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陆卫杰

作品数:12 被引量:5H指数:1
供职机构:复旦大学更多>>
发文基金:国家自然科学基金教育部留学回国人员科研启动基金更多>>
相关领域:理学机械工程一般工业技术电子电信更多>>

文献类型

  • 6篇会议论文
  • 5篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 4篇理学
  • 3篇机械工程
  • 3篇一般工业技术
  • 1篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 5篇硅纳米晶
  • 4篇实时监控
  • 4篇光谱
  • 3篇宽光谱
  • 3篇光学
  • 2篇单波长
  • 2篇电子束蒸发
  • 2篇折叠
  • 2篇硅纳米晶体
  • 2篇非线性光学性...
  • 2篇薄膜生长
  • 2篇波长
  • 1篇电子束
  • 1篇圆偏振
  • 1篇折射率
  • 1篇蒸发制备
  • 1篇色散
  • 1篇色散特性
  • 1篇偏振
  • 1篇椭圆偏振

机构

  • 12篇复旦大学
  • 2篇华南理工大学
  • 2篇中国海洋大学

作者

  • 12篇陆卫杰
  • 11篇张荣君
  • 10篇陈良尧
  • 10篇郑玉祥
  • 7篇蔡清元
  • 3篇张冬旭
  • 2篇陈一鸣
  • 2篇林崴
  • 2篇李晶
  • 2篇杨月梅
  • 2篇吴康宁
  • 2篇郑荣儿
  • 2篇王松有
  • 2篇陆继东
  • 2篇姚顺春
  • 2篇赵海斌
  • 1篇俞翔
  • 1篇俞翔
  • 1篇陈剑科
  • 1篇周薇溪

传媒

  • 1篇激光与光电子...
  • 1篇中国激光
  • 1篇光学学报
  • 1篇分析仪器
  • 1篇光谱仪器与分...
  • 1篇长三角地区科...

年份

  • 1篇2015
  • 1篇2012
  • 4篇2011
  • 4篇2010
  • 2篇2009
12 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
二维多光栅折叠光谱分析仪的研制
2012年
宽光谱、高分辨、高速光谱获取和分析技术在光电子材料、太阳能、化学、生物医学、环境、国防等领域具有重要的研究意义和应用价值,是现代光谱分析仪器的核心。为了实现宽光谱、高分辨率和快速的光谱测量和分析,在本研究中,突破传统单光栅和棱镜等色散元件有限色散角和光谱效率的限制,采用二维CCD面阵光电探测技术,将具有不同闪耀角和色散特性的10光栅进行集成组合,在200~1000nm光谱区,获得10重折叠光谱,成像在CCD面阵探测器的焦平面上,从而将光谱的有效探测区长度扩展了10倍,达到268mm。经系统定标后,测量结果显示,无需任何机械位移部件,新的光谱分析系统可达到优于0.1nm的分辨率,能够在0.1s时间内完成200~1000nm全光谱数据的快速获取和分析,将能够在科学研究和高科技领域获得重要应用,体现了高性能光谱分析技术研究和发展的趋势。
陈剑科陆卫杰王松有李晶张荣君杨月梅郑玉祥赵海斌陈良尧郑荣儿陆继东姚顺春
薄膜生长在位监控研究进展
在薄膜的生长工艺中,如何在位实时获取薄膜的厚度,一直是人们关注的问题。目前,比较成熟的方法有石英晶体振荡法和光学监控方法。作为一种直接非破坏的在位监控方法,光学监控方法具有广泛的应用前景。本工作是基于单波长监控原理和宽光...
张冬旭郑玉祥蔡清元陆卫杰林崴吴康宁张荣君陈良尧
文献传递
硅纳米晶体与尺寸相关的介电函数谱被引量:1
2010年
嵌埋于SiO2中的硅纳米晶体具有结构稳定、发光性质可。控和制备简便等特点,受到广泛关注和研究。在设计与研制基于硅纳米晶体的应用器件时,需掌握不同尺寸硅纳米晶体的复介电函数或复折射率,因为这些参数决定了硅纳米晶体的光学性质,同时介电函数与晶体的能带结构相关联,直接反映晶体对外场的响应。对介电函数的研究也有助于了解量子限制尺寸下半导体的性质,在基础物理研究的角度上也有重要的意义。
张荣君陈一鸣陆卫杰蔡清元郑玉祥陈良尧
关键词:硅纳米晶体介电函数尺寸发光性质SIO2复折射率
薄膜生长设备中近红外宽光谱监控系统的研制
薄膜材料与器件已大量应用于微电子、光通讯、光传感、光存储等光电子产业中,应用前景光明。为了提高薄膜质量,通常需要对薄膜生长过程进行实时监控。宽光谱监控方法因其能实时追踪薄膜光谱的变化,并能监控非λ/4膜系而逐渐为人们所关...
郑玉祥陈良尧张荣君陆卫杰蔡清元张冬旭
文献传递
二维折叠光谱分析研究被引量:1
2011年
宽光谱、高分辨、高速光谱获取和分析技术在光电子材料、太阳能、化学、生物医学、环境、国防等领域具有重要的研究意义和应用价值,是现代光谱分析仪器的核心。为了实现宽光谱、高分辨率和快速的光谱测量和分析,在本研究中,突破传统单光栅和棱镜等色散元件有限色散角和光谱效率的限制,采用二维CCD面阵光电探测技术,将具有不同闪耀角和色散特性的10光栅进行集成组合,在200-1000nm光谱区,获得10重折叠光谱,成像在CCD面阵探测器的焦平面上,从而将光谱的有效探测区长度扩展了10倍,达到268mm。经系统定标后,测量结果显示,无需任何机械位移部件,新的光谱分析系统可达到优于0.1nm的分辨率,能够在0.1s时间内完成200-1000nm全光谱数据的快速获取和分析,将能够在科学研究和高科技领域获得重要应用,体现了高性能光谱分析技术研究和发展的趋势。
陈良尧郑玉祥赵海斌陈剑科陆卫杰王松有李晶张荣君杨月梅郑荣儿陆继东姚顺春
关键词:光谱测量宽光谱色散特性焦平面
硅纳米晶的椭圆偏振光谱研究被引量:3
2010年
硅纳米晶量子点是硅发光研究领域最有潜力、最重要的一个研究方向。用热蒸发法在硅片上生长了富含硅纳米晶体的SiO2薄膜,观测到嵌埋于SiO2薄膜中硅纳米晶的较强光致发光谱;室温下在可见光区对该薄膜进行了椭圆偏振光谱测量研究。用有效介质近似(EMA)模型结合洛伦兹色散模型对椭偏参数进行了拟合,得到直径分别约为3 nm和5 nm大小的硅纳米晶在约300~830 nm光谱区的光学常数值。这些数据在硅基微纳光子学器件的研究中具有一定的参考价值。
张荣君陆卫杰蔡清元俞翔周薇溪郑玉祥陈良尧
关键词:薄膜光学光学常数硅纳米晶尺寸效应
电子束蒸发薄膜制备系统宽光谱实时监控设计和实现
陆卫杰张荣君蔡清元郑玉祥陈良尧
薄膜生长在位监控研究进展
张冬旭郑玉祥蔡清元陆卫杰林崴吴康宁张荣君陈良尧
可扩展光学薄膜Mapping测量平台的设计与实现
2009年
根据模块化的设计思想,设计并实现了一个可扩展的光学薄膜Mapping测量平台。通过添加设备模块,可以使此平台支持多种Mapping测量类型。利用此平台成功测量了波分复用(WDM)滤波片的透射光谱特性Mapping图。
陆卫杰张荣君陈一鸣郑玉祥程序李传文陈良尧
关键词:可扩展性
宽光谱监控电子束蒸发薄膜制备系统的研制与应用
光学薄膜材料在人们的生活中变得日趋重要。光学薄膜的制备技术在近几十年来得到不断发展,而如何对薄膜的制备过程进行实时监测,以及如何通过监测干预制备过程使过程得到有序的控制,一直是人们所关注的课题。光学实时监控利用光学方法实...
陆卫杰
关键词:硅纳米晶非线性光学性质
文献传递
共2页<12>
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