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章炜巍

作品数：3 被引量：14H指数：2
供职机构：浙江大学更多>>
发文基金：国家自然科学基金更多>>
相关领域：理学一般工业技术自动化与计算机技术电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 1篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...
  • 1篇一般工业技术
  • 1篇理学

主题

  • 1篇点缺陷
  • 1篇电器件
  • 1篇性能参数
  • 1篇氧化锌
  • 1篇液晶
  • 1篇液晶显示
  • 1篇仪表
  • 1篇远程
  • 1篇远程通信
  • 1篇智能仪表
  • 1篇实时操作系统
  • 1篇嵌入式
  • 1篇嵌入式ARM
  • 1篇微波功率放大...
  • 1篇绿光
  • 1篇功放
  • 1篇功率放大
  • 1篇功率放大器
  • 1篇光电
  • 1篇光电器件

机构

  • 3篇浙江大学

作者

  • 3篇章炜巍
  • 2篇沈相国
  • 1篇朱大中

传媒

  • 1篇电子技术（上...
  • 1篇材料导报

年份

  • 1篇2005
  • 2篇2004
共 3 条 记 录，以下是 1-3
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排序方式：
嵌入式直放站监控系统的设计与实现
移动通信是现代社会步入信息时代的重要技术.目前,即将迈入第三代移动通信时代.随着移动通信技术向纵深发展,通信网络面临着一个如何提高网络覆盖质量的问题.直放站以低投入、低成本、相对短的建设周期和较好的网络质量提高了网络信号...
章炜巍
关键词：嵌入式ARM
文献传递
基于ADμC841的微波功率放大器监控单元被引量：1
2004年
文章介绍了基于新型数据采集系统芯片ADC841研制的微波功率放大器监控单元。该系统可实现对多路功放性能参数的监测,具有液晶显示、上下限报警、近端和远程通信、智能控制等功能。所提供的硬件电路和软件设计具有一定的通用性和实用性,可作为各种智能仪表的开发平台。
章炜巍沈相国
关键词：微波功率放大器功放液晶显示远程通信性能参数智能仪表
氧化锌中的本征点缺陷对材料光电性能的影响被引量：8
2004年
ZnO薄膜中的本征点缺陷对材料的电学、发光性能有着至关重要的影响。目前,对本征点缺陷的研究是ZnO领域的一大热点,也是实现ZnO基光电器件的关键技术之一。本文结合最新研究,扼要综述了本征点缺陷的电荷特性、对本征ZnO为n型的作用机理、对p型ZnO制备的影响及点缺陷对薄膜绿光发光的贡献。
章炜巍朱大中沈相国
关键词：本征点缺陷光电器件绿光ZNO薄膜氧化锌
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