中国电子科技集团第五十八研究所
- 作品数：3,350 被引量：2,343H指数：14
- 相关作者：魏敬和洪根深刘国柱肖培磊宣志斌更多>>
- 相关机构：江南大学无锡中微亿芯有限公司电子科技大学更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金江苏省自然科学基金国家科技重大专项更多>>
- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术电气工程经济管理更多>>
- 一种基于PWM斩波技术的比例电磁阀恒流控制电路
- 本实用新型公开一种基于PWM斩波技术的比例电磁阀恒流控制电路，属于集成电路领域，包括DSP主控器、MOS管驱动电路、MOS管、比例阀线圈、采样电阻、采样调理电路和续流二极管；DSP主控器集成有PWM控制模块与AD采集模块...
- 吴松孙晓冬顾林
- 一种基于经验共振分解的倒装芯片缺陷检测方法及系统
- 本发明涉及倒装芯片缺陷检测技术领域，尤其是指一种基于经验共振分解的倒装芯片缺陷检测方法及系统，包括：获取不同的倒装焊点缺陷类别的样本芯片及样本芯片的振动信号；基于经验共振分解算法对样本芯片的振动信号的傅里叶频谱进行分割，...
- 李可宿磊明雪飞于成昊顾杰斐赵新维王刚李杨吉勇周秀峰
- 一种基于状态跳转的处理器power控制系统
- 本发明涉及集成电路功耗技术领域，特别涉及一种基于状态跳转的处理器power控制系统。包括：power控制状态机模块，用于控制产生时钟打开和关断信号stop_clk_n，复位和复位释放控制信号pwr_reset_n，处理器...
- 韩子奇邵健胡鹏孙维东罗庆
- 一种高频高速的芯片封装联合设计方法
- 本发明涉及射频集成电路技术领域，特别涉及一种高频高速的芯片封装联合设计方法，可用于指导系统级电路的匹配优化设计。包括如下：步骤一：集成电路封装建模：使用LGA_package封装模块对LNA芯片开展系统级封装建模工作；其...
- 孙文俊张礼怿秦战明张斌汪柏康
- 一种基于机器视觉的高空抛物检测识别方法及系统
- 本发明公开一种基于机器视觉的高空抛物检测识别方法及系统，使用监控视频图像前10～100帧初始化高斯混合模型进行背景建模；使用高斯混合模型，预测出每一个像素属于前景还是背景，得到前景中潜在的运动目标，并更新高斯混合模型；根...
- 章琦程虎朱鸿泰张俊吕璐
- 文献传递
- 一种用于多通道ADC的时钟相位失配校准电路
- 本发明提供了一种用于多通道ADC的时钟相位失配校准电路，属于集成电路技术领域。所述用于多通道ADC的时钟相位失配校准电路，包括时钟接收电路、时钟占空比稳定电路、时钟驱动电路、M个延迟电路、M个多相时钟产生电路、M个时钟等...
- 魏敬和陈珍海侯丽苏小波薛颜王淑芬邵键于宗光
- 文献传递
- 抗辐射PIP型ONO反熔丝结构及CMOS工艺集成法
- 本发明涉及抗辐射PIP型ONO反熔丝结构及CMOS工艺集成法，ONO反熔丝结构制作在场区之上；由下至上包括反熔丝下极板、反熔丝孔腐蚀掩蔽层、ONO反熔丝介质层、反熔丝上极板，反熔丝下极板为N型饱和掺杂的非晶硅薄膜，覆盖于...
- 刘国柱洪根深赵文斌吴建伟朱少立徐静刘佰清
- 文献传递
- 一种精确测量MOSFET晶圆导通电阻的方法被引量：4
- 2014年
- 导通电阻的准确测量是低导通电阻MOSFET晶圆测试中的一个难点。要实现毫欧级导通电阻的测试,必须用开尔文测试法;但实际的MOSFET晶圆表面只有两个电极(G、S),另外一个电极(D)在圆片的背面,通常只能将开尔文的短接点接在承载圆片的吸盘边缘,无法做到真正的开尔文连接,由于吸盘接触电阻无法补偿而且变化没有规律,导致导通电阻无法精确测量。介绍了一种借用临近管芯实现真正开尔文测试的方法,可以实现MOSFET晶圆毫欧级导通电阻准确稳定的测量。
- 顾汉玉武乾文
- 关键词：MOS管导通电阻自动测试设备晶圆测试管芯
- 用于存储器电路的ONO结构特性研究
- 2008年
- 为研究存储器的多晶间介质采用ONO(Oxide-Nitride-Oxide)结构的基本特性,从ONO叠层的工作原理和它在器件制作中的工艺结构出发,设计了采用ONO结构存储器的模拟实验,对不同工艺条件下的ONO叠层作对比实验,通过ONO叠层的I-V曲线、漏电流、击穿场强和电荷保持特性的测试及分析,研究了不同生长条件对ONO结构的影响程度,获得了最优的ONO叠层制作条件,为存储器的设计和工艺控制提供了参考。
- 吴晓鸫周川淼
- 关键词：IPD
- 一种基于JTAG接口的SIP测试调试系统设计技术被引量：8
- 2018年
- 随着系统级封装（SIP）的内部器件数量和规模的不断增长,SIP内部器件的可测性、可调试性以及SIP后的可靠性问题变得越来越突出。当SIP器件在使用过程中出现问题,进行无损测试定位的难度也越来越大。为此,针对一款集成了片上系统（SOC）、一片四通道模拟数字转换器（ADC）、两片两通道数字模拟转换器（DAC）和多个无源器件的SIP系统,开发了基于联合测试行动组（JTAG）接口的能复用中央处理器（CPU）调试软件的SIP测试调试技术。该技术通过复用SOC自有的JTAG引脚,实现对SIP内各个器件的测试。编写了基于Lab View软件的图形化测试程序,提高了测试效率。测试结果表明,设计的SIP测试调试系统能够完好地复用CPU的调试软件并完成测试工作,满足设计要求和测试调试需求,为后续集成更多器件的SIP测试奠定了良好的技术基础。
- 杨亮于宗光魏敬和
- 关键词：LABVIEW软件
