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怀光利

作品数:4 被引量:3H指数:1
供职机构:防化研究院更多>>
相关领域:核科学技术电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇期刊文章
  • 2篇会议论文

领域

  • 3篇核科学技术
  • 1篇电子电信

主题

  • 4篇计数管
  • 4篇GM计数管
  • 3篇可靠性
  • 1篇电子元
  • 1篇电子元器件
  • 1篇元器件
  • 1篇圆柱
  • 1篇使用寿命
  • 1篇探测器

机构

  • 4篇防化研究院

作者

  • 4篇怀光利
  • 4篇张皓
  • 4篇谢波
  • 4篇李继源
  • 2篇张国明
  • 2篇陈洪涛

传媒

  • 1篇核电子学与探...
  • 1篇电子产品可靠...
  • 1篇第11届全国...

年份

  • 1篇2003
  • 2篇2002
  • 1篇2000
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
GM计数管的失效规律研究
GM计效管的可靠性应当以失效前的工作时间-寿命,以及在寿命期间的失效率来表征。提出并采用了一种研究GM管失效规律的新方法,这个方法的要点是:测试正在使用的仪表中的GM管;记录测得的性能参数和仪表与计效管的其他信息;建立数...
李继源怀光利谢波张皓
关键词:GM计数管可靠性
文献传递
一种圆柱金属卤素GM计数管
研究了一种新型GM计数管,并从环境适应性、辐射探测性、能量响应和角响应以及可靠性等方面详细介绍了其特性.
谢波李继源张国明怀光利陈洪涛张皓
关键词:GM计数管
文献传递
GM计数管的失效规律研究被引量:1
2002年
GM计数管的可靠性应当以失效的工作时间 -寿命 ,以及在寿命期间的失效率来表征。提出并采用了一种 GM管失效规律的新方法 ,该方法的要点是 :测试正在使用的仪器中的 GM管 ;记录测得的性能参数和仪器与计数管的其他信息 ;建立数据库 ,确定失效判据 ,检查计数管是否失效并确定失效模式 ;将相同使用年数的 GM管组成一个子样 ,利用采集到的有关信息 ,将子样样品数恢复成开始投入使用时的样品数 ,统计子样的失效样品数和失效模式分布 ;利用线性拟合法求出威布尔分布函数的参数m、γ、t0 ,进而求出平均寿命、失效率等特征量。利用该方法研究了两种 GM管的失效规律 ,根据它们的失效规律确定其使用寿命为 18~ 2 0 a,在此期间的失效率分别为 5× 10 -6 4× 10 -6 / h。
李继源怀光利谢波张皓
关键词:GM计数管可靠性探测器
一种研究电子元器件失效规律的新方法被引量:2
2003年
提出并采用了一种研究GM管失效规律的新方法,利用该方法研究了两种GM管的失效规律,并据此确定其使用寿命为18~20年,在此期间的失效率分别为5×10-6/h和4×10-6/h。
谢波怀光利张国明陈洪涛张皓李继源
关键词:电子元器件GM计数管使用寿命可靠性
共1页<1>
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