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孙伟莹

作品数：4 被引量：26H指数：3
供职机构：北京科技大学应用科学学院化学系更多>>
相关领域：理学一般工业技术金属学及工艺更多>>

合作作者

文献类型

  • 4篇中文期刊文章

领域

  • 4篇理学
  • 1篇金属学及工艺
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 4篇荧光
  • 4篇荧光光谱
  • 4篇光谱
  • 4篇X射线荧光
  • 4篇X射线荧光光...
  • 3篇价态
  • 3篇价态分析
  • 3篇钒
  • 2篇光谱法
  • 1篇氧化物
  • 1篇荧光分析
  • 1篇荧光光谱法
  • 1篇荧光光谱分析
  • 1篇谱带
  • 1篇谱峰
  • 1篇基本参数法
  • 1篇光谱法测定
  • 1篇光谱分析
  • 1篇光谱仪
  • 1篇合成法

机构

  • 4篇北京科技大学

作者

  • 4篇孙伟莹
  • 4篇谭秉和
  • 1篇龚武

传媒

  • 3篇岩矿测试
  • 1篇光谱学与光谱...

年份

  • 1篇2000
  • 3篇1998
共 4 条 记 录，以下是 1-4
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排序方式：
X射线荧光光谱法测定钒的原子价平均值被引量：3
1998年
用Ｘ射线荧光光谱法测定了一系列钒的氧化物混合物中Ｖ的Ｋβ谱线的精细结构，研究了钒的氧化物中Ｋβ谱峰参数随混合物平均原子价变化的规律，并利用所作的定标曲线对一些实际样品，如钒渣、磁铁矿中钒的平均原子价进行了定量测定。
孙伟莹谭秉和
关键词：钒X射线荧光光谱价态分析
X射线荧光光谱法对钒氧化物中不同价态钒的定量分析被引量：6
2000年
讨论用普通的X射线荧光光谱仪 ,采用谱峰分解法和谱峰合成法对钒氧化物的混合物中氧化态V2 O3、V2 O4、V2 O5 的定量分析。谱峰分解法系以每种钒氧化态的标准谱形函数为基础 ,用最小二乘法求解。而谱峰合成法则是以每种纯氧化态的测量谱线为基础 ,用定标技术求解。用上述方法测定钒氧化物产品 ,其结果与化学法、电化学法的结果一致 ,最大相对误差为7 7%。
谭秉和孙伟莹
关键词：钒X射线荧光价态分析
钒的Kβ谱带精细结构的测定及钒的价态分析被引量：3
1998年
用普通Ｘ射线荧光光谱仪测定了钒的氧化物、钒酸盐及含钒混合物中Ｖ的Ｋβ谱线，借助一套有效的谱处理程序，获得了有关Ｋβ谱线精细结构的谱峰参数，证实了谱线轮廓（Ｋβ″峰逐渐显著，Ｋβ５、Ｋβ″向高能端位移，Ｋβ５与Ｋβ１，３的分开趋势，Ｋβ１，３半峰宽发生变化）及谱峰参数（Ｋβ５峰能量，Ｋβ５与Ｋβ１，３能量差，Ｋβ５与Ｋβ１，３及Ｋβ″与Ｋβ１，３的强度比，以及Ｋβ５和Ｋβ１，３的不对称因子）与Ｖ的氧化数变化呈很强的相关性及规律性变化。
孙伟莹谭秉和
关键词：X射线荧光光谱钒光谱仪
X射线荧光光谱分析中基体效应的数学校正方法新探被引量：15
1998年
用开发的ＴＢＨＸＲＦ基本参数法程序计算了复杂样品的基体效应。提出一个修正多元体系基体效应的校正数学模型和计算影响系数α及β，导出的校正模式及影响系数的物理意义清楚、明确。用该法分析了不锈钢样品获得良好的结果。还指出在某些情况中，三次荧光的影响不能忽略，从对比实验中得出结论，对Ｎｉ浓度高的钢铁样品在分析Ｃｒ时，必须考虑Ｎｉ、Ｆｅ对ＣｒＫα的三次荧光效应影响。
谭秉和龚武孙伟莹
关键词：X射线荧光分析基本参数法不锈钢
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