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韦晓
作品数:
1
被引量:2
H指数:1
供职机构:
北京科技大学材料科学与工程学院新金属材料国家重点实验室
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发文基金:
国家自然科学基金
国家重点基础研究发展计划
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相关领域:
一般工业技术
电气工程
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合作作者
李卓昕
中国科学院高能物理研究所
叶丰
北京科技大学材料科学与工程学院...
王艳丽
北京科技大学材料科学与工程学院...
陈国良
北京科技大学材料科学与工程学院...
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中国科学院高能物理研究所
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南京大学学报...
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1篇
2009
共
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基于正电子湮没寿命谱研究Fe-6.5wt.%Si合金中热空位的生成
被引量:2
2009年
正电子湮没技术(PAT)是一种无损伤的材料探测技术,它可以反映正电子所在处电子密度或电子动量分布的信息.由于正电子对原子尺度的缺陷非常敏感,所以正电子湮没技术(PAT)是研究纯金属及金属间化合物中热空位生成的有效工具.基于正电子寿命谱技术对金属间化合物Fe-6.5wt.%Si合金热轧板在不同温度退火后缺陷变化进行研究,发现了正电子平均寿命在673K左右迅速增加,673至1073K温度范围内平均正电子寿命的温度曲线为明显的S形状,1073K以上平均正电子寿命趋于常数,通过分析正电子平均寿命的温度变化曲线,得到了Fe-6.5wt.%Si合金中热空位生成的临界温度值,并计算得到了该合金的空位生成激活焓为HVF=0.54eV.
韦晓
王艳丽
梁永锋
叶丰
林均品
陈国良
李卓昕
王宝义
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