闫石
- 作品数：3 被引量：6H指数：2
- 供职机构：北华大学物理学院更多>>
- 发文基金：吉林省教育厅科研项目国家自然科学基金更多>>
- 相关领域：理学更多>>
- Ce_(0.8)Gd_(0.2-x)Pr_xO_(1.9)固溶体的合成与表征被引量：2
- 2011年
- 利用X射线衍射（XRD）、拉曼光谱（Raman）、X射线光电子能谱（XPS）和交流阻抗谱对溶胶-凝胶法制备的稀土双掺杂固溶体Ce0.8Gd0.2-xPrxO1.9（x=0,0.02,0.10）的结构和导电性进行了研究.XRD结果表明,经800℃焙烧所得样品都形成了单相立方萤石结构,平均晶粒尺寸在23~30 nm之间;XPS结果表明,样品中Pr离子以混合价态Pr3＋和Pr4＋存在;Raman光谱结果表明,Ce0.8Gd0.2-xPrxO1.9（x=0,0.02,0.10）具有氧缺位的立方萤石结构,Pr离子的掺杂使氧缺位浓度增加;阻抗谱结果表明,稀土双掺杂的固溶体Ce0.8Gd0.2-xPrxO1.9（x=0.02,0.10）的电导率高于稀土单掺杂的固溶体Ce0.8Gd0.2O1.9（σ600℃=1.62×10-3S/cm,Ea=1.12 eV）,其中Ce0.8Gd0.10Pr0.10O1.9的电导率最大（σ600℃=6.15×10-3S/cm）,导电活化能最小[Ea=0.64 eV（〈400℃）,Ea=0.82 eV（〉400℃）],这与样品Ce0.8Gd0.2-xPrxO1.9内部更多的氧离子缺位和小极化子电子导电有关.
- 林晓敏孙嘉苓闫石朱丽丽苏文辉
- 关键词：X射线光电子能谱拉曼光谱
- Ce_(0.8)Nd_(0.2-x)Pr_xO_(1.9)固溶体的Raman光谱与阻抗谱被引量：3
- 2009年
- 用溶胶-凝胶法合成了氧化铈稀土双掺杂Ce0.8Nd0.2-xPrxO1.9(x=0,0.10,0.15)固溶体。用X射线衍射(X-ray diffraction,XRD),Raman光谱和交流阻抗谱研究了固溶体的结构和导电性。XRD结果表明:经800℃焙烧所有的样品都形成了单相立方萤石结构,平均晶粒尺寸为22～32nm。X射线光电子能谱结果表明:样品中镨离子以混合价态(Pr3+和Pr4+)存在。Raman谱结果表明:Ce0.8Nd0.2-xPrxO1.9具有氧缺位的立方萤石结构,Pr离子的掺杂有利于氧缺位增加。阻抗谱表明:稀土双掺杂Ce0.8Nd0.2-xPrxO1.9(x=0.10,0.15)的电导率高于稀土单掺样品Ce0.8Nd0.2O1.9的,Ce0.8Nd0.05Pr0.15O1.9的电导率最大,在600℃时的电导率为2.63×10-2S/cm,导电活化能Ea=0.40eV(600～800℃),Ea=0.62eV(400～600℃),与Ce0.8Nd0.05Pr0.15O1.9材料内部更多的氧离子缺位和小极化子电子导电相关。
- 林晓敏万鹏朱丽丽闫石苏文辉
- 关键词：氧缺位RAMAN谱阻抗谱
- Ce1-xPrxO2-δ(x=0.05～0.30)固溶体的合成及其性质研究被引量：2
- 2009年
- 利用溶胶-凝胶法合成了固溶体Ce1-xPrxO2-δ(x=0.05～0.30).X射线衍射(XRD)分析表明,在x≤0.30的范围内形成了单相萤石结构固溶体Ce1-xPrxO2-δ;X射线光电子能谱(XPS)结果表明,样品中氧缺位浓度随掺杂量增大而增大,铈离子主要为Ce4+离子,镨离子以混合价态Pr3+和Pr4+存在;拉曼光谱(Raman)观察到两个峰,458cm-1峰为特征F2g振动谱带,较宽的570cm-1峰与样品中氧离子缺位有关;交流阻抗谱测试表明,固溶体Ce1-xPrxO2-δ的电导率随掺杂量增加而增大,x=0.2时,电导率达到最大,活化能较低,σ600℃=3.28×10-2S/cm,σ700℃=6.06×10-2S/cm,Ea=0.54eV(250～650℃),Ea=0.49eV(650～800℃).
- 林晓敏闫石朱丽丽李莉萍苏文辉
- 关键词：溶胶-凝胶法X射线光电子能谱拉曼光谱电导率
