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曹利国

作品数：10 被引量：19H指数：3
供职机构：成都理工大学更多>>
相关领域：天文地球理学机械工程金属学及工艺更多>>

合作作者

文献类型

  • 8篇期刊文章
  • 1篇会议论文
  • 1篇科技成果

领域

  • 4篇天文地球
  • 3篇理学
  • 2篇机械工程
  • 1篇金属学及工艺

主题

  • 5篇荧光
  • 4篇X射线荧光
  • 3篇荧光分析
  • 3篇薄层
  • 3篇X射线荧光分...
  • 2篇射线
  • 2篇涂层
  • 2篇资源评价
  • 2篇矿产
  • 2篇矿产资源
  • 2篇矿产资源评价
  • 2篇厚度
  • 2篇厚度测量
  • 2篇X射线
  • 1篇镀层
  • 1篇选矿
  • 1篇盐岩
  • 1篇研究与推广应...
  • 1篇冶金
  • 1篇英文

机构

  • 8篇成都理工大学
  • 2篇成都地质学院
  • 1篇国土资源部

作者

  • 10篇曹利国
  • 5篇丁益民
  • 2篇敖奇
  • 2篇丁益民
  • 1篇周四春
  • 1篇田洪均
  • 1篇王剑
  • 1篇章晔
  • 1篇谢庭周

传媒

  • 3篇物探化探计算...
  • 2篇核技术
  • 2篇成都地质学院...
  • 1篇地球物理学进...
  • 1篇全国成因矿物...

年份

  • 2篇1998
  • 3篇1996
  • 1篇1992
  • 2篇1990
  • 1篇1989
  • 1篇1986
共 10 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
X射线荧光方法与矿产资源快速评价被引量：1
1996年
能量色散 X射线荧光方法以其轻便、快速、低成本在现场及时取得元素含量数据的特点 ,在矿产资源评价和选冶中发挥了重要作用。本文以丰富的资料说明这一方法在地质工作各阶段的应用效果。
丁益民曹利国
关键词：矿产资源评价有色金属矿产
用X射线荧光方法测定薄层、镀层和涂层厚度
1996年
本文提出用特征Ｘ射线的发射和吸收来测定薄层或表面涂层的厚度。从理论上解决了最佳能量的选择问题，使薄层厚度测定的检出下限大幅度优化。并通过实践证明了方法的可靠性和实用性。
敖奇曹利国丁益民
X射线荧光方法进行野外找矿及成矿规律研究的现状和前景被引量：7
1998年
目前，能量色散Ｘ射线荧光现场测量方法已经逐步完善．能够在现场取得多种元素含量的近似定量数据．为地质勘查工作提供元素含量及其分布的信息．在此基础上要求加大方法应用的深度和广度，将Ｘ射线荧光方法取得的资料应用于矿产预测、成矿规律、地质构造及基础地质研究等方面．本文根据作者近年的实际工作成果并汇集有关资料，用丰富的实例说明这一领域的现状，并提出今后发展的重点和前景．
曹利国丁益民王剑
关键词：矿产资源评价成矿规律找矿
X射线荧光吸收法测量薄层厚度的尝试(英文)被引量：2
1989年
当特征X射线能量较小时,吸收曲线在薄层范围内斜率很大。利用这一特点来测定薄层吸收体的厚度具有很高的灵敏度。文章阐述了这一方法的原理、计算方法和实验技术。实验数据证实了有关理论分析的正确性和可行性。
曹利国丁益民敖奇
关键词：厚度测量薄层X射线
X荧光技术的研究与推广应用
章晔谢庭周周四春曹利国黄慎文
该成果系统研究了X荧光勘查技术的工作方法，研制并商品化生产出两个系列7种型号仪器，建立了完善的软件系统及规范化的工作程序。广泛应用于金、铜等数十种矿种的勘查工作，并为国内大型冶金企业应用于矿体圈定、选冶过程的快速检测、产...
关键词：
关键词：软件系统
微量元素X射线荧光分析方法及其在碳酸盐岩成岩作用研究中的应用被引量：4
1990年
简要说明使用放射性核素源激发,Si(Li)半导体探测器-多道分析器系统测定碳酸盐岩样品中铁、锶及其他微量元素的实验条件、工作方法,并讨论了这一方法在川西北甘溪剖面上泥盆统碳酸盐岩研究中的应用。基于对岩石中铁、锶相互关系的分析和它与原始沉积环境、粘土含量、白云石的稳定化以及沉积溶液性质的关系,为沉积环境的研究和白云岩化模式的建立提供了重要的基本数据。
曹利国田洪均
关键词：X射线荧光分析微量元素沉积环境碳酸盐岩成岩作用
用Rayleigh-Compton背散射比法测定锡矿样中的锡被引量：1
1990年
X或γ射线的Rayleigh与Compton背散射强度比值(R/C)和散射体的原子序数密切有关,R/C值的大小能够反映样品中轻、重组分的比例。木文给出了一种测定锡矿样中锡含量的有效Raxleigh-Compton背散射比值法。该方法适用于由单一主量重元素和若干轻元素基体组成的样品中时重元素分析,可作为X射线荧光分析的一种补充方法。
敖奇曹利国丁益民
关键词：锡矿重元素
X射线荧光分析中的准绝对测量方法被引量：1
1996年
基体效应校正是Ｘ射线荧先分析方法中关键的一环，在很大程度上决定了测量数据的准确度。本文提出了一种新的基体效应校正方法一准绝对测量方法。它兼有相对测量和绝对测量方法的特点，并具有较广泛的适用性。
曹利国丁益民
X射线荧光分析的实验校正方法讨论
曹利国敖奇陈岩
关键词：放射性勘探X射线荧光光谱法误差分析计算方法
用X射线荧光方法测定薄层样品、镀层和涂层的厚度被引量：3
1992年
该文提出用特征X射线的发射(表层特征谱线照射量率法)或吸收(底层特征谱线吸收法)来测定薄层或涂层的厚度。并根据大量的实验数据和理论分析,确立了正确选择工作条件及确定方法适用范围的依据。实践证明了方法的可靠性和实用性。
曹利国丁益民敖奇
关键词：工件薄层镀层涂层厚度荧光法
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