康锡娥
- 作品数：12 被引量：13H指数：3
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- 一种运算放大器电路失调电压测试方法
- 本发明涉及一种运算放大器电路失调电压测试方法，运算放大器电路有两个输入端，两个电源端，一个输出端，只要满足上述条件的时候，就可以将器件的整体电平同时增加或者减小相同的电压，而对于运算放大器来讲，什么都没有变化。可以对运算...
- 康锡娥薛宏
- 文献传递
- 多管芯器件热阻测试方法
- 一种多管芯器件热阻测试方法，包括：步骤S1.对N个管芯中的第i管芯通热电流，使多管芯器件发热至热平衡状态，再分别对所有管芯通测试电流，测得此时所有管芯各自的第i结壳热阻R<Sub>i1</Sub>～R<Sub>iN</S...
- 唐冬康锡娥刘旸孙曦东徐衡白羽刘剑
- 共阴极肖特基二极管热阻测试方法研究
- 2017年
- 以共阴极肖特基二极管为研究对象,开展单管芯热阻和双管芯热阻测试研究。通过对共阴极二极管的简单介绍,引入传统热阻测试、有限元仿真、热阻矩阵三种方式,进行相同测试条件下的稳态热阻测试,发现传统热阻忽略了热源之间的热耦合,因此传统热阻测试方法不适合于双管芯稳态热阻测试。采用ANSYS 17.0数值模拟方法,对单管芯和双管芯稳态热阻进行仿真,仿真结果验证了热阻矩阵测试双管芯热阻的准确性。从而得出采用热阻矩阵方法进行多热源器件稳态热阻测试是合适的。
- 康锡娥
- 关键词：热阻测试有限元仿真热源
- 多管芯器件热阻测试方法
- 一种多管芯器件热阻测试方法，包括：步骤S1.对N个管芯中的第i管芯通热电流，使多管芯器件发热至热平衡状态，再分别对所有管芯通测试电流，测得此时所有管芯各自的第i结壳热阻R<Sub>i1</Sub>～R<Sub>iN</S...
- 唐冬康锡娥刘旸孙曦东徐衡白羽刘剑
- 文献传递
- 数字电路测试程序设计被引量：3
- 2013年
- 为了更好地满足生产质量要求,严格测试电路的全部功能及交直流参数是十分必要的。在多年测试实践基础上,文章提出了数字电路测试程序设计的概要。随着集成电路的集成度越来越高,功能更加强大,测试向量越来越大,测试时间也越来越长。为了降低测试成本,Teradyne J750测试系统以测试速度快的特点,顺应测试行业的发展,在行业中得到了广泛的应用。文中以74HC123芯片为例,对于一些数字电路关键测试技术在Teradyne J750测试机上的调试做出了较详细的阐述。
- 刘珊珊康锡娥
- 关键词：测试向量
- 提高集成电路中测效率的方法研究被引量：1
- 2010年
- 从探针卡、测试设备、集成电路测试程序等几个不同的方面,在理论基础上结合实际工作中遇到的问题提出采取的有效解决方法,再针对不同的测试方法进行比较,从而达到提高集成电路中测效率的目的。
- 康锡娥刘珊珊
- 关键词：探针卡测试设备测试程序
- 功率MOSFET器件稳态热阻测试原理及影响因素被引量：5
- 2015年
- 热阻值是评判功率MOSFET器件热性能优劣的重要参数,因此热阻测试至关重要。通过对红外线扫描、液晶示温法、标准电学法3种热阻测试方法比较其优缺点,总结出标准电学法测试比较适合MOSFET热阻测试。在此基础上依据热阻测试系统Phase11,阐述功率MOSFET热阻测试原理,并着重通过实例对标准电学法测试热阻的影响因素测试电流Im、校准系数K、参考结温Tj以及测试夹具进行了具体分析,总结出减少热阻测试误差的方法,为热阻的精确测试以及器件测试标准的制定提供依据。
- 康锡娥
- 关键词：测试夹具
- 浅谈存储器测试
- 2008年
- 随着半导体存储器向多品种、高速和高集成化等方向发展,测试问题显得越来越突出和重要。下面主要介绍了存储器电路的分类,以及存储器电路的测试参数和测试向量。
- 刘珊珊康锡娥马菲
- 关键词：存储器测试向量
- 抗辐照试验装置
- 本申请提供了一种抗辐照试验装置，包括壳体、操作面板、固定电压源和可调电压源，固定电压源和可调电压源分别具有开关装置和设置在操作面板上的能够与试验器件电连接形成回路的接线端子，与可调电压源连接的电压源调节装置，用于显示所述...
- 王怀荣康锡娥王安邦张文涛王磊
- 文献传递
- 功率MOSFET非钳位感性开关测试方法的研究被引量：4
- 2015年
- 本文通过讲述UIS的测试原理,得出雪崩计算公式,着重对目前两种不同模式的测试方法,从测试原理上进行比对,总结两种模式下的特点。
- 康锡娥郜月兰
- 关键词：雪崩
