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陈赟飞

作品数：9 被引量：1H指数：1
供职机构：重庆大学更多>>
发文基金：中央高校基本科研业务费专项资金更多>>
相关领域：自动化与计算机技术金属学及工艺更多>>

合作作者

文献类型

  • 7篇专利
  • 1篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 1篇金属学及工艺
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 4篇工业CT
  • 3篇射束硬化
  • 2篇射线
  • 2篇投影数据
  • 2篇图像
  • 2篇图像重建
  • 2篇求取
  • 2篇准直器
  • 2篇校正方法
  • 2篇客服
  • 2篇厚度测量
  • 2篇测厚
  • 1篇单端
  • 1篇电路装置
  • 1篇电平
  • 1篇电压
  • 1篇移植性
  • 1篇振荡器
  • 1篇时钟
  • 1篇时钟信号

机构

  • 9篇重庆大学

作者

  • 9篇陈赟飞
  • 8篇高富强
  • 7篇冯永
  • 7篇兰扬
  • 7篇安康
  • 7篇严强
  • 7篇李岭
  • 6篇周钦
  • 2篇蔡玉芳
  • 2篇陈研
  • 2篇赵晋峰
  • 1篇周钦

传媒

  • 1篇核电子学与探...

年份

  • 2篇2015
  • 7篇2013
共 9 条 记 录，以下是 1-9
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排序方式：
一种基于卷积的X射线CT系统射束硬化校正方法
本发明公开了一种基于卷积的X射线CT系统射束硬化校正方法，属于工业CT系统应用领域；该方法包括以下步骤：一：将铅箔过滤片紧贴后准直器放置进行散射校正；二：设置CT系统扫描参数；三：不开射线源，采集系统的本底值；四：打开射...
高富强周钦蔡玉芳陈赟飞冯永李岭兰扬严强安康
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一种用于工业CT探测器的采集电路装置及方法
本发明公开了一种用于工业CT探测器的采集电路装置和方法，属于工业CT探测器应用领域；该装置包括一个FPGA、一个信号选择单元、一个放大反相电路、一个单端转差分电路、一个A/D转换单元和两个电平转换单元；FPGA通过电平转...
高富强李岭安康赵晋峰严强兰扬冯永陈赟飞周钦陈研
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一种用于CT探测采集系统的测试光源装置
本发明公开了一种用于CT探测采集系统的测试光源装置，属于CT探测采集系统测试领域；该装置包括一组产生光照的光源、一组用于检测光强值的光强传感器、一组用于调节光源供电电压的数字电阻以及一个核心处理器；每个光源对应有一个光强...
高富强李岭冯永赵晋峰陈研兰扬严强陈赟飞周钦
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一种基于卷积的X射线CT系统射束硬化校正方法
本发明公开了一种基于卷积的X射线CT系统射束硬化校正方法，属于工业CT系统应用领域；该方法包括以下步骤：一：将铅箔过滤片紧贴后准直器放置进行散射校正；二：设置CT系统扫描参数；三：不开射线源，采集系统的本底值；四：打开射...
高富强周钦蔡玉芳陈赟飞冯永李岭兰扬严强安康
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基于负指数拟合校正的X射线测厚算法研究
X射线测厚在板带金属材料的厚度测量中广泛使用。然而X射线的多能谱特性和射束硬化效应给X射线测厚带来了困难。因此，要得到高精度的测量结果，对X射线测厚方法的研究就显得尤为重要。　　本文以X射线衰减规律为依据，在分析以往X射...
陈赟飞
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一种光电编码器旋转脉冲显示装置
本发明公开了一种光电编码器旋转脉冲显示装置，属于光电编码器测量应用领域；该显示装置包括一个光电耦合器、一个现场可编程门阵列FPGA、一个晶体振荡器、一个配置芯片和一个显示装置；光电耦合器接收光电编码器输出的AB两相脉冲信...
高富强严强安康李岭兰扬陈赟飞冯永
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一种X射线测厚方法及装置
本发明公开了一种X射线测厚方法及装置，属于射线测量领域；该X射线测厚方法包括步骤（1）：设置X射线发射器，调节其发射参数；步骤（2）：开启X射线发射器，测量未放置物体时空气中的射线能量数据I<Sub>0</Sub>；步骤...
高富强陈赟飞周钦安康冯永严强李岭兰扬
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一种X射线测厚方法及装置
本发明公开了一种X射线测厚方法及装置，属于射线测量领域；该X射线测厚方法包括步骤（1）：设置X射线发射器，调节其发射参数；步骤（2）：开启X射线发射器，测量未放置物体时空气中的射线能量数据I<Sub>0</Sub>；步骤...
高富强陈赟飞周钦安康冯永严强李岭兰扬
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一种X射线测厚校正方法的研究被引量：1
2013年
针对工业CT系统中所使用的X射线是一种多能谱射线,进而导致厚度测量不准确的现象,介绍了X射线测厚原理,分析了X射线在对物体进行厚度测量时发生射束硬化现象对测量结果的影响,推导出一种用于测厚的校正数学模型,并通过CD-300BXR型工业CT研究平台对该数学模型进行了验证。实验结果表明,当被测钢板厚度范围为5～50 mm时,利用该校正模型进行测厚的相对误差在±0.5%以内,能满足实际测厚需求。
高富强陈赟飞安康周钦
关键词：工业CTX射线测厚
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