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肖晓飞

作品数：16 被引量：0H指数：0
供职机构：清华大学更多>>
相关领域：文化科学更多>>

合作作者

文献类型

  • 16篇中文专利

领域

  • 1篇文化科学

主题

  • 10篇测量系统
  • 8篇单色光
  • 8篇散射
  • 6篇散射光
  • 6篇纳米
  • 6篇金属
  • 6篇金属纳米
  • 6篇金属纳米颗粒
  • 6篇参考光
  • 5篇测量方法
  • 4篇透镜
  • 4篇凸透镜
  • 4篇颗粒粒径
  • 3篇入射
  • 3篇粒径
  • 3篇光源
  • 2篇单色
  • 2篇载物台
  • 2篇散射光谱
  • 2篇输入数据

机构

  • 16篇清华大学

作者

  • 16篇肖晓飞
  • 16篇白本锋
  • 4篇刘祯
  • 2篇金国藩
  • 2篇徐宁汉
  • 2篇谭峭峰

年份

  • 6篇2018
  • 1篇2017
  • 1篇2016
  • 7篇2015
  • 1篇2014
共 16 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
金属纳米颗粒平均粒径的测量系统及测量方法
本发明提供一种金属纳米颗粒粒径的测量系统，包括：一光源模组，一样品池，一光电探测单元以及一数据处理单元；所述光源模组用于依次发出的两个波长为<Image file="DEST_PATH_IMAGE001.GIF" he=...
白本锋肖晓飞刘祯
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单个纳米颗粒粒径的测量方法
本发明涉及一种单个纳米颗粒粒径的测量方法，包括预估待测的纳米颗粒的种类及粒径的分布范围；制作标准纳米颗粒的样本；得到第一基板上一预定区域的每个标准纳米颗粒的粒径<Image file="DEST_PATH_IMAGE00...
白本锋肖晓飞
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单个纳米颗粒粒径的测量系统及测量方法
本发明涉及一种单个纳米颗粒粒径的测量系统，包括一光源模组，一载物台，一物镜，一第三凸透镜，一CCD及其控制器，一数据线以及一显示及处理单元依次，所述载物台具有一载物平面，其中，所述光源模组包括一光源，一第一光阑，一第一凸...
白本锋肖晓飞
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单个纳米颗粒粒径的测量系统及测量方法
本发明涉及一种单个纳米颗粒粒径的测量系统，包括一光源模组，一载物台，一物镜，一第三凸透镜，一CCD及其控制器，一数据线以及一显示及处理单元依次，所述载物台具有一载物平面，其中，所述光源模组包括一光源，一第一光阑，一第一凸...
白本锋肖晓飞
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单个纳米颗粒粒径的测量系统及测量方法
本发明涉及一种单个纳米颗粒粒径的测量系统，包括一光源，载物台，物镜，凸透镜，CCD及其控制器，数据线以及显示及处理单元，所述光源发出的光经过物镜入射到载物台表面，并且经过散射后经物镜、凸透镜后，在CCD及其控制器上成像，...
白本锋肖晓飞
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单个纳米颗粒粒径的测量系统
本发明涉及一种单个纳米颗粒粒径的测量系统，包括一光源，一暗场聚光器模组，一载物台，一物镜，一凸透镜，一CCD及其控制器，一数据线以及一显示及处理单元依次间隔设置，其中，所述光源发出的单色光经过暗场聚光器模组整形后成为中空...
白本锋肖晓飞
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金属纳米颗粒粒径的测量方法
本发明提供一种金属纳米颗粒粒径的测量方法，包括：提供一金属纳米颗粒粒径的测量系统；校准金属纳米颗粒粒径测量系统，得到参考光与测量光的强度比，作为基准<Image file="DEST_PATH_IMAGE001.GIF"...
白本锋肖晓飞
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单个纳米颗粒粒径的测量系统及测量方法
本发明涉及一种单个纳米颗粒粒径的测量系统，包括一光源，载物台，物镜，凸透镜，CCD及其控制器，数据线以及显示及处理单元，所述光源发出的光经过物镜入射到载物台表面，并且经过散射后经物镜、凸透镜后，在CCD及其控制器上成像，...
白本锋肖晓飞
金属纳米颗粒平均粒径的测量系统及测量方法
本发明提供一种金属纳米颗粒粒径的测量系统，包括：一光源模组，一样品池，一光电探测单元以及一数据处理单元；所述光源模组用于依次发出的两个波长为<Image file="DEST_PATH_IMAGE001.GIF" he=...
白本锋肖晓飞刘祯
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单个纳米颗粒粒径的测量系统
本发明涉及一种单个纳米颗粒粒径的测量系统，包括一光源，一暗场聚光器模组，一载物台，一物镜，一凸透镜，一CCD及其控制器，一数据线以及一显示及处理单元依次间隔设置，其中，所述光源发出的单色光经过暗场聚光器模组整形后成为中空...
白本锋肖晓飞
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