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魏月环

作品数:2 被引量:7H指数:1
供职机构:上海理工大学更多>>
发文基金:国家高技术研究发展计划上海市教委科研基金更多>>
相关领域:理学机械工程一般工业技术更多>>

文献类型

  • 1篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 1篇机械工程
  • 1篇一般工业技术
  • 1篇理学

主题

  • 2篇自混合干涉
  • 2篇颗粒粒径
  • 2篇激光
  • 2篇激光自混合干...
  • 1篇亚微米
  • 1篇微米
  • 1篇光学
  • 1篇光学测量
  • 1篇反问题

机构

  • 2篇上海理工大学
  • 1篇徐州师范大学

作者

  • 2篇沈建琪
  • 2篇于海涛
  • 2篇魏月环
  • 2篇王华睿
  • 1篇蔡小舒

传媒

  • 1篇光学学报

年份

  • 2篇2008
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
激光自混合干涉法纳米颗粒粒径的测量
纳米颗粒的独特性质往往由纳米颗粒的粒径决定,因此纳米颗粒粒径的测量具有重要的意义。本文中展示了一种新的纳米颗粒粒径的测量技术,即激光自混合干涉技术(SMI)。与著名的纳米颗粒测量技术 PCS 和 PCCS 比较,该技术结...
王华睿沈建琪蔡小舒于海涛魏月环
关键词:颗粒粒径
文献传递
激光自混合干涉法亚微米及纳米颗粒测量中的反问题被引量:7
2008年
基于Kaczmarz投影算法对反问题进行了详细的研究。选取颗粒线分布函数作为反演对象,改进了Kaczmarz投影算法,使投影过程发生在较大夹角的超平面之间。数值模拟了含5%和10%的测量误差时宽单峰、窄单峰、双峰和三峰四种粒径分布的反演,结果显示改进投影算法得出的粒径分布与输入的粒径分布更好得吻合。实验测量了标称为60nm和180nm两种单分散颗粒,结果表明改进投影算法得出的粒径分别为54.95nm和190.55nm,而原先投影算法得出的粒径为83.18nm和288.40nm,进一步显示改进投影算法提高了测量结果的准确性。
王华睿沈建琪于海涛魏月环
关键词:光学测量颗粒粒径反问题
共1页<1>
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