靳永欣
- 作品数：3 被引量：23H指数：3
- 供职机构：大连理工大学工程力学系工业装备结构分析国家重点实验室更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金辽宁省博士科研启动基金更多>>
- 相关领域：建筑科学自动化与计算机技术理学电子电信更多>>
- 电子封装件受热载荷作用有限元数值模拟分析被引量：14
- 2005年
- 针对典型塑料方形扁平封装体PQFP在工作过程中的受热分析问题,基于热弹性力学理论建立了二维和三维有限元数值模拟分析模型.研究了封装体在功率耗散情况下受均匀和非均匀热载作用时其材料的热膨胀和导热性质.有限元数值模拟取得了与实验一致的结果.数值结果表明,采用较小弹性模量和热膨胀率的材料可以有效地减小热应力,基板和芯片的厚度是影响封装体变形的主要参数.数值分析结果为提高封装件的可靠性和优化设计提供了理论依据.
- 葛增杰顾元宪王宏伟靳永欣
- 关键词：载荷作用电子封装受热热弹性力学功率耗散体变形
- PBGA封装体的热-结构数值模拟分析及其优化设计被引量：6
- 2006年
- 基于热弹性力学和结构优化理论,针对典型的PBGA封装体在工作过程中的受热问题,建立了有限元数值模拟分析模型.模型中考虑了完全和部分两种焊点阵列形式,采用了基于散热功率的热生成加载、热循环加载和热循环、热生成综合加载三种方式.计算结果与文献中的实验结果进行了比较,并讨论了各层材料的主要参数对封装体热-结构特性的影响.算例结果表明对电子封装体的热-结构特性分析采用有限元数值模拟是可行的,并据此分别以最大应力最小化和封装体质量最轻为目标,对封装体进行了优化设计,为提高封装件的可靠性和优化设计提供了理论依据.
- 葛增杰顾元宪靳永欣赵国忠
- 关键词：热弹性力学有限元焊点可靠性热循环热应力
- 集成电路芯片封装的热—结构数值模拟分析及优化设计
- 该文基于热传导、热弹性力学和结构优化理论,针对典型的PBGA封装体采用了热—结构数值模拟,重点对其热变形、热应力以及焊点的可靠性进行了分析.在分析基础上以封装体的几何尺寸和材料属性为设计变量对PBGA封装件进行了优化设计...
- 靳永欣
- 关键词：有限元电子封装热变形热应力焊点可靠性优化设计
- 文献传递
