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高亦斌

作品数：2 被引量：0H指数：0
供职机构：北京大学更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇中文专利

主题

  • 2篇电势
  • 2篇电势差
  • 2篇一维纳米
  • 2篇一维纳米材料
  • 2篇数据采集
  • 2篇数据采集及处...
  • 2篇探针
  • 2篇同时测量
  • 2篇准一维
  • 2篇准一维纳米材...
  • 2篇微米
  • 2篇微米级
  • 2篇维纳米材料
  • 2篇纳米
  • 2篇纳米材料
  • 2篇纳米探针

机构

  • 2篇北京大学

作者

  • 2篇高亦斌
  • 2篇彭练矛
  • 2篇王烨
  • 2篇王俊逸
  • 2篇许胜勇

年份

  • 1篇2011
  • 1篇2009
共 2 条 记 录，以下是 1-2
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排序方式：
一种测量准一维纳米材料赛贝克系数的方法和系统
本发明公开了一种测量准一维纳米材料赛贝克系数的方法和系统，使两个横截面尺度为微米级的线状过渡电极分别与两个厘米级的块状金属电极相接触，然后利用纳米探针系统使单根的待测准一维纳米材料连接两个过渡电极，改变两个块状金属电极之...
许胜勇高亦斌王俊逸王烨彭练矛
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一种测量准一维纳米材料赛贝克系数的方法和系统
本发明公开了一种测量准一维纳米材料赛贝克系数的方法和系统，使两个横截面尺度为微米级的线状过渡电极分别与两个厘米级的块状金属电极相接触，然后利用纳米探针系统使单根的待测准一维纳米材料连接两个过渡电极，改变两个块状金属电极之...
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