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结构测试生成中被测电路描述文件转换方法研究: 2014年; 自动测试向量生成技术是对数字集成电路的结构进行测试并能对故障进行定位的先进测试方法.针对普通研究人员无法有效利用现有测试生成软件的问题,提出了基于Windows操作系统的数字集成电路测试生成平台.为了使计算机能够识别被测电路的结构并自动生成测试向量,重点研究了将常用的bench格式描述文件转换为lev格式网表文件的方法,分析了文件转化算法以及相关的电路级数和可测性算法,给出了实现这些算法的软件流程.最后,利用所提出的算法成功地对C17,C432等11个组合基准电路文件进行了转换,并且将形成的lev文件应用于自动测试向量生成中,证明了程序的正确性.; 王康谊; 关键词：数字集成电路

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山西省回国留学人员科研经费资助项目(2011-072)