您的位置: 专家智库 > >

唐一川

作品数:11 被引量:14H指数:2
供职机构:中国计量科学研究院更多>>
相关领域:理学化学工程一般工业技术自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 5篇专利
  • 4篇期刊文章
  • 2篇会议论文

领域

  • 6篇理学
  • 2篇化学工程
  • 1篇自动化与计算...
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 8篇质谱
  • 6篇辉光放电质谱
  • 4篇辉光
  • 4篇辉光放电
  • 3篇质谱仪
  • 3篇辉光放电质谱...
  • 3篇痕量
  • 3篇痕量杂质
  • 2篇沾污
  • 2篇质谱法
  • 2篇质谱法测量
  • 2篇熔铸
  • 2篇时间校准
  • 2篇数字签名
  • 2篇数字签名技术
  • 2篇签名
  • 2篇签名技术
  • 2篇区块
  • 2篇校准
  • 2篇离子

机构

  • 11篇中国计量科学...
  • 1篇核工业北京地...
  • 1篇中国原子能科...
  • 1篇天津理工大学

作者

  • 11篇唐一川
  • 8篇周涛
  • 4篇崔彦杰
  • 2篇方向
  • 2篇熊行创
  • 2篇吴冰
  • 2篇田锋
  • 1篇徐常昆
  • 1篇马联弟
  • 1篇史乃捷
  • 1篇李海峰
  • 1篇何升
  • 1篇王军

传媒

  • 1篇岩矿测试
  • 1篇分析测试学报
  • 1篇光谱学与光谱...
  • 1篇现代农业科技
  • 1篇第三届全国质...

年份

  • 1篇2023
  • 1篇2022
  • 2篇2021
  • 1篇2020
  • 1篇2018
  • 1篇2017
  • 2篇2016
  • 1篇2012
  • 1篇2009
11 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
一种可信联盟区块链数字校准证书系统及其操作方法
本发明公开了一种可信联盟区块链数字校准证书系统及其操作方法,该系统包括:基于超级账本的分布式存储系统的分布式账本系统(10);用于为本系统中所有实体身份证书的管理、身份的注册的CA系统(11);用于为本系统所有区块链节点...
方向熊行创田锋唐一川何文魁刘震
文献传递
一种用于辉光放电质谱仪的高纯铜校正样品及其制备方法
本发明公开了一种用于辉光放电质谱仪的高纯铜校正样品及其制备方法。用于辉光放电质谱仪的高纯铜校正样品的制备方法,包括如下步骤:1)将高纯铜的粉末与杂质金属标准溶液混合,得到混合物;2)在惰性气氛中,加热所述混合物除去水分,...
周涛唐一川张见营
文献传递
辉光放电质谱测量中的相对灵敏度因子研究被引量:7
2012年
辉光放电质谱(GDMS)作为高纯金属和半导体材料分析的强有力工具在国内已得到了大量应用,该文简要介绍了GDMS的基本原理和国内外应用现状,对仪器测量条件的选择、测量重复性进行了详细研究,对于含量在1 mg/kg左右的杂质,测量的重复性将产生约1%~5%的不确定度;对不同金属基体的系列标准物质进行对比研究,发现对于基体相同的样品,杂质元素在较宽的浓度范围内可以使用同样的校正系数进行校正,大部分元素的线性相关系数达到0.999以上,但对于不同基体的样品,测量中仍存在明显的基体效应,一些元素,尤其是轻质量数元素的相对灵敏度因子(RSF)设定值存在较大的偏差,并不适合定量分析,但绝大部分不超过2倍误差,可以满足半定量分析的要求。通过对GDMS定量分析中关键因素的研究,认为相对灵敏度因子的校正是GDMS测量结果可溯源性的关键。
唐一川周涛徐常昆
关键词:辉光放电质谱
高纯氧化镧中痕量杂质的辉光放电质谱法测量
高纯氧化镧(纯度4N-6N)广泛应用于光学镜片、高级陶瓷材料以及储氢材料中。纯度对其性能具有重大影响。除此之外,在化学计量溯源体系中,高纯物质作为化学成分分析量值溯源链的源头,具有最高的溯源层级,纯物质的纯度直接影响着标...
张见营周涛崔彦杰唐一川吴冰
关键词:辉光放电质谱法检出限
一种用于辉光放电质谱仪测定粉末样品的装载装置
本实用新型涉及一种用于辉光放电质谱仪测定粉末样品的装载装置,其特征在于:它包括一底座,在所述底座上设置有四个立面,其中两个所述立面为平行且相对布置的平面,另外两个所述立面为用于连接两所述平面的圆弧面;在所述底座顶面的中心...
周涛唐一川张见营
文献传递
聚类分析与稳健统计方法对CNAS T0402数据处理的比较和分析被引量:5
2009年
建立了一种基于对能力验证数据进行聚类分析的方法,克服了以往采用稳健统计方法处理的层次性和深度不足的缺陷,可将参加实验室按测试结果及相似性进行分组,便于对检测过程存在问题的查找和分析,也有利于检测实验室对自身测试水平的认识和评价。
李海峰史乃捷王军唐一川马联弟
关键词:聚类分析
辉光放电质谱定量分析硅粉中的痕量杂质
辉光放电质谱(Glow Discharge Mass Spectrometry, GDMS)是对金属和半导体材料中痕量以及超痕量元素分析的最有效手段之一[1]。GDMS采用直接固体进样,因此前处理简单,另外还有基体效应低...
张见营周涛唐一川崔彦杰
关键词:辉光放电质谱硅粉
文献传递
在线加标-电感耦合等离子体质谱法测量纯钼中痕量杂质元素
2023年
纯钼的纯度或杂质含量对材料性能有重要的影响,痕量杂质的准确测量是产品质量控制的关键。电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)由于具有高灵敏、多元素同时测量的优势,是测量痕量杂质的最有效方法之一;但在测量高浓度纯钼基体中的痕量杂质时,会产生较强的基体抑制效应,严重影响测量结果准确性。基体匹配法、标准加入法以及基于同位素丰度比值测量的同位素稀释质谱法(IDMS)可以有效地补偿复杂的基体效应,获得准确的测量结果;但步骤繁琐、分析效率低、分析成本高使其难以满足高通量的测量需求。本万工作集成了标准加入法的准确性及在线自动分析的高效性,基于标准加入法的原理,通过双路进样,将样品溶液与标准溶液(系列标准溶液依次自动进样)同时引入三通进行混合,然后经过雾化进入ICP-MS进行检测,从而建立了基于在线加标的ICP-MS法。该方法有效地补偿了高浓度试样的基体效应,通过样品-标准进样流量差异的校正,提高了测量结果的准确性,实现了纯钼中29种痕量杂质元素的快速准确测量,满足了纯钼中痕量杂质标准物质的准确定值要求。经考察,本工作建立的方法对29种元素的方法检出限(MDL)在0.004~0.90μg/g之间,标准加入法标准曲线的线性相关系数r基本大于0.999,除Ca、Zn由于沾污问题导致的测量准确性较差外(Ca、Zn相对偏差分别为32%、13%),27种元素的测量相对偏差在−6.8%~5.1%之间。将Cr、K测量结果与IDMS法比较,进一步验证了该方法的可靠性。结果表明,两种方法测量结果偏差在1%以内,且具有相当的精密度(本方法对于Cr、K的RSD为1.8%~3.2%,IDMS法的RSD为0.9%~1.4%),但本方法分析效率与分析成本具有明显的优势,经评估15min可完成29种元素的测量,分析效率比IDMS法可提高上百倍,能够满足高通量的样品测试需求。
唐一川冯媛媛周涛崔彦杰张见营
关键词:标准加入法纯钼电感耦合等离子体质谱法
一种可信联盟区块链数字校准证书系统及其操作方法
本发明公开了一种可信联盟区块链数字校准证书系统及其操作方法,该系统包括:基于超级账本的分布式存储系统的分布式账本系统(10);用于为本系统中所有实体身份证书的管理、身份的注册的CA系统(11);用于为本系统所有区块链节点...
方向熊行创田锋唐一川何文魁刘震
文献传递
一种用于辉光放电质谱仪的高纯铜校正样品及其制备方法
本发明公开了一种用于辉光放电质谱仪的高纯铜校正样品及其制备方法。用于辉光放电质谱仪的高纯铜校正样品的制备方法,包括如下步骤:1)将高纯铜的粉末与杂质金属标准溶液混合,得到混合物;2)在惰性气氛中,加热所述混合物除去水分,...
周涛唐一川张见营
文献传递
共2页<12>
聚类工具0