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侯建国

作品数:5 被引量:4H指数:1
供职机构:中国科学院福建物质结构研究所更多>>
相关领域:理学电子电信更多>>

文献类型

  • 3篇期刊文章
  • 2篇专利

领域

  • 2篇理学
  • 1篇电子电信

主题

  • 2篇电子学
  • 2篇制样
  • 2篇散射
  • 2篇中位
  • 2篇位错
  • 2篇无损检测
  • 2篇亮度
  • 2篇晶体
  • 2篇光电
  • 2篇光电子
  • 2篇光电子学
  • 2篇光散射
  • 2篇高亮
  • 2篇高亮度
  • 2篇
  • 2篇层析
  • 1篇晶化
  • 1篇晶化过程
  • 1篇计算机
  • 1篇计算机模拟

机构

  • 5篇中国科学院福...
  • 1篇中国科学技术...

作者

  • 5篇侯建国
  • 4篇谭奇光
  • 1篇毛宏伟
  • 1篇吴自勤

传媒

  • 1篇物理学报
  • 1篇硅酸盐学报
  • 1篇人工晶体学报

年份

  • 1篇1997
  • 3篇1992
  • 1篇1990
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
BBO晶体中位错的研究
1992年
位错是BBO晶体中的主要缺陷。用λ=532nm的Q开关Nd:YAG的SHG(Second Harmonics Generation)为光源的LST法(Light Scattering Tomography),可以无损地观测晶体中的位错形态。BBO晶体中的位错形态为空间型的麻绳花样的三维网络。位错线上级饰有许多外来杂质。
谭奇光毛宏伟侯建国
关键词:位错
BBO 晶体中位错的无损观察被引量:1
1992年
用λ=532nm 的 Q 开关 Nd:YAG 的 SHG 光束为光源的光散射层析法,可以无损地观测BBO 晶体中位错的形态。适当地选择入射光束的直径和方向,可以看到衬度很好的 Frank—Read位错圈和三维 Frank 网络。为 BBO 晶体生长工艺及缺陷研究提供了一种有效的手法。
谭奇光侯建国
关键词:光学晶体位错
透明材料无损检测的光散射层析术及其装置
适于材料科学和光电子学领域的透明材料无损检测的光散射层析术(简称LST法)及其装置,用高亮度的激光束(如调Q—YAG的SHG激光束)作入射光源,利用Tyndall现象,为透明材料的无损检测提供更高精度更为方便而适用的观察...
谭奇光侯建国
文献传递
a-Ge/Au双层膜分形过程的计算机模拟被引量:3
1990年
从实验观察结果出发,提出与传统扩散控制聚集(DLA)模型不同的分形生长模型,用Monte-Carlo方法模拟了具有不同界面结构的a-Ge/Au双层膜在晶化过程的分形行为,得到了和实验结果相符合的分形结构。结果表明:在a-Ge/Au双层膜的退火过程中,由非晶晶化潜热形成的局域温度场在分形过程中起主要作用;密集分枝结构的出现是由粒子扩散的局域性引起的;模拟结果还表明DLA形态的分形结构也可以在粒子扩散距离相对短的条件下获得。
侯建国毕岭松吴自勤
关键词:晶化过程计算机模拟
透明材料无损检测的光散射层析术及其装置
适于材料科学和光电子学领域的透明材料无损检测的光散射层析术(简称LST法)及其装置,用高亮度的激光束(如调Q-YAG的SHG激光束)作入射光源,利用Tyndall现象,为透明材料的无损检测提供更高精度更为方便而适用的观察...
谭奇光侯建国
文献传递
共1页<1>
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