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孔庆花

作品数:2 被引量:18H指数:2
供职机构:中国科学院兰州化学物理研究所更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:一般工业技术金属学及工艺更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇金属学及工艺
  • 2篇一般工业技术

主题

  • 2篇溅射
  • 2篇磁控
  • 2篇磁控溅射
  • 1篇微观结构
  • 1篇微结构
  • 1篇溅射制备
  • 1篇CRN
  • 1篇磁控溅射制备
  • 1篇X

机构

  • 2篇中国科学院
  • 2篇中国科学院研...

作者

  • 2篇孔庆花
  • 2篇周惠娣
  • 2篇李红轩
  • 2篇刘晓红
  • 2篇陈建敏
  • 2篇吉利
  • 1篇吕艳红

传媒

  • 1篇功能材料
  • 1篇中国表面工程

年份

  • 1篇2011
  • 1篇2010
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
氮气流量对中频非平衡反应磁控溅射制备CrAlN薄膜性能的影响被引量:12
2011年
采用中频非平衡反应磁控溅射技术制备CrAlN薄膜,研究了氮气分压对CrAlN薄膜的沉积速率、薄膜成分、微观结构、机械性能和耐腐蚀性能的影响,并与CrN薄膜的性能进行了比较。研究表明,相比较CrN薄膜而言,CrAlN薄膜的硬度高,结构致密,耐腐蚀性好。随着氮气流量的升高,CrAlN薄膜沉积速率降低,Cr/Al比率升高;薄膜中CrN(200)衍射峰强度逐渐增强,六方结构的AlN相逐渐消失;薄膜的粗糙度由39 nm降低至10 nm,并且腐蚀电位升高,耐腐性增强。当氮气流量为53 mL/min时,CrAlN薄膜具有最佳的硬度和优良的耐腐蚀性能。
吕艳红孔庆花吉利李红轩刘晓红陈建敏周惠娣
关键词:磁控溅射微观结构
溅射电流对磁控溅射CrN_x薄膜结构与性能的影响被引量:6
2010年
采用非平衡磁控溅射技术在不锈钢以及单晶硅基体上制备了CrNx薄膜,并利用X射线衍射仪(XRD)、场发射扫描电镜(FESEM)、能量色散X射线能谱仪(EDS)和纳米压痕仪对薄膜的结构和性能进行了表征。结果表明,随着溅射电流的增大,薄膜中N/Cr比值减小,相组成由CrN(200)向Cr2N(111)转变;晶粒尺寸减小,柱状结构消失,结构变得致密;由于在大溅射电流下,易于形成Cr2N高硬度相,而且形成的薄膜晶粒细小、结构致密,所以硬度值随溅射电流单调升高,在21A时达到最高,为21GPa。
孔庆花吉利李红轩刘晓红陈建敏周惠娣
关键词:磁控溅射微结构
共1页<1>
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