您的位置： 专家智库 > >

刘鸿琴

作品数：6 被引量：10H指数：2
供职机构：江南计算技术研究所更多>>
相关领域：电子电信自动化与计算机技术经济管理电气工程更多>>

合作作者

文献类型

  • 4篇会议论文
  • 2篇期刊文章

领域

  • 4篇电子电信
  • 2篇自动化与计算...
  • 1篇经济管理
  • 1篇电气工程

主题

  • 2篇电磁
  • 2篇电磁干扰
  • 2篇电磁干扰(E...
  • 2篇电磁兼容
  • 2篇电磁兼容(E...
  • 2篇电磁敏感度
  • 2篇EMS
  • 1篇电磁辐射
  • 1篇电路
  • 1篇电子设备
  • 1篇性能特点
  • 1篇自动测试系统
  • 1篇误差分析
  • 1篇集成电路
  • 1篇高速存储器
  • 1篇半导体
  • 1篇半导体产业
  • 1篇半导体存储
  • 1篇半导体存储器
  • 1篇SOC

机构

  • 6篇江南计算技术...
  • 1篇中国科学院
  • 1篇中国电子技术...
  • 1篇中华人民共和...
  • 1篇北京华大泰思...
  • 1篇上海华碧检测...

作者

  • 6篇刘鸿琴
  • 1篇王剑
  • 1篇陈大为
  • 1篇孙加兴
  • 1篇时万春
  • 1篇吉国凡

传媒

  • 2篇国外电子测量...
  • 2篇2002年全...
  • 1篇第五届中国测...

年份

  • 1篇2008
  • 1篇2004
  • 2篇2002
  • 2篇2001
共 6 条 记 录，以下是 1-6
全选 清除 导出
排序方式：
IC工程测试和生产测试
IC工程测试和生产测试直接涉及IC设计、生产产品的性能、指标、应用和价格,并最后直接面对市场和效益的考验和取向。专题发言对IC产业化测试进行了较为完整和系统的阐述,特别介绍和分析了IC产业化测试和验证的几个重要流程。IC...
时万春吉国凡陈大为刘鸿琴刘学森孙加兴
文献传递
ATE产业发展的新动向被引量：7
2004年
本文从半导体产业的飞速发展 ,新型集成电路ASIC、SOC等器件的出现 ,分析了对IC测试提出的新要求和挑战。阐述了ATE(自动测试设备 )产业可采取的新的解决方案及新型测试系统的性能与特点。最后 。
刘鸿琴
关键词：半导体产业ATEIC测试SOC集成电路
新型大容量高速存储器的测试
本文以半导体存储器工艺的不断进步和市场需求为背景,阐述了新型大容量高速存储器的性能特点和对测试技术提出的新挑战,以及探讨应采取的对策.
刘鸿琴
关键词：半导体存储器测试技术性能特点
文献传递
浅谈电磁兼容及其测试
本文介绍了电磁兼容（EMC）的基本概念,电磁干扰（EMI）的危害;阐述了抑制电磁干扰、实现电磁兼容的主要措施及测试技术。
刘鸿琴
文献传递
GTEM法辐射敏感度自动测试系统
本文阐述了以GTEM传输室为测试场地建立起的小型电子设备的电磁辐射敏感度自动测试系统的工作原理、方法和步骤.并对其测试结果进行了基本的误差分析.
王剑刘鸿琴
关键词：自动测试系统电磁辐射误差分析电子设备
文献传递
浅谈电磁兼容及其测试被引量：3
2001年
本文介绍了电磁兼容(EMC)的基本概念,电磁干扰(EMI)的危害;阐述了抑制电磁干扰、实现电磁兼容性的主要措施及测试技术。
刘鸿琴
全选 清除 导出
共1页<1>
聚类工具0