尹志刚
- 作品数：9 被引量：29H指数：3
- 供职机构：中国科学院计算技术研究所更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金国家高技术研究发展计划中国科学院知识创新工程重要方向项目更多>>
- 相关领域：自动化与计算机技术电子电信更多>>
- 一种面向测试的RTL行为抽象与蕴含方法被引量：1
- 2002年
- 针对寄存器传输级 (registertransferlevel,RTL)行为的抽象 ,提出了一种层次化的带条件的表示 .这种抽象的行为是面向测试的 ,它不仅表达简单 ,而且能很方便地进行蕴含操作 .通过抽象 ,电路可以规范为行为集 ,并代替电路本身进行功能测试向量的生成 .在测试生成过程中 ,大量地应用蕴含操作可以使其中的行为得到简化 ,并极大地提高了系统的效率 .
- 尹志刚李华伟李晓维
- 关键词：寄存器传输级测试向量集成电路芯片测试
- 可测试性设计技术在一款通用CPU芯片中的应用被引量：9
- 2002年
- 可测试性设计(Design-For-Testability,简称DFT)是芯片设计的重要环节,它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性的硬件逻辑,从而使芯片变得容易测试,大幅度节省芯片测试的成本。文中介绍了在一款通用CPU芯片的设计过程中,为提高芯片的易测性而采取的各种可测试性设计技术,主要包括扫描设计(ScanDesign)、存储器内建自测试(Build-in-self-test,简称BIST)以及与IEEE1149.1标准兼容的边界扫描设计(BoundaryScanDesign,简称BSD)等技术。这些技术的使用为该芯片提供了方便可靠的测试方案。
- 李华伟李晓维尹志刚吕涛何蓉晖
- 关键词：可测试性设计CPU芯片
- 可测试性设计技术在一款通用CPU芯片中的应用
- 可测试性设计(Design-For-Testability,简称DFT)是芯片设计的重要环节,它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性的硬件逻辑,从而使芯片变得容易测试,大幅度节省芯片测试的成本.文中介绍了在一...
- 李华伟李晓维尹志刚吕涛何蓉晖
- 关键词：可测试性设计CPU芯片
- 文献传递
- 基于模拟的验证技术在一款通用CPU设计中的应用
- 设计验证是芯片设计过程中保证其可靠性的一个重要环节.其中基于模拟的验证是实际中最主要的方法.虽然同样是把激励加载在功能规范和设计上,通过模拟来比较二者的响应,但是根据激励产生的方法或指导思想不同,又有各种不同的基于模拟的...
- 吕涛李华伟尹志刚刘国华李晓维樊建平
- 文献传递
- 一种RTL传输故障模型
- 本文提出了一种基于电路RTL行为描述的传输故障模型,以便于在电路的RTL描述级别上直接对其进行测试产生或可测试性分析.这种传输故障不仅可以反映一种门级通路段,而且它非常方便提取与组织.我们用一个RTL测试产生试验的数据表...
- 尹志刚闵应骅李晓维
- 关键词：硬件描述语言数字电路测试
- 文献传递
- 一种遵循IEEE 1149.1标准的可测试性设计结构
- 可测试性设计(DFT,Design-For-Test)是芯片设计的重要环节,它大大地节省了芯片测试的开销.然而,可测试性设计本身就是修改原始设计,插入各种可测试性设计的逻辑,其本身却要增加开销.这些开销包括芯片面积、管脚...
- 尹志刚李华伟李晓维
- 文献传递
- 通用CPU设计中的模拟验证技术及应用被引量：7
- 2002年
- 设计验证是芯片设计过程中保证其可靠性的重要环节。其中,模拟是实际中最主要的验证方法。根据应用目的的不同,可以将模拟验证技术分为两大类:针对矢量产生的技术和针对验证评估的技术。本文分类阐述了多种通用的验证技术的原理,在分析和比较的基础上指出各自的优缺点,并介绍了其在一款通用CPU设计之中的应用,包括应用平台、实验数据以及相应的分析。
- 吕涛李华伟尹志刚刘国华李晓维樊建平
- 关键词：CPU芯片
- 一种面向测试的RTL行为抽象与蕴含方法
- 在当今集成电路设计中,RTL(Register Transfer Level,寄存器传输级)行为描述被广泛采用.然在则,与其相关的测试分析或验证技术却远没有其设计技术成熟,因此得到了深入的研究.文中针对RTL行为的抽象,...
- 尹志刚李华伟李晓维
- 关键词：测试向量
- 文献传递
- 一种遵循IEEE 1149.1标准的可测试性设计结构被引量：12
- 2003年
- IEEE1149.1(也称JTAG)是支持芯片边界扫描的国际标准,提供了统一的测试访问端口。如今,它已成为芯片必不可少的一种“开销”。本文通过定制JTAG逻辑,以求用最少的开销,最简单灵活的方式来管理各种DFT逻辑。
- 尹志刚李华伟李晓维
- 关键词：时序电路
