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天水长城电工合金材料厂

作品数：19 被引量：15H指数：3
相关作者：李炳荣何鸣高峰冯志龙王胜更多>>
相关机构：机械工业部上海电器科学研究所桂林电器科学研究所机械工业部桂林电器科学研究所更多>>
相关领域：电气工程历史地理一般工业技术金属学及工艺更多>>

合作机构

文献类型

  • 11篇期刊文章
  • 8篇标准

领域

  • 7篇电气工程
  • 7篇历史地理
  • 3篇金属学及工艺
  • 3篇一般工业技术
  • 1篇经济管理
  • 1篇冶金工程
  • 1篇语言文字

主题

  • 13篇触头
  • 10篇触头材料
  • 5篇电触头
  • 5篇电工
  • 5篇电工材料
  • 5篇铜
  • 5篇银
  • 4篇电触头材料
  • 4篇碳化钨
  • 4篇化学分析方法
  • 3篇电器
  • 3篇钨
  • 2篇氧化锌
  • 2篇真空触头
  • 2篇真空触头材料
  • 2篇真空开关
  • 2篇真空开关触头...
  • 2篇开关
  • 2篇开关触头
  • 2篇冷挤

机构

  • 19篇天水长城电工...
  • 2篇机械工业部上...
  • 1篇机械工业部桂...
  • 1篇桂林电器科学...

作者

  • 2篇李炳荣
  • 1篇李应红
  • 1篇陈世俊
  • 1篇王胜
  • 1篇王胜
  • 1篇冯志龙
  • 1篇高峰
  • 1篇何鸣

传媒

  • 5篇甘肃电器技术
  • 3篇机械研究与应...
  • 2篇电工合金
  • 1篇当代教育与文...

年份

  • 5篇1997
  • 4篇1996
  • 7篇1995
  • 2篇1994
  • 1篇1992
共 19 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
特殊CuW70/Fe触头烧结缺陷的消除
1994年
针对特殊CuW70／Fe触头随Fe基中Fe孔位置不同，Fe孔中的Cu会形成缺陷的问题，进行了试验及计算，结果表明：由于Cu液对Fe基体的润湿造成Fe孔中Cu量的减少，以及Cu液表面张力的作用，共同导致了缺陷的形成。理论计算与实验应符合得很好。通过改进工艺，最终消除了缺陷．
王胜
银碳化钨电触头材料化学分析方法.丁二酮肟发光光度法测定镍量
本标准规定了银碳化钨电触头材料中镍量的测定方法。 本标准适用于银碳化钨电触头材料中镍量的测定。测定范围；0.50%～2.00%。
关键词：电工材料电触头
文献传递
银氧化镉电触头材料化学分析方法.硫脲分光光度法测定铋量
本标准规定了银氧化镉电触头材料中铋量的测定方法。 本标准适用于银氧化镉电触头材料中铋量的测定。测定范围：0.05%～0.50%。
关键词：电触头银氧化镉
文献传递
真空还原铬粉的热力学分析
1996年
分析了铬粉还原的热力学条件，总结出热碳还原可以有效地降低铬粉中的氧含量，还原过程中采用适当的ＣＯ／ＣＯ２比，可抑制碳化物的生成。
王胜
关键词：铬热力学分析
大尺寸银／铜铆钉式触头制造工艺研究
1996年
本文论述大尺寸银／铜铆钉式触头的两种制造方法及其对结构，性能的影响，指出轧焊成形试样比钎焊成形试样有更为优良的性能。轧焊成形试样复层硬度高，整体电阻率较低，复合面结合强度τｂ达２０ｋｇｆ／ｍｍ＾２，热稳定性优异，是一种理想的制造方法。
廖乐安王永第
关键词：电器银铜触头
真空开关触头材料的开发现状与进展(续)被引量：3
1997年
真空开关触头材料的开发现状与进展（续）李炳荣（天水长城电工合金材料厂天水７４１０００）２．３铜铬触头材料Ｃｕ—Ｃｒ触头材料是七十年代中期由美国西屋、英国ＥＥＣ公司率先研制成功的新型真空触头材料。近几年国内在借鉴引进技术的基础上，也得到了迅速的发展。Ｃ...
李炳荣
关键词：真空开关触头材料铜铬合金
铜钨碳化钨真空触头材料化学分析方法.碘法测定铜量
本标准规定了铜钨碳化钨真空触头材料中铜量的测定方法。 本标准适用于铜钨碳化钨真空触头材料中铜量的测定,测定范围。15.00%～55.00%。
关键词：真空触头电工材料
文献传递
铜钨—铜触头冷挤压撕裂问题的解决
1996年
该文通过对冷挤压过程的研究，提出了解决铜钨—铜触头冷挤压撕裂问题的方法。
陈世俊
关键词：冷挤压触头电器
铆钉电触点终镦模加工工艺
1997年
本文介绍了铆钉电触点头部成形的重要模具－整体式合金钢终镦模的冷挤压加工工艺，分析了失效原因，总结了提高其使用寿命的综合措施。
吕声成
关键词：低压电器冷挤压
扩散处理对银氧化锌触头材料组织缺陷的影响被引量：3
1995年
本文从铸锭出发，指出枝晶偏析是影响银氧化锌电触头材料组织不均匀性的因素之一，并通过扩散方程的计算指出这一缺陷通过扩散处理消除的可能性，给出银辞（6．4）较佳的处理参数是1023K＋8h＋氮气。
王永第何鸣关林长
关键词：枝晶偏析触头
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共2页<12>
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