SDRAM(Synchronous Dynamic Random Access Memory,同步动态随机存储器)以其卓越的性能、低廉的价格得到了广泛的应用,但由于此类器件具有容量较大(通常为百兆级及以上)、对其实施控制较复杂等特点,使得SDRAM的测试也存在较高难度,因此,探索SDRAM的测试技术,并创建该类器件的测试平台也具有十分重要的意义。首先介绍了SDRAM的基本工作原理,其次详细阐述了基于J750EX测试系统的测试技术研究,提出了采用J750EX系统的DSIO资源实现SDRAM地址累加生成的方法,大大减少了测试矢量长度,可以有效节省测试开发时间,降低测试成本。另外,针对SDRAM的关键时序参数,如tRCD(行选通周期)、CL(读取潜伏期)、tWR(写回时间)等,使用测试系统为器件施加适当的控制激励,完成SDRAM复杂的时序配合,从而达到器件性能的测试要求。
