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姜晓鸿
作品数:
40
被引量:30
H指数:4
供职机构:
西安电子科技大学
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合作作者
沈玉龙
西安电子科技大学
董学文
西安电子科技大学
乔慧
西安电子科技大学
郝跃
西安电子科技大学微电子学院微电...
马诗洋
西安电子科技大学
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1996
2篇
1993
1篇
1992
共
40
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一种基于区块链的加密货币用户特征挖掘、异常用户检测方法
本发明属于区块链的特征挖掘技术领域,公开了一种基于区块链的加密货币用户特征挖掘、异常用户检测方法,获取区块链加密货币的交易数据,对交易数据进行处理,得到交易id、发送方假名、接收方假名、交易加密货币数量和交易时间戳等交易...
沈玉龙
杨凌霄
董学文
姜晓鸿
乔慧
谷鑫雨
郑乐乐
宋雄飞
文献传递
签到结果判定方法、系统、存储介质、计算机程序、终端
本发明属于信息处理技术领域,公开了一种签到结果判定方法、系统、存储介质、计算机程序、终端,利用机器学习中的地址聚类算法对存在偏差的定位信息进行判定,采用K最近邻分类算法,每个样本都用它最接近的K个邻居代表;如果一个样本在...
沈玉龙
王祥阳
翟开放
张志为
姜晓鸿
郭得科
文献传递
一种基于混合区块链的高性能众包系统及任务隐私保护方法
本发明属于互联网/区块链技术领域,公开了一种基于混合区块链的高性能众包系统及任务隐私保护方法,系统的混合区块链架构包含一条公有区块链和多条私有任务区块链,且任务在各个区块链上并行处理;公有区块链存储系统用户和众包任务的公...
沈玉龙
佟威
董学文
姜晓鸿
杨凌霄
田文生
乔慧
马诗洋
谷鑫雨
冶英杰
郭校杰
文献传递
IC制造中的真实缺陷轮廓表征方法研究
被引量:12
1998年
为了进行有效的集成电路(IC)成品率预报及故障分析,与光刻有关的硅片表面缺陷通常被假定为圆形的或方形的。然而,真实缺陷的形貌是多种多样的。本文提出一种准确的缺陷表征模型。该模型考虑了缺陷的真实轮廓,并且针对短路和开路模式,在引起故障概率相同的意义下将真实缺陷等效为圆形缺陷,实现了硅片表面缺陷的精细表征。
姜晓鸿
郝跃
徐国华
关键词:
成品率
IC
基于区块链的安全识别方法、安全识别系统及存储介质
本发明属于网络通信/区块链技术领域,公开了一种基于区块链的安全识别方法、安全识别系统及存储介质,域内各个网络转发设备产生新的网络信息;域内SDN控制器共识各设备提交的网络信息;跨域SDN控制器共识各域提交的网络信息;跨域...
沈玉龙
佟威
董学文
姜晓鸿
杨凌霄
田文生
乔慧
马诗洋
谷鑫雨
冶英杰
郭校杰
文献传递
IC制造中真实缺陷轮廓的分形特征
被引量:10
1998年
为了进行有效的集成电路(IC)成品率预报及故障分析,与光刻有关的硅片表面缺陷通常被假定为圆形的或方形的.然而,真实的缺陷的形貌是多种多样的.本文讨论了缺陷轮廓所具有的分形特征.
姜晓鸿
郝跃
许冬岗
徐国华
关键词:
IC
分形
基于区块链的分布式众包系统、方法、存储介质及终端
本发明属于互联网/区块链技术领域,公开了一种基于区块链的分布式众包系统、方法、存储介质及终端,任务发布者发布众包任务并交付押金;分布式验证者验证任务信息,通过验证后锁定任务押金并存储任务到区块链;工人端从区块链查询并领取...
沈玉龙
佟威
董学文
姜晓鸿
杨凌霄
田文生
乔慧
马诗洋
谷鑫雨
冶英杰
郭校杰
文献传递
集成电路制造中真实缺陷位置的提取方法
被引量:4
1999年
提出一种IC缺陷特征的提取算法,该算法能自动检测出IC缺陷的位置.在预处理阶段,利用形态开运算消除小缺陷和背景噪音,对开后的结果图像进行形态腐蚀,获得冗余物型缺陷的位置特征.实验证明了该算法的正确性.该结果为计算机自动检测IC真实缺陷提供了有效的途径.
王俊平
姜晓鸿
姜晓鸿
方敏
一种具有隐私保护特性的双向身份认证方法、服务器
本发明属于以协议为特征的技术领域,公开了一种具有隐私保护特性的双向身份认证方法、服务器,包括:初始化阶段、注册阶段、登录阶段以及相互认证和密钥协商阶段。本发明的双向认证方法,采用增强存储在智能卡中相关参数的安全性,使用混...
乔慧
沈玉龙
董学文
姜晓鸿
武峰
郑佳伟
杨晓宙
刘启航
程珂
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基于时变参数预报的自适应广义预测控制
姜晓鸿
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