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国家重点实验室开放基金(9140C0903050605)

作品数:1 被引量:1H指数:1
相关作者:李肇基罗小蓉更多>>
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相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇自热效应
  • 1篇纵向电场
  • 1篇埋层
  • 1篇击穿电压
  • 1篇高压功率器件
  • 1篇功率器件
  • 1篇SOI

机构

  • 1篇电子科技大学

作者

  • 1篇罗小蓉
  • 1篇李肇基

传媒

  • 1篇Journa...

年份

  • 1篇2006
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
高散热变k介质埋层SOI高压功率器件被引量:1
2006年
针对常规SOI器件纵向耐压低和自热效应两个主要问题,提出了变k介质埋层SOI(variablekdielectricburiedlayerSOI,VkDSOI)高压功率器件新结构.该结构在高电场的漏端采用低k介质以增强埋层电场,在高电流密度的源端附近采用高热导率的氮化硅埋层,从而器件兼具耐高压和降低自热效应的优点.结果表明,对于k1=2,k2=7·5(Si3N4),漂移区厚2μm,埋层厚1μm的器件,埋层电场和器件耐压分别达212V/μm和255V,比相同厚度的常规SOI器件的埋层电场和耐压分别提高66%和43%,最高温度降低52%.
罗小蓉李肇基张波
关键词:SOI纵向电场击穿电压自热效应
共1页<1>
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