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杨沛锋

作品数:6 被引量:8H指数:1
供职机构:电子科技大学微电子与固体电子学院微电子科学与工程系更多>>
发文基金:国防科技技术预先研究基金国家自然科学基金模拟集成电路国家重点实验室开放基金更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 4篇期刊文章
  • 1篇学位论文
  • 1篇会议论文

领域

  • 5篇电子电信

主题

  • 3篇锗硅
  • 3篇晶体管
  • 3篇MOSFET
  • 2篇异质结
  • 2篇异质结双极晶...
  • 2篇锗硅合金
  • 2篇双极晶体管
  • 2篇模型参数提取
  • 2篇分子束
  • 2篇分子束外延
  • 2篇SI
  • 2篇场效应
  • 2篇场效应晶体管
  • 1篇英文
  • 1篇优化设计
  • 1篇载流子
  • 1篇锗硅材料
  • 1篇热载流子
  • 1篇硅材料
  • 1篇OPTIMI...

机构

  • 6篇电子科技大学
  • 1篇四川固体电路...
  • 1篇中国电子科技...

作者

  • 6篇杨沛锋
  • 4篇杨谟华
  • 3篇于奇
  • 2篇肖兵
  • 2篇谢孟贤
  • 2篇李竞春
  • 2篇刘玉奎
  • 2篇陈勇
  • 1篇谭开洲
  • 1篇陈勇
  • 1篇谭超元
  • 1篇王向展
  • 1篇刘道广
  • 1篇何林
  • 1篇张静
  • 1篇方朋
  • 1篇李开成
  • 1篇李开成

传媒

  • 2篇Journa...
  • 1篇电子科技大学...
  • 1篇功能材料与器...
  • 1篇第八届全国可...

年份

  • 2篇2002
  • 1篇2001
  • 1篇2000
  • 2篇1999
6 条 记 录,以下是 1-6
排序方式:
Si/SiGe异质结双极晶体管的研制(英文)
2002年
通过理论分析计算、计算机模拟和工艺实验,对Si/SiGe异质结双极晶体管(HBT)的结构参数进行了精细的优化设计,特别是采用了本征间隔层和新颖的Ge分布曲线,有效地削弱了基区杂质外扩散、基区复合和异质结势垒效应的不利影响。开发了兼容于硅工艺的锗硅HBT工艺,并据此试制出了Si/SiGeHBT,测量结果表明,器件的直流和交流特性均较好,电流放大系数为50,截止频率fT为5.1GHz。
杨沛锋李开成何林刘道广张静李竞春谢孟贤杨谟华
关键词:锗硅材料分子束外延异质结双极晶体管优化设计
Si//SiGe异质结器件研究
移动通信、GPS、雷达及高速数据处理系统等的高速发展对半导体器件的性能,如截止频率、功耗和成本等提出了更高的要求。相对于Si器件和化合物半导体器件,Si/SiGe异质结器件能以更高的性能价格比满足该要求,故成为目前国内外...
杨沛锋
关键词:锗硅合金异质结异质结双极晶体管
文献传递
Si_(1-x)Ge_x/Si材料外延生长技术
1999年
介绍了用MBE法生长SiGe/Si新材料的无氧外延表面等关键技术,并据此外延生长出本征和掺杂Si1-xGex/Si材料。其测试结果与分析表明,该合金材料有效组成成分(x=0.15)和电学参数符合理论设计目标。利用该材料试制成功了St1-xGex-PMOS(X=0.18)器件。
杨沛锋李开成刘道广
关键词:锗硅合金分子束外延
MOSFET热载流子退化/寿命模型参数提取
MOSFET热载流子可靠性物理,并结合电应力条件下热载流子退化特征量ΔI<,ds>/I<,ds0>、I<,sub>等实测数据的拟合处理,本文发展了可表征退化物理意义的衬底电流与退化/寿命参数提取模型;进而由自动测试ATE...
于奇王向展陈勇刘玉奎肖兵杨沛锋方朋杨谟华谭超元
MOSFET热载流子退化/寿命模型参数提取被引量:7
2000年
基于 MOSFET热载流子可靠性物理 ,并结合电应力条件下热载流子退化特征量ΔIds/Ids0 、Isub等实测数据的拟合处理 ,发展了可表征退化物理意义的衬底电流与退化 /寿命参数提取模型 ;进而由自动测试 ATE与 CAD技术相结合的监测系统 ,实现了载流子速度饱和临界电场Ecrit、有效导电长度 LC和寿命因子 H、m、n提取 .实验研究结果表明 ,模型及提取参数合理可信 ,并可进一步应用于 MOSFET及其电路的退化
杨谟华于奇王向展陈勇刘玉奎肖兵杨沛锋方朋孔学东谭超元钟征宇
关键词:热载流子MOSFET场效应晶体管
Optimization Design and Fabrication of Si/SiGe PMOSFETs被引量:1
2001年
Through the theoretical analysis and computer simulation,the optimized design principles for Si/SiGe PMOSFETs are given,including the choice of gate materials,the determination of Ge percentage and the profile in SiGe channel,the thickness optimization of dioxide and silicon cap layer,and the adjustment of threshold voltage.In light of them,a SiGe PMOSFET is designed and fabricated successfully.The measurements indicate that the transconductance is 45mS/mm (300K) and 92mS/mm (77K) for SiGe PMOSFET's (L=2μm),while it is 33mS/mm (300K) and 39mS/mm (77K) for Si PMOSFET.
杨沛锋李竞春于奇陈勇谢孟贤杨谟华何林李开成谭开洲刘道广张静易强凡则锐
关键词:SIGEMOSFETOPTIMIZATION
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