周红 作品数:7 被引量:0 H指数:0 供职机构: 武汉数字工程研究所 更多>> 相关领域: 电子电信 兵器科学与技术 军事 自动化与计算机技术 更多>>
I_(DDQ)测试方法的研究与实现 2000年 I_(DDQ)测试是当前倍受国内外业界人士关注的一种新的CMOS集成电路测试方法和技术。这种测试是在多种输入逻辑条件下测试CMOS电路的静态电源电流参数值,它可以有效地检测出早期失效器件。I_(DDQ)测试的关键技术是测试向量自动生成及高效的测试实现技术。围绕这两大课题,本文提出了一种基于ITS9000测试系统的功能I_(DDQ)测试方法和技术,并在ITS9000上进行了测试试验。实践表明,这种功能I_(DDQ)测试方法,可以自动生成测试向量集和测试程序,测试效率高,测量结果精确,测试操作简便易行。 吴丹 石坚 周红VLSI测试向量自动生成工具(TGtool)的研制 2000年 本文主要介绍了VLSI测试向量自动生成工具(TGtool)的原理、结构和实现方法。 韩宏星 石坚 周红关键词:VLSI 测试技术 测试程序 集成电路 基于微电子器件的武器装备支持保障系统综述 本文重点讨论了基于微电子器件的武器装备支持保障系统的基本概况,重点描述了七大模块的功能及关系。可供有关人员参考。 王鲁宁 沈森祖 周红 肖莹关键词:微电子 武器装备 支持保障系统 文献传递 数字集成电路参数测试能力验证计划的设计与实现 2010年 为了解国防科技工业实验室集成电路测试能力的整体水平,国防科技工业实验室认可委员会组织实施了数字集成电路参数测试能力验证工作。航天、航空、船舶、电子等行业和部队的20个实验室参加了此次能力验证活动,推荐的方法为:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理、Texas Data bookSN54LS32J数据手册。结果显示:实验室满意结果率为79%。此次能力验证活动为国防工业检测校准实验室提供了数字集成电路参数测量一致性的比较平台并为实验室认可评审提供依据。 周红 陈春玲 章婷 肖莹关键词:数字集成电路 参数测试 TTL电路 舰船微电子器件老化筛选技术研究 本文主要描述了舰船通用微电子器件的老化筛选技术。具体包括常温初测、低温测试、高温测试、高低温冲击、动态老化、高温存储、检漏和常温终测等。 周红 沈森祖 王鲁宁关键词:微电子器件 舰船 文献传递 常态和三态真值表的一体化设计技术 1996年 具有三态特性的器件十分普遍。对三态器件的三态特性的测试也越来越显得重要。但是在通常的测试程序设计中存在着这样一个缺点:常态真值表(又称测试向量)和三态真值表总是分开设计的,并且常态真值表只用于常态测试,三态真值表只用于三态测试。因此真值表和程序都显得冗长。本文介绍的一种真值表的设计方法是一种崭新的一体化设计方法。用这种方法设计的真值表不仅适用于常态测试,同时也适用于三态测试。因而具有形式简便,逻辑性强,测试完整等优点。这种方法原则上适用于任何三态器件的真值表设计和测试程序设计。 周红 沈森祖关键词:程序设计 真值表 微电子计量测试的质量保证方法研究 在测试硬件一定前提下,微电子参数计量测试程序本身的质量高低,直接影响到测试结果的质量水平。本文主要讨论了在微电子参数的计量测试程序开发、使用过程中的质量保证方法。可供有关人员参考。 周红 肖莹 沈森祖关键词:微电子 文献传递