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周宇轩

作品数:6 被引量:12H指数:2
供职机构:南京理工大学更多>>
发文基金:国家教育部博士点基金江苏省社会发展科技计划国家自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信机械工程兵器科学与技术理学更多>>

文献类型

  • 3篇期刊文章
  • 1篇学位论文
  • 1篇会议论文
  • 1篇专利

领域

  • 2篇机械工程
  • 2篇电子电信
  • 1篇理学
  • 1篇兵器科学与技...

主题

  • 2篇点衍射干涉仪
  • 2篇衍射
  • 2篇干涉仪
  • 1篇点火
  • 1篇镀膜
  • 1篇多光束干涉
  • 1篇性能研究
  • 1篇移相
  • 1篇乙烯
  • 1篇视场
  • 1篇数值模拟
  • 1篇偏氟乙烯
  • 1篇球面波
  • 1篇燃速
  • 1篇阻挡层
  • 1篇钛粉
  • 1篇微波
  • 1篇相移
  • 1篇小孔
  • 1篇纳米

机构

  • 6篇南京理工大学
  • 1篇江苏警官学院
  • 1篇工业和信息化...

作者

  • 6篇周宇轩
  • 3篇袁群
  • 3篇高志山
  • 3篇褚光
  • 2篇李建欣
  • 2篇叶迎华
  • 1篇程健
  • 1篇张伟
  • 1篇沈瑞琪
  • 1篇张伟
  • 1篇石钖
  • 1篇张伟

传媒

  • 1篇爆破器材
  • 1篇中国激光
  • 1篇光学学报

年份

  • 1篇2022
  • 1篇2021
  • 1篇2012
  • 3篇2011
6 条 记 录,以下是 1-6
排序方式:
镀膜小孔点衍射干涉仪的设计与调试
球面面形的高精度检测一直是光学测量领域的难题,目前我国尚未建立国家和国防最高计量标准。传统的干涉仪精度受限于标准球面镜头的精度,远远不能满足目前光刻镜头至少λ/1000的精度要求,而点衍射干涉仪利用小孔衍射产生出来的理想...
周宇轩
关键词:点衍射干涉仪
基于Cu阻挡层的Al/CuO含能半导体桥的电爆性能研究
2022年
界面层的反应性是纳米含能复合薄膜(RMFs)制备中的重要因素,直接影响纳米RMFs的反应性能。为了研究纳米Al/CuO RMFs在半导体桥上集成后的电爆性能,采用磁控溅射工艺制备了Al/CuO含能半导体桥(Al/CuO-ESCB)和Al/Cu/CuO含能半导体桥(Al/Cu/CuO-ESCB),研究了Cu层作为阻挡层对Al/CuO-ESCB电爆过程的影响。结果表明:增加Cu阻挡层可以缩短ESCB的临界激发时间,增加ESCB的燃烧时间。
史安然周宇轩周宇轩张伟张伟张伟
关键词:半导体桥阻挡层
用于微波点火的钛粉-聚偏氟乙烯复合材料及制备方法
本发明属于微纳含能材料领域,具体涉及一种用于微波点火的钛粉‑聚偏氟乙烯复合材料及制备方法。该材料由55%至75%质量分数纳米钛粉和45%至25%质量分数聚偏氟乙烯(PVDF)构成。其复合材料制备步骤为:将纳米钛粉、聚偏氟...
叶迎华周宇轩张泽华李福伟王悦听程健
文献传递
基于π/4相移平均的多光束干涉相位提取算法被引量:7
2011年
菲佐干涉仪中如存在多光束干涉现象,干涉光强将不再是严格的余弦分布形式。在导出菲佐干涉仪中多光束干涉光强公式的基础上,给出了将其近似为理想多光束干涉光强公式的条件。推导了对多光束相移干涉图用四幅算法求解的相位计算误差,并据此提出了基于π/4相移平均的多光束干涉相位提取算法:通过采集相移间隔π/4的两组干涉图序列,将两次计算得到的相位值平均来抑制由多光束干涉引入的误差。在存在相移随机误差的条件下,模拟了参考面具有不同反射系数时的相位计算误差。用菲佐干涉仪检测反射系数较高的反射镜,采集22幅相移干涉图计算波面数据,结果表明:常规相移算法计算得到的波面数据中存在明显的4倍条纹周期的波纹误差,而采用基于重叠四步平均法的π/4相移平均方法可以有效地抑制多光束干涉造成的波纹误差影响。
袁群高志山李建欣周宇轩褚光
关键词:多光束干涉相移
基于数值模拟的点衍射干涉仪移相算法研究
移相误差、探测器的非线性响应和量化误差、光源的功率稳定性和频率稳定性等是影响移相算法精度的重要误差源。针对点衍射干涉仪中相位提取精度的要求,通过采样系数迭代平均方法,基于传统4幅算法求解新算法,同时结合已有算法,针对移相...
袁群高志山周宇轩褚光
关键词:移相点衍射干涉仪
文献传递
斐索式红外干涉仪研制和测试技术研究被引量:5
2011年
研制了斐索式红外干涉仪,口径为120mm,配置F/1,F/4标准球面锗透镜,用于检测红外非球面透镜的非球面面形和波像差质量。干涉仪中采用两个红外探测器分别形成对点、测试两路成像光路,并配合光栅尺,实时监测标准镜和被测件的方位,解决了红外光不可见性带来的测试中装夹调整的困难。采用在线标定的方法,实现了大伸长量移相器的标定。使用干涉仪检测了红外非球面透镜的质量,并标定了系统误差。检测结果表明,干涉仪的测量精度均方根(RMS)值优于0.01λ,测量重复性RMS优于0.002λ。
袁群高志山李建欣周宇轩褚光石钖
关键词:非球面光栅尺
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