黄维超 作品数:9 被引量:19 H指数:3 供职机构: 贵州大学 更多>> 发文基金: 贵州省科技计划项目 贵阳市科学技术计划项目 国家自然科学基金 更多>> 相关领域: 自动化与计算机技术 一般工业技术 电子电信 理学 更多>>
长余辉发光材料的合成及性能研究 长余辉发光材料是一种特殊的发光材料,它能够吸收可见光或紫外光等外界光辐照的能量并存储,在照射停止后,在一定条件下会将存储的能量以发光的形式缓慢释放。长余辉发光材料已广泛应用于建筑装饰、信息显示、安全应急指示等方面。 目... 黄维超关键词:长余辉发光材料 离子掺杂 电荷补偿 发光强度 文献传递 荧光粉Zn_3Ga_2(Ge/Si)_2O_(10)∶Cr^(3+)的制备与发光性能研究 2014年 采用高温固相法制备了新型近红外长余辉荧光粉Zn3Ga2(Ge/Si)2O10∶2.5%Cr3+.利用X射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)、荧光光谱(PL)和余辉测试等手段对所制备的样品进行结构表征和发光性能的分析。研究结果表明Zn3Ga2Ge2O10∶Cr3+和Zn3Ga2Si2O10∶Cr3+荧光粉性能差别很大。样品的激发和发射光谱均为宽带谱,且发射光谱(Cr3+的4T2→4A2跃迁引起的650 nm到800 nm宽带谱)的最大峰值位于698 nm左右,属于Cr3+的2E→4A2跃迁,为近红外发射。样品在380 nm到650 nm之间呈现出两个宽吸收带,属于Cr3+离子4T2→4A1和4T2→4A2能级跃迁。样品在用中心波长为365 nm的紫外灯激发之后,呈现出了长达30多小时的余辉衰减特性。 申凤娟 崔瑞瑞 黄维超 邓朝勇关键词:高温固相法 近红外 长余辉 基于S3C2440A开放实验室管理系统设计 被引量:3 2009年 在各个高校及职业技术学校,实验室资金投入大。然而使用率低,人为损耗大,维修难。为了解决这些问题,除了在制度上重视以外,技术的支持是不可缺少的条件。文章介绍了一种基于无线射频通信技术和指纹识别技术的新型开放实验室管理系统。此系统能够实现实验室高智能、高效率的全天候开放;让实验设备资源得到充分利用;使设备人为损坏率降低。最终提高管理效率和实验室的技术水平。 黄初华 黄维超关键词:指纹识别技术 开放实验室管理系统 基于Verilog的CRC并行实现 被引量:8 2009年 在数据通信中为了降低通信线路传输的误码率,需要采用高效能的差错控制方法。循环冗余校验(CRC)由于其误码检测能力强,抗干扰性能优异,在通信和测控等领域有广泛的应用。通过对CRC校验码原理的分析,研究了一种并行CRC算法并采用硬件描述语言Verilog HDL来实现。 黄维超 刘桥 黄初华关键词:循环冗余校验 硬件描述语言 现场可编程门阵列 一种基于FLASH的混合式11位ADC设计 2015年 时域延迟线架构ADC的非线性问题,导致其无法达到较高的分辨率。针对该问题,提出了一种将Flash和延迟线架构相结合的新型低功耗11位ADC。该新型混合ADC架构由两个模块构成,分别为4位Flash ADC架构和7位延迟线ADC架构,因此同时具有Flash ADC和延迟线ADC的准确性和高效性。采用CHARTERED 65 nm Dual Gate Mixed Signal CMOS Process设计并绘制出混合式ADC版图。实验测试结果显示,在供应电压为1.1 V和采样效率为100 Msample/s的条件下,混合式ADC产生的信噪失真比(SNDR)为60 d B,消耗功率为1.6 m W。在无需任何校准技术的情况下,混合式ADC产生的品质因数(FOM)为19.4 f J/分级转换。此外,利用不匹配的3σ设备进行了蒙特卡罗试验,结果表明,SNDR值低于其ADC架构。 田德永 黄维超关键词:FLASH 加减器 基于FPGA的循环冗余校验并行实现 被引量:4 2009年 在数据通信中为了降低通信线路传输的误码率,需要采用高效能的差错控制方法。循环冗余校验(CRC)由于其误码检测能力强,抗干扰性能优异,在通信和测控等领域有广泛的应用。通过对CRC校验码原理的分析,研究了一种并行CRC算法并采用硬件描述语言Verilog HDL来实现。 黄维超 刘桥 黄初华关键词:循环冗余校验 硬件描述语言 现场可编程门阵列 基于双目立体视觉的数字图像加密算法 2012年 双目立体视觉三维重建能够从两幅不同视角获取的二维图像恢复三维空间中物体三维几何信息。将三维空间向二维空间投影过程认为是对数字图像加密的过程,则三维重建的过程就是对数字图像进行解密的过程。基于此思路提出并实现基于双目立体视觉三维重建原理的数字图像加密算法。实验结果表明,该思路具有可行性;算法的加密性能良好,满足数字图像加密安全性的要求。 黄初华 黄维超关键词:双目立体视觉 数字图像加密 HDLC协议控制器软IP核设计 数据通信技术和微电子技术在商业上的成功应用,使得电子产品市场的竞争日益激烈。迫切要求缩短电子产品设计的开发周期,按照市场的需求设计出以高可靠性、低造价、功能强的高性能电子产品。设计复用是提高集成电路设计效率的有效方法,S... 黄维超关键词:HDLC CRC 文献传递