,位移效应对CCD的损伤更为严重。因此,进行CCD辐射效应评估时,不仅要考虑电离总剂量效应,还要考虑位移效应。文章还探讨了评估CCD抗位移损伤能力的方法。
- 于庆奎唐民朱恒静张海明张延伟孙吉兴
- 关键词：CCD
- 超深亚微米SRAM和Flash存储器的辐射效应
- 针对超深亚微米器件航天应用日益增多的情况,以超深亚微米SRAM和Flash存储器为对象,分析了超深亚微米器件的辐射效应规律特点。超深亚微米器件一般具有天然抗总剂量辐射能力,但若接口电路工作电压或编程电压高,则辐射敏感;超...
- 唐民
- 关键词：深亚微米器件SRAMFLASH
- 文献传递
- SRAM型FPGA单粒子效应试验系统及方法
- SRAM型FPGA单粒子效应试验系统及方法包括：单片机处理器、RS232接口电路、USB接口电路、测试FPGA以及存储单元，可以用于SRAM型FPGA的配置存储器和BRAM的故障注入试验，实现SRAM型FPGA的单粒子功...
- 刘迎辉张大宇于庆奎唐民宁永成孟猛张海明李鹏伟罗磊
- 文献传递
- Xilinx低等级FPGA高可靠应用的升级试验方法研究被引量：6
- 2014年
- 随着微电子设计与制造水平的不断提高,部分低质量等级集成电路逐渐地具备了应用于高可靠性要求的军事和宇航领域的能力。Xilinx FPGA作为高性能逻辑器件的典型代表,具有较高的设计和工艺成熟度,在军事和宇航领域有着广阔的应用前景。全面梳理了Xilinx FPGA质量等级的定义规则,详细介绍了Xilinx不同质量等级FPGA的厂家保证情况,提出了Xilinx低质量等级FPGA面向高可靠应用的升级试验方法。
- 刘迎辉朱恒静张大宇唐民宁永成段超
- 关键词：现场可编程门阵列高可靠性
- 宇航器件空间辐射效应地面模拟试验与评估标准规范体系被引量：10
- 2020年
- 宇航器件抗辐射性能主要依靠地面辐射模拟装置开展试验和评估,试验与评估标准规范是科学评价宇航器件抗辐射性能的重要依据。本文针对宇航器件空间辐射效应地面模拟试验的需求,分析了国内外宇航器件空间辐射效应地面模拟试验与评估标准规范的发展现状,研究了器件发展给辐射效应试验方法带来的挑战,提出了满足空间抗辐射性能要求的宇航器件地面模拟试验与评估标准规范体系建设建议,对规范宇航器件抗辐射性能地面模拟试验方法具有参考价值。
- 陈伟唐民唐民郭晓强罗尹虹于庆奎罗尹虹丁李利梅博姚志斌杨善潮丁李利马武英
