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杜艳

作品数：12 被引量：7H指数：1
供职机构：中国电子科技集团第十研究所更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 9篇专利
  • 3篇期刊文章

领域

  • 6篇电子电信

主题

  • 8篇天线
  • 7篇相控阵
  • 4篇相控阵天线
  • 4篇近场
  • 3篇单通
  • 3篇单通道
  • 3篇端口
  • 3篇多端口
  • 3篇信号
  • 3篇噪声系数
  • 2篇独立通道
  • 2篇修正参数
  • 2篇扫描架
  • 2篇扫描控制器
  • 2篇矢量
  • 2篇矢量网络分析...
  • 2篇天线单元
  • 2篇天线近场
  • 2篇天线阵
  • 2篇网络

机构

  • 12篇中国电子科技...

作者

  • 12篇杜艳
  • 9篇杨顺平
  • 7篇何海丹
  • 2篇何庆强
  • 2篇曾浩
  • 2篇张凯
  • 2篇刘伟
  • 1篇袁立

传媒

  • 1篇电讯技术
  • 1篇电子技术应用
  • 1篇通信技术

年份

  • 1篇2024
  • 2篇2019
  • 1篇2018
  • 1篇2017
  • 3篇2016
  • 1篇2015
  • 2篇2014
  • 1篇2012
共 12 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
相控阵天线它元矢量旋转校准方法
本发明公开的一种相控阵天线它元矢量旋转校准方法，旨在提供一种实际幅相值测试精度高，能够有效避免移相状态重复带入误差的校准方法。本发明可以通过下述方案予以实现：设一个N单元的相控阵天线和它元矢量旋转校准系统，校准时，将上述...
杨顺平杜艳何海丹张凯刘伟
文献传递
多端口功分合成网络单通道噪声系数的测试方法
本发明公开的一种多端口功分合成网络单通道噪声系数的测试方法，旨在提供解决当多端口功分合成网络的各个通道，无法单独进行加电控制的情况下，实现对某一个通道的噪声系数的测试方法。本发明通过下述技术方案予以实现：一在多端口功分合...
杜艳
自带相参通道的天线近场测量方法
本发明提出的一种自带相参通道的天线近场测量方法，幅相接收机把AUT收到的信号耦合回来进行幅度相位测量,把测量数据传输给PC，完成数据处理和测量最终结果输出；在天线近场测量中，扫描控制器通过控制单刀双掷开关分时发送相位参考...
杨顺平杜艳何海丹
自带相参通道的天线近场测量方法
本发明提出的一种自带相参通道的天线近场测量方法，幅相接收机把AUT收到的信号耦合回来进行幅度相位测量,把测量数据传输给PC，完成数据处理和测量最终结果输出；在天线近场测量中，扫描控制器通过控制单刀双掷开关分时发送相位参考...
杨顺平杜艳何海丹
文献传递
一种天线阵列近场测试方法
本发明公开了一种天线阵列近场测试方法，通过对探头数据按照傅里叶变换的频移定理进行移相，然后对采样信号进行合成，得到被测天线的远场方向图，由于不再进行傅立叶变换的插值，可以在天线辐射近场实现天线远场特性的测试和模拟，利用该...
杨顺平李路同雷培林何海丹杜艳袁立
多端口T/R组件的单通道噪声系数测试方法被引量：1
2016年
多端口T/R组件输出端口的噪声由各个通道共同决定,要测试单独通道的噪声系数非常困难。提出了一种基于衰减器改变的多端口TR组件单通道噪声系数测试方法,消除了其他通道的噪声影响,实现了对单独通道噪声系数的测试。通过测试一个8通道T/R组件的各个通道噪声系数,与单独通道测试结果进行了对比,两种方法测试结果最大差异为0.08 d B,验证了该方法可以很准确地测量多端口网络的单通道噪声系数。
杨顺平杜艳周太富
关键词：相控阵T/R组件多端口
大型相控阵天线阵面远场校正方法被引量：5
2018年
对于校准精度要求特别高的天线,通常采用内校准方式或近场测试进行校准。但是,内校准方式大多只能测到TR校准系数,无法做到阵面补偿,而近场测量对测试系统要求较高,对大型天线的测试建设成本高,计算时间也较长。针对以上问题,提出了一种解决方法,即在远场条件下,按照矢量平均算法改变各馈电支路的相位构成方程组,代入测量结果解算方程组,得到每个阵元通道的幅度相位分布,进而实现天线阵面的校准,对大型天线阵面校准具有重要意义。
杜艳
关键词：大型天线相控阵
相控阵天线它元矢量旋转校准方法
本发明公开的一种相控阵天线它元矢量旋转校准方法，旨在提供一种实际幅相值测试精度高，能够有效避免移相状态重复带入误差的校准方法。本发明可以通过下述方案予以实现：设一个N单元的相控阵天线和它元矢量旋转校准系统，校准时，将上述...
杨顺平杜艳何海丹张凯刘伟
基于近场测试的自参考算法被引量：1
2019年
对于集成度高的天线,必须采用一定的算法才能实现对各个通道的幅度和相位信息准确有效的检测,而现有常见的算法(包括近场校准、FFT算法等)都需要获得相位信息,因此需要天线对测试提供参考通道。这与天线高集成度相悖,也对天线的设计,特别是共形天线的设计提出了更高要求。为解决传统算法依赖参考通道提供参考相位的问题,并针对高集成度天线常用的近场扫描测试系统,设计了自参考算法的解决方案并进行验证。试验表明,采用自参考测试算法进行近场测试的测试结果与传统带独立参考通道的近场测量系统测试结果高度吻合。此外,采用自参考测试算法,不需要单独的参考通道,适用于高集成一体化天线的近场测试,对于已装机的天线现场测试排故具有重要意义。
杜艳杨顺平
关键词：近场测试高集成度相控阵
相控阵天线单元特性近场测量方法
本发明提出的一种相控阵天线单元幅相特性近场测量方法，旨在提供一种能够在所有单元同时工作时测量独立的单元的方向图及其口面近场的近场测量方法。本发明通过下述技术方案予以实现：选择一个被测相控阵天线AUT，用一个相连电脑PC和...
杜艳何海丹曾浩何庆强杨顺平
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