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高冬美

作品数:5 被引量:2H指数:1
供职机构:桂林理工大学机械与控制工程学院更多>>
发文基金:广西壮族自治区自然科学基金广西研究生教育创新计划项目广西省自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信自动化与计算机技术理学电气工程更多>>

文献类型

  • 4篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 3篇电子电信
  • 2篇自动化与计算...
  • 1篇电气工程
  • 1篇理学

主题

  • 3篇载流子
  • 3篇载流子寿命
  • 3篇少数载流子
  • 3篇少数载流子寿...
  • 2篇虚拟仪器
  • 2篇半导体
  • 2篇4H-SIC
  • 1篇信号
  • 1篇信噪比
  • 1篇噪声
  • 1篇噪声背景
  • 1篇弱信号
  • 1篇少子寿命
  • 1篇深能级
  • 1篇深能级瞬态谱
  • 1篇声学
  • 1篇瞬态
  • 1篇探测器
  • 1篇退火
  • 1篇能级

机构

  • 5篇桂林理工大学

作者

  • 5篇高冬美
  • 4篇韦艳冰
  • 4篇陆绮荣
  • 4篇黄彬

传媒

  • 1篇计算机应用
  • 1篇激光技术
  • 1篇噪声与振动控...
  • 1篇中国测试

年份

  • 1篇2012
  • 4篇2011
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
基于深能级瞬态谱的深能级中心的仿真被引量:1
2011年
介绍了深能级瞬态谱(DLTS)的基本原理,作了n型样品的深能级瞬态谱的计算。描述了DLTS信号的仿真方法,对n型6H-SiC中的一个深能级陷阱中心用Labview进行了仿真实验,探讨了率窗值等各参数对DLTS信号形状的影响。仿真结果表明,DLTS峰值温度及半宽度随着所有的参数改变而变化,但峰值的高度只与率窗值的选择有关。
陆绮荣黄彬韦艳冰高冬美
关键词:深能级瞬态谱深能级仿真
P型4H-SiC少数载流子寿命的研究被引量:1
2012年
为了更好地了解P型4H-SiC的电学特性,评价其晶体质量,利用激光和微波技术作为非接触、非破坏性测量半导体特性的一种工具,详细描述了该测试方法和实验装置,讨论了高温退火前后晶片中少数载流子寿命的变化,并用LabVIEW对测试数据进行了拟合。结果表明:高温退火能提高载流子寿命,并且实验数据与拟合结果较符合。说明了微波光电导衰减法(μ-PCD)是一种测试少子寿命的快速、有效方法,对研究半导体材料性能具有重要意义;同时,研究高温退火条件下少子寿命的变化,对提高其材料的电性能也具有重要意义。
高冬美陆绮荣韦艳冰黄彬
关键词:半导体技术少子寿命高温退火
强噪声背景下的微弱信号检测新方法
2011年
提出新的强噪声背景下的微弱信号检测方法,设计一种硬件与软件相结合的实现方案。采用经典的仪表放大技术和单片机控制技术对数据进行检测和处理,并通过虚拟仪器技术仿真和显示,为解决热释电红外探测器中μA级微弱信号的检测提供了十分有效的方法。最后通过对模拟低频微弱信号的检测实验,充分显示该系统在微弱信号检测方面的实用性和优越性。
韦艳冰陆绮荣黄彬高冬美
关键词:声学强噪声背景红外探测器微弱信号信噪比虚拟仪器
微波光电导衰减法测量N型4H-SiC少数载流子寿命
2011年
为了更好地了解N型4H-SiC的电学特性,评价其晶体质量,采用激光技术和微波光电导作为非接触、非破坏性测量半导体特性的一种工具,描述了其测试原理和实验装置,并讨论了不同的激发强度下,其少数载流子寿命的变化。结果表明,改变入射激光能量(即光子注入水平),样品电压峰值与激发强度成正比,对其载流子寿命几乎没有影响。该方法能方便快捷地测量载流子的寿命,对SiC材料性能的研究具有重要意义。
高冬美陆绮荣韦艳冰黄彬
关键词:激光技术少数载流子寿命4H-SIC
半导体材料少数载流子寿命虚拟测试系统的研究
半导体的检测与分析是一个介于基础研究与应用研究之间的领域,涉及内容广泛。随着半导体科学技术的快速发展,半导体材料测试与分析的内容也在不断的发生变化。少数载流子寿命(以下简称少子寿命)可以用来表征材料纯度与结构完整性,是半...
高冬美
关键词:少数载流子寿命虚拟仪器LABVIEW
文献传递
共1页<1>
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