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国家自然科学基金(60976010)

作品数:6 被引量:9H指数:2
相关作者:杜国同夏晓川宋世巍柳阳梁红伟更多>>
相关机构:大连理工大学吉林大学中国科学院更多>>
发文基金:国家自然科学基金国家教育部博士点基金国家高技术研究发展计划更多>>
相关领域:理学电子电信更多>>

文献类型

  • 6篇中文期刊文章

领域

  • 4篇理学
  • 3篇电子电信

主题

  • 2篇英文
  • 2篇发光
  • 2篇LED
  • 1篇电致发光
  • 1篇电致发光性能
  • 1篇异质结
  • 1篇异质结器件
  • 1篇应力
  • 1篇应力弛豫
  • 1篇应力和
  • 1篇特性分析
  • 1篇透过率
  • 1篇绿光
  • 1篇绿光LED
  • 1篇金属有机化学...
  • 1篇化学气相
  • 1篇化学气相沉积
  • 1篇发光性
  • 1篇发光性能
  • 1篇NIO

机构

  • 5篇大连理工大学
  • 5篇吉林大学
  • 3篇中国科学院
  • 1篇河南科技大学
  • 1篇浙江水晶光电...

作者

  • 5篇杜国同
  • 4篇夏晓川
  • 3篇梁红伟
  • 3篇柳阳
  • 3篇宋世巍
  • 2篇张克雄
  • 2篇申人升
  • 2篇王瑾
  • 2篇史志锋
  • 2篇董鑫
  • 2篇杨德超
  • 1篇张金香
  • 1篇赵洋
  • 1篇夏小川
  • 1篇邱宇
  • 1篇蔡旭浦
  • 1篇赵龙
  • 1篇张宝林
  • 1篇伍斌
  • 1篇马艳

传媒

  • 4篇发光学报
  • 1篇高等学校化学...
  • 1篇Chines...

年份

  • 3篇2013
  • 2篇2012
  • 1篇2011
6 条 记 录,以下是 1-6
排序方式:
MOCVD法制备的p-ZnO/n-SiC异质结器件及其电致发光性能被引量:2
2012年
采用光辅助金属有机化学汽相沉积(PA-MOCVD)法在n-SiC(6H)衬底上制备出As掺杂的p型ZnO薄膜,并制备出相应的p-ZnO∶As/n-SiC异质结器件。X射线衍射(XRD)和光致发光(PL)测试表明,ZnO薄膜具有较好的结构和光学特性。电流-电压(I-V)测试结果表明,该型异质结器件具有良好的整流特性,开启电压为5.0 V,反向击穿电压约为-13 V。正向偏压下,器件的电致发光(EL)谱表现出两个分别位于紫外和可见光区域的发光峰,通过和ZnO、SiC的PL谱对照,证实异质结器件的发光峰来源于ZnO侧的辐射复合。
史志锋伍斌蔡旭浦张金香王辉王瑾夏晓川董鑫张宝林杜国同
关键词:电致发光
衬底弯曲度对GaN基LED芯片性能的影响
2013年
利用低压MOCVD系统在弯曲度值不同的蓝宝石衬底上生长了GaN基LED外延结构并制作芯片。测量了芯片的主要电学和光学参数,并分析了衬底弯曲度值对芯片性能的影响。分析结果表明:存在弯曲度的衬底预先弛豫了外延层中的部分应力,改善了外延层的质量,从而提高了LED芯片的性能。随着衬底弯曲度值的逐渐增加,下层GaN对有源层中InGaN材料的压应力作用不断减小,导致芯片的主波长逐渐发生蓝移。
杨德超梁红伟邱宇宋世巍申人升柳阳夏晓川俞振南杜国同
关键词:GANLED残余应力
Properties of p-NiO/n-GaN Diodes Fabricated by Magnetron Sputtering
2012年
The p-NiO thin film is prepared by radio frequency magnetron sputtering on the n-GaN/sapphire substrate to form p-NiO/n-GaN heterojunction diodes.The structural,optical and electrical properties of the p-NiO thin film are investigated.The results indicate that the NiO film has good crystal qualities and stable p-type conductivities.The current-voltage measurement of the p-NiO/n-GaN diode exhibits typical rectifying behaviour with a turn-on voltage of about 2.2 V.Under forward bias,a prominent ultraviolet emission centered at 375 nm is observed at room temperature.Furthermore,the mechanism of the light emission is discussed in terms of the band diagrams of the heterojunction in detail.
王辉张宝林吴国光武超史志锋赵洋王瑾马艳杜国同董鑫
关键词:HETEROJUNCTIONSAPPHIRE
低温插入层对绿光LED的发光影响(英文)
2013年
利用MOCVD技术在蓝宝石衬底上外延生长了具有低温插入层结构的绿光LED,研究了具有插入层结构的LED的发光特性。插入层的引入增加了In在量子阱中的并入,并且引起了波长红移。经过分析,认为是In的相分离和极化场带来的红移,且恶化了器件的性能。
宋世巍柳阳梁红伟夏小川张克雄杨德超杜国同
关键词:LED
SiN插入层对GaN外延膜应力和光学质量的影响(英文)被引量:3
2013年
研究了MOCVD系统中原位SiN插入层对GaN薄膜应力和光学性质的影响。采用SiN插入层后,GaN薄膜的裂纹数量大大减少,薄膜所承受的张应力得到了一定的释放。同时,GaN薄膜的缺陷密度降低一倍,晶体质量得到了极大的改善。研究表明,位错密度的降低在GaN薄膜中留存较大的残余应力,补偿了降温过程中所引入的张应力。同样,随着SiN插入层的应用,低温PL谱的半峰宽降低,薄膜光学质量提高。最后研究了PL谱发光峰与应力的关系,得到了一个-13.8的线性系数。
宋世巍梁红伟申人升柳阳张克雄夏晓川杜国同
关键词:SIN应力弛豫
金属有机化学气相沉积法制备ZnO和ZnO:Ni薄膜及其特性分析被引量:4
2011年
采用金属有机化学气相沉积法制备了ZnO和ZnO∶Ni薄膜,并对它们的结构、光学和电学特性进行了对比研究.通过扫描电子显微镜(SEM)和X射线衍射(XRD)对薄膜的表面形貌和晶体结构进行了分析,结果表明,Ni元素的掺杂虽然降低了薄膜的晶体质量,但并未改变ZnO的纤锌矿结构.通过紫外-可见分光光度计对薄膜的光学特性进行了测试与分析,结果表明,ZnO∶Ni薄膜在可见光区的平均透过率可达90%,优于ZnO薄膜在可见光区的平均透过率(85%).霍尔(Hall)测试显示ZnO∶Ni薄膜的导电类型仍为n型,但其电阻率已经明显增加,载流子浓度也远低于未掺杂ZnO薄膜的载流子浓度,说明Ni元素的掺杂对ZnO薄膜的特性产生了很大影响.
王辉王辉王瑾赵洋赵龙赵旺史志锋夏晓川马艳杜国同
关键词:ZNO薄膜金属有机化学气相沉积透过率
共1页<1>
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